測粒度礦物的大顆粒與小顆粒特征計量圖像顯微鏡

  一般程序測量與標繪構造巖薄片在低倍鏡下看可以是不
均勻的。因此，象紋層、褶皺和斑狀變晶這樣的顯微域，應
當在顯微照片或素描上圈定，并把每個域的優(yōu)選方位資料單
獨記錄下來，對于的特殊意義的分析——例如，實驗變形材
料的分析，甚至應當對每個被測顆粒進行編號并記在照片上。

  如果巖石是不等粒的，通常在一個特定域中只測量其中
一部分顆粒。測量時常用的取樣方法是，在薄片上布一系列
平行的橫測線。這些測線要與緊貼滑動尺水平臂的薄片底邊
保持一致的方位。每條測線的位置要加以記錄，這分兩方面，
其一是記下滑動尺上的讀數(shù)；其二是把測線標在薄片的顯微
照片上。這樣來記錄在后來如果須要作補充測量時，可以再
布補充的中間測線，而不用擔心會與先前的測量資料重復。

  在粒度或測礦物的任一明顯特征出現(xiàn)顯著變化的情況下，
應當按不同的對應類型——大顆粒與小顆粒，霧狀顆粒與清
潔顆粒等等——分開記錄方位資料，這并不須要附加的工作
量，如果以后表明對應類型的方位資料在型式上一致，把分
開的記錄和標繪合起來就是了。

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