因?yàn)殡娮觾x器產(chǎn)品的散熱條件與正常大氣條件不同?？梢钥闯?，在低壓條件下，輻射散熱的比例增加，對流散熱的比例減少。此外，由于大氣密度的降低，散熱產(chǎn)品周圍的介質(zhì)條件也會(huì)發(fā)生變化。在正常大氣條件下，低壓對電氣和電子產(chǎn)品的影響無法模擬，因此必須進(jìn)行低壓試驗(yàn)。

　　在我們考慮的高度范圍內(nèi)（小于3000米），空氣中分子的平均自由度范圍仍然很小，大氣仍然可以被視為連續(xù)介質(zhì)流體。在低壓條件下，空氣的流動(dòng)特性和熱力學(xué)特性在正常大氣條件下遵循相同的物理規(guī)律，但與正常大氣條件下的低壓條件相比，電氣和電子產(chǎn)品會(huì)受到不同的影響。

　　由于氣壓低，電子儀表產(chǎn)品的機(jī)電性能會(huì)受到很大影響，有時(shí)會(huì)對產(chǎn)品造成損壞。在正常大氣條件下，低壓環(huán)境條件對產(chǎn)品的影響無法模擬，必須按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試。只有這樣才能保證產(chǎn)品質(zhì)量。

　　星拓低壓試驗(yàn)箱

　　因此，我們必須加強(qiáng)環(huán)境條件測試的標(biāo)準(zhǔn)化，對產(chǎn)品進(jìn)行低壓測試，從電子儀器設(shè)計(jì)開始考慮環(huán)境變化對產(chǎn)品的影響，提高產(chǎn)品對環(huán)境的適應(yīng)性，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量。

　　廣東興拓生產(chǎn)的高空低壓試驗(yàn)箱可以在低壓、高溫、低溫或同時(shí)作用下模擬電子儀表產(chǎn)品的適應(yīng)性和可靠性試驗(yàn)，同時(shí)測量試件的電氣性能參數(shù)。