礦物樣品晶粒排列顯微構(gòu)造鑒定礦相圖像顯微鏡
用光學顯微鏡或電子顯微鏡進行觀察或測量的變形巖石中的那
些透入性特征,這類特征構(gòu)成巖石的顯微組構(gòu),它們包括了晶粒
間界變形條帶變形紋大小,形狀或成分相似的晶粒集合體和結(jié)晶
學方向。
變形巖石顯微組構(gòu)研究的最終目的地于確立在這種尺度下所能
提供有關巖石力學和熱學歷史信息的那些特征。
為了方便可以把顯微組構(gòu)的討論分為兩個互相重疊的部分:顯
微構(gòu)造和結(jié)晶優(yōu)勢方位,在巖石顯微構(gòu)造的研究中,涉及晶粒形
態(tài),晶粒排列的方式,晶粒的內(nèi)部構(gòu)造如雙晶、變形紋等,在許
多地質(zhì)學教科書中顯微構(gòu)造這一術語稱為結(jié)構(gòu),但是巖石組構(gòu)研
究的自然趨向是與材料科學學相連系,因為組構(gòu)一詞在金屬、陶
瓷的研究是指結(jié)晶的優(yōu)勢方位,在大理巖中方理石的垂直于面理
方向平行排列,以及橄欖巖中椰樹石的平等排列等都是常見的型
式。
變形巖石的顯微構(gòu)造
對變形巖石的顯微構(gòu)造曾有所論述,但迄今對許多常見顯微構(gòu)
造的準確含義仍了解甚少。
關于礦物和巖石的實驗工作的發(fā)表,有助于澄清這一局面,透射
電子顯微鏡的應用,對于某些特征的構(gòu)造細節(jié)才剛剛開始認識,
本節(jié)主要根據(jù)這一方面的地質(zhì)工作,雖然這是一些初步的工作,
特別是根據(jù)金屬方面的研究,為巖石顯微構(gòu)造的解釋提供了一個
概要。
任何顯微構(gòu)造的了解,在很大程度上根據(jù)在變形過程中晶體缺
陷所起的作用,以及根據(jù)受巖石熱史所影響的缺陷排列的方式為
依據(jù),
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