礦物樣品晶粒排列顯微構(gòu)造鑒定礦相圖像顯微鏡

  用光學顯微鏡或電子顯微鏡進行觀察或測量的變形巖石中的那
些透入性特征，這類特征構(gòu)成巖石的顯微組構(gòu)，它們包括了晶粒
間界變形條帶變形紋大小，形狀或成分相似的晶粒集合體和結(jié)晶
學方向。

  變形巖石顯微組構(gòu)研究的最終目的地于確立在這種尺度下所能
提供有關巖石力學和熱學歷史信息的那些特征。

  為了方便可以把顯微組構(gòu)的討論分為兩個互相重疊的部分：顯
微構(gòu)造和結(jié)晶優(yōu)勢方位，在巖石顯微構(gòu)造的研究中，涉及晶粒形
態(tài)，晶粒排列的方式，晶粒的內(nèi)部構(gòu)造如雙晶、變形紋等，在許
多地質(zhì)學教科書中顯微構(gòu)造這一術語稱為結(jié)構(gòu)，但是巖石組構(gòu)研
究的自然趨向是與材料科學學相連系，因為組構(gòu)一詞在金屬、陶
瓷的研究是指結(jié)晶的優(yōu)勢方位，在大理巖中方理石的垂直于面理
方向平行排列，以及橄欖巖中椰樹石的平等排列等都是常見的型
式。

  變形巖石的顯微構(gòu)造

  對變形巖石的顯微構(gòu)造曾有所論述，但迄今對許多常見顯微構(gòu)
造的準確含義仍了解甚少。

關于礦物和巖石的實驗工作的發(fā)表，有助于澄清這一局面，透射
電子顯微鏡的應用，對于某些特征的構(gòu)造細節(jié)才剛剛開始認識，
本節(jié)主要根據(jù)這一方面的地質(zhì)工作，雖然這是一些初步的工作，
特別是根據(jù)金屬方面的研究，為巖石顯微構(gòu)造的解釋提供了一個
概要。
  任何顯微構(gòu)造的了解，在很大程度上根據(jù)在變形過程中晶體缺
陷所起的作用，以及根據(jù)受巖石熱史所影響的缺陷排列的方式為
依據(jù)，

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