熔合物澆注的熔合物顯微結(jié)構(gòu)變化研究金相顯微鏡
熔合物的研究采用金相X 射線分析和顯微硬度測(cè)量的方法研究熔合物的相組成
與結(jié)構(gòu)X 射線系采用粉末照象法,鎳靶,晶格參數(shù)測(cè)量的精確度為0.01% ,顯微硬
度是在型儀器上測(cè)定的,荷重50克。
顯微硬度的數(shù)值用以估計(jì)各個(gè)相組分與結(jié)構(gòu)組分的硬度,以及用以測(cè)定熔合物
的均化程度與確定單相區(qū)域的邊界。
試驗(yàn)熔合物的熔制是按上述條件于1600-1700 ℃下進(jìn)行的,在最高溫度時(shí)短時(shí)
間保溫。
熔合物經(jīng)過擴(kuò)散退火,在TBB-2 型爐中氬氣氛下1350℃退火48小時(shí)。
當(dāng)澆注的熔合物退火時(shí)末觀察到顯微結(jié)構(gòu)有明顯的變化。
為了顯露熔合物磨光片的顯微結(jié)構(gòu),在20%KOH溶液中電解腐蝕。
金相研究指出,碳含量在0.7%以下的熔合物是單相的,這個(gè)區(qū)域的熔合物為粗
粒結(jié)構(gòu),如果注意到現(xiàn)熔融的純硅以及單相區(qū)域的熔合物,當(dāng)腐蝕時(shí)出現(xiàn)平行線的
那種獨(dú)特顯微結(jié)構(gòu),顯然這與硅的晶體結(jié)構(gòu)的特征相聯(lián)系的。
碳含量高于0.8%的熔合物具有兩相的結(jié)構(gòu);明亮的基底是碳地硅中的固溶體,
暗色者是碳化硅。
碳含量增加時(shí)碳化物相的數(shù)量隨著增加,單相區(qū)域熔合物固溶體顯微硬度隨碳
含量增加而顯著上升,易從850-890 公斤/ 毫達(dá)到1225公斤毫米,在兩相區(qū)域的范
圍內(nèi),碳含量在2-3%以下改變時(shí),相的顯微硬度實(shí)際上并不隨之變化。
碳化硅晶體的顯微硬度的平均值為3180公斤/ 毫米。
分布在相圖區(qū)域內(nèi)的熔合物的X 射線研究指出,有兩個(gè)相存在,基于硅的相和
基于碳化硅的相同,這兩相的晶格參數(shù)末發(fā)現(xiàn)變化,因?yàn)榈玫降臄?shù)據(jù)均在測(cè)量精確
度的范圍以內(nèi)。
金相與X 射線分析以及各個(gè)相的顯微硬度測(cè)量結(jié)果。
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