金相顯微鏡一般放大晶體精細(xì)結(jié)構(gòu)100-500倍進(jìn)行鑒定
透射式電子顯微鏡以具有波動(dòng)性在高速電子束為光源,電子束
的波長(zhǎng)隨加速電壓增高而縮短,現(xiàn)在常用 者為0.05埃左右,分
辨率可達(dá)4-8埃,放大倍率可達(dá)幾十萬(wàn)倍,這不僅有利于觀察顯
微組織的精細(xì)結(jié)構(gòu),而且還能通過(guò)電子衍射把結(jié)構(gòu)分析與形態(tài)觀
察結(jié)合起來(lái)。因而是一種極為主要的檢驗(yàn)身為,但由于電子束不
能穿透大塊金屬,而需要在試樣表面復(fù)制出透明薄膜,或?qū)⒃嚇?br>制備成極薄的試片,才能觀察,故制備試樣很麻煩,設(shè)備費(fèi)用也
較大,這就限制了更普遍的應(yīng)用。
掃描電子顯微鏡,是用聚得非常細(xì)的電子探針事不,在試樣表
面上逐點(diǎn)掃描,并把照射位置上發(fā)射出來(lái)的二次電子、反射電子
、吸收電子、透射電子、光子及x射線等信號(hào)檢測(cè)出來(lái)加以放大
,以此信號(hào)調(diào)節(jié)與電子探針事沒(méi)步掃描的陰極射線管上的亮度,
從而在陰極射線管的熒光屏上得到試樣的放大象。這樣可不必制
備復(fù)型,而直接觀察試樣表面,其景深很大,放大倍數(shù)可以從低
倍到高倍連續(xù)變化,利用其x射線分析裝置可進(jìn)行電子探針微區(qū)
成分分析,現(xiàn)有掃描電鏡的分辨紡低于透射式電鏡,一般約為20
0埃,好一些的可達(dá)100埃。
按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,一般檢驗(yàn)項(xiàng)目都在普通金相顯微鏡下放大100-50
0倍進(jìn)行評(píng)定,在一般情況下都采用明場(chǎng)照明,即來(lái)自光源的光
線,穿過(guò)物鏡垂直地照射在試樣表面上,然后反射回物鏡放大成
象,顯微組織中和平坦部分呈明亮區(qū)域,而凹凸不平的部分分別
因散射而成黑暗區(qū)域,暗場(chǎng)照明與此相反,入射光線不穿過(guò)物鏡
,而是以很大的角度斜射至試樣表面,使平坦部分呈一片黑暗,
而凹陷部分卻能將光線反射回物鏡呈明亮區(qū)域,借以觀察一些非
金屬夾雜物的透明度和顏色,有時(shí)也用偏振光來(lái)辨別晶體的各向
異性以及注銷(xiāo)和透明度,通過(guò)特殊轉(zhuǎn)動(dòng)載物臺(tái)觀察夾雜物時(shí),若
無(wú)明亮變化即為各向同性,若有明亮和消光的變化,則為各向異
性。
高倍檢驗(yàn)主要應(yīng)用于檢查結(jié)構(gòu)鋼的晶粒度、夾雜物、膠碳和
工具鋼的碳化物分布狀況。
保持澆注系統(tǒng)的清潔干燥和注意各項(xiàng)澆注工藝操作等,固然對(duì)
鋼是氣體夾雜含量有重要影響,而整個(gè)澆注過(guò)程更是與鋼的凝固
過(guò)程和結(jié)晶組織緊密相關(guān)。
(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制http://www.sgaaa.com)
合作站點(diǎn):http://www.xianweijing.org/