技術(shù)參數(shù)：

DJH Crater Film Thick System測(cè)厚儀



DJH 公司由Doug Henderson于1989年9月于加拿大安大略湖創(chuàng)建。由于DJH的能力，設(shè)計(jì)及提供的解決客戶應(yīng)用的方案以及質(zhì)量及設(shè)計(jì)上的創(chuàng)新非常適合客戶的需求，公司的知名度得到迅速提高。

在1991 年4月，卷涂行業(yè)問DJH 能否提供一種較好的解決方案來(lái)測(cè)定涂層的厚度，在1991年7月第一個(gè)原型被制成成品并在客戶處進(jìn)行測(cè)試。該儀器很快就被作為他們生產(chǎn)線上及實(shí)驗(yàn)室中的一種標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行實(shí)施，在經(jīng)過(guò)多次的外觀改進(jìn)及產(chǎn)品研發(fā)后，該膜厚度系統(tǒng)（現(xiàn)叫 彈坑 ）被介紹1992年10月在N.C.C.A舉行的卷圖工業(yè)貿(mào)易展，引起了巨大反響，DJH Designs 迅速成為干膜測(cè)試行業(yè)領(lǐng)軍人物。1994年，DJH 向ASTM的一個(gè)代表提供關(guān)于它的一些細(xì)節(jié)信息及原理。1996年1月，DJH 測(cè)厚儀最終成為ASTM D5796-95 指定的ASTM 干膜測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

主要特點(diǎn)：

ASTM D 5796指定用測(cè)厚儀

卷涂行業(yè)推薦用測(cè)厚儀

一種全功能的干膜厚度測(cè)量?jī)x

適用范圍廣，可用于實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制

試驗(yàn)結(jié)果重復(fù)性高

環(huán)保，不會(huì)產(chǎn)生污染環(huán)境的溶劑或其它污染物

低成本維護(hù)

測(cè)量速度快，測(cè)量結(jié)果精確

同時(shí)可以讀取底漆、彩色涂層和外部清層的厚度

通過(guò)使用不同的碳化鉆頭可以測(cè)量厚度較大的干膜厚度（例如大于 2mm ）

光學(xué)視頻系統(tǒng)還可用于不同的目的 (如測(cè)量底層表面的缺陷和涂膜缺陷等)