3月8日，日立高新技術(shù)集團(tuán)在原有的AFM系列原子力顯微鏡產(chǎn)品線的基礎(chǔ)上，在全球重磅推出了AFM5500M型新一代原子力顯微鏡。這也是日立高新收購精工納米科技以來，又一款以技術(shù)整合來提供更全面解決方案的代表性產(chǎn)品。

　　該產(chǎn)品和原來的型號(hào)相比，新增了自動(dòng)探針更換和自動(dòng)光軸調(diào)整功能，掃描器和傳感器以及圖像化部采用了新技術(shù)，因此更加提高了測(cè)定精度和自動(dòng)化程度。此外，該產(chǎn)品還能和日立高新的經(jīng)典產(chǎn)品掃描電鏡通過共享坐標(biāo)的方式，實(shí)現(xiàn)觀察樣品的同樣位置的功能，為廣大用戶提供了更全面的解決方案。

AFM5500M 原子力顯微鏡

　　新研發(fā)的掃描儀和低噪聲三維傳感器可以實(shí)現(xiàn)高的測(cè)量準(zhǔn)確性。自動(dòng)懸臂加載和激光準(zhǔn)直功能進(jìn)一步增強(qiáng)其易用性。AFM5500M不僅吸引了納米尺度基礎(chǔ)研究的人員，而且還解決了工業(yè)儀表領(lǐng)域的需求。

　　SPM利用探針掃描樣品表面，同時(shí)執(zhí)行形貌以及其他材料特性的納米尺度的測(cè)量。鑒于電子設(shè)備、先進(jìn)性能材料和精密組件開發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)控等方面的發(fā)展，近年來對(duì)高分辨率SPM的需求顯著提高。相比之下，由于掃描參數(shù)優(yōu)化等技術(shù)的限制，傳統(tǒng)SPM需要高度熟練的操作者，而AFM5500M僅需一次點(diǎn)擊就可以進(jìn)行懸臂的改變，并開始測(cè)量。