土樣制備,土的組構(gòu)土的類型特征分析圖像顯微鏡

  用于偏光顯微鏡研究的薄片厚度為30微米，因此這種擾動(dòng)的影
響不大，對(duì)于x-射線衍射的研究，一微米的擾動(dòng)深度，影響也不
大。
  干燥樣品的破裂面有時(shí)也可以保持原組構(gòu)狀態(tài)，但破裂后需對(duì)
破裂表面輕輕地吹拂乾凈或?qū)Ρ砻孀鲃冸x處理，因?yàn)槠屏训臉悠?br>表面可能有松動(dòng)的顆粒，或者因?yàn)槠屏衙嫒菀自跇悠繁∪醪课煌?br>過(guò)而不能代表樣品的結(jié)構(gòu)特征。

  透射電子顯微鏡需要300-500A超薄片進(jìn)行觀察，這種超薄片是
用切片機(jī)來(lái)制備的，切片過(guò)程中如遇到粗顆粒將樣品的組構(gòu)產(chǎn)生
擾動(dòng)。

  土樣制備的方法主要取決于所研究土的組構(gòu)特征、觀察方法、
土的類型、含水量和強(qiáng)度等因素，根據(jù)以上這些因素就可選擇制
樣的方法和預(yù)估這種方法對(duì)測(cè)定結(jié)果的影響程度。

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