微觀結(jié)構(gòu)研究-光學(xué)顯微鏡和電鏡結(jié)合起來應(yīng)用的好處

把光學(xué)顯微鏡和掃描電子顯微鏡結(jié)合起來應(yīng)用的好處。

  除了光學(xué)和電子顯微鏡之外，還使用了其它各種技術(shù)，
以展現(xiàn)形成剪切破裂之初的應(yīng)變集中情況。

初始結(jié)構(gòu)

  巖石中有多種開始就存在的微觀結(jié)構(gòu)特征，它們?cè)诖嘈孕再|(zhì)
方面蘊(yùn)含著極大意義。這些特征包括:品粒和孿晶邊界、不同類
型和不同方位的晶粒差別，最重要的是各種微空隙。在微空晾
中，首先要將“孔隙”和“微裂隙”加以區(qū)別妥這是有意義的

通常用光學(xué)儀器進(jìn)行研究的裂隙，可能在不同程度上是制備過程
中人為產(chǎn)生的，雖然在發(fā)生上往往可能與初始微裂隙有關(guān)，并因
而代表了初始結(jié)構(gòu)。在考慮受壓巖石上的觀測(cè)結(jié)果時(shí)，對(duì)一般光
儀器觀測(cè)結(jié)果所做的這一保留并不那么重要，因?yàn)槭芰ψ饔脮?huì)使許多
初始微裂隙增大到顯微鏡可見的大小。

  用掃描電子顯微鏡對(duì)原生巖石進(jìn)行觀察，揭示出微裂縫是多
種多樣和大量存在的

  細(xì)長(zhǎng)的裂縫一般是在晶粒的邊界上，其寬度小于1微米，長(zhǎng)
度約不大于晶粒大小的十分之一，即比先前所認(rèn)為的長(zhǎng)度小一個(gè)
數(shù)最級(jí)。它們可能在晶粒邊.界上占據(jù)很大的比例，尤其是在花崗
巖中是如此。輝綠巖和輝長(zhǎng)巖的晶粒邊界上幾乎沒有裂隙，而且
這些巖石實(shí)際上確是很少含有微裂縫。裂晾狀的裂縫在晶粒中很
稀少，與(前面所述的)一般光學(xué)儀器研究所報(bào)道的裂隙比較豐
富的情況相反，在石英中只是偶然才能見到裂隙。但在一些具有
良好解理的礦物，如云母和長(zhǎng)石中則略有所見。

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