掃描電鏡一能譜儀分析

  近年來(lái)，隨著X射線能譜儀的發(fā)展，以及與掃描電鏡聯(lián)機(jī)技術(shù)
的成熟，該項(xiàng)技術(shù)的應(yīng)用范圍越來(lái)越廣，而對(duì)涂料的檢驗(yàn)，
更是充分發(fā)揮這一分析手段的成功范例

掃描電鏡(SEM )/能譜儀(EDX)

由于SEM具有更高的分辨率和更大的景深，以及EDX的快速、
微區(qū)、微量測(cè)定元素成分的特點(diǎn)，
使得SEM/EDX聯(lián)機(jī)技術(shù)綜合了以上兩種儀器的優(yōu)點(diǎn)，并互相取長(zhǎng)
補(bǔ)短，顯出強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合的優(yōu)勢(shì)，特點(diǎn)為:

(1)要求的樣品量少，立體顯微鏡下可見(jiàn)就夠，
  且不破壞檢材，屬無(wú)損檢驗(yàn);

(2)在觀察樣品微觀形態(tài)特征的同時(shí)，可測(cè)定
  其微區(qū)元素成分及含量，即同時(shí)得到視野中微粒的元素成分;

(3)定性準(zhǔn)確，可區(qū)分兩個(gè)相似檢材。

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