偏光顯微鏡研究組構(gòu)

  用偏光顯微鏡觀察由砂?；蚍哿４笮〉念w粒組成的土，可以從
薄片或磨面上看到單個(gè)土顆粒的大小、定向、顆粒分析和孔隙空
間，薄片和磨面只能用孔隙空間的平面分析，三維分析就需要用
若干個(gè)平等的剖面，偏光鏡下的攝像技術(shù)有助于對(duì)所研究的各種
組構(gòu)特征進(jìn)行鑒別，需要攝影的樣品，在置換土中孔隙水之前，

在中加入5%的蒽，所制成的樣品在很亮的紫外線下，孔隙呈現(xiàn)蘭
白色，在影印中孔隙為白色，粘土基質(zhì)呈黑色，大顆粒也呈黑色
，但在顆粒的四周有一圈白線，展示顆粒的輪廓。

  粘土礦物的晶軸總是和光軸重合，層狀礦物的折射率在a、b方
向是近似相等的，但在c方向則是不同，例如，在高嶺石中，在a
、b、c方向上的折射率分別為1.559-1.569，1.560-1.570，1.55
3-1.563.如果在平面偏振光中，從c軸觀察一組平等粘土顆粒群
，當(dāng)顆粒群沿c軸旋轉(zhuǎn)時(shí)，能觀察到均勻的視域；如果從垂直于c
軸觀察同一組平行粘土顆粒群，當(dāng)顆粒的基本晶面與偏振光的方
向平行時(shí)則光線透不過顆粒群，當(dāng)各基本晶面與偏振光的方向成

45度，將透過最亮的光量，因此，用通過正交尼科爾棱鏡的光進(jìn)
行觀察樣品，并把載物臺(tái)旋轉(zhuǎn)360°，將出現(xiàn)四個(gè)消光和發(fā)光的
位置，對(duì)于平行排列的棒狀顆粒，從長(zhǎng)軸方向能觀察到均勻的視
域，而發(fā)光和消光是在垂直于長(zhǎng)軸方向觀察到的，通常在顯微鏡
上加一塊調(diào)色鏡，利用光波的光程差可導(dǎo)致發(fā)光和消光的截然不
同的顏色。

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