掃描電鏡/掃描電子顯微鏡 掃描電鏡/掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析。 精品推薦
品牌： 日立 型號： AeroSurf1500 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

產(chǎn)品簡介日立高新AeroSurf1500 臺式掃描電鏡2016年，日立高新公司推出第一臺大氣壓下掃描電子顯微鏡AeroSurf1500，其獨特的設(shè)計可在大氣壓下得到清晰的掃描電子圖像。產(chǎn)品特點1、可在大氣壓（105Pa）下得到SEM圖像；2、臺式掃描電鏡設(shè)計；3、低真空下成分分析；4、優(yōu)質(zhì)的圖像處理控制；應(yīng)用領(lǐng)域1、食品檢測；2、生物科技；3、刑偵醫(yī)學(xué)；4、醫(yī)藥檢測；5、環(huán)境監(jiān)測。

品牌： 日立 型號： SU9000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

SU9000是世界上最高二次電子分辨率（0.4nm@30kV）和STEM分辨率（0.34nm@30kV）的掃描電鏡。它采取了獨特的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能優(yōu)異，而且作為冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作，可以快速穩(wěn)定的進(jìn)行超高分辨成像。?主要特點：1.  新型電子光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計達(dá)到掃描電鏡世界最高分辨率：二次電子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。2.  用改良的高真空性能和無與倫比的電子束穩(wěn)定性來實現(xiàn)高效率截面觀察。3.  采用全新設(shè)計的Super E x B能量過濾技術(shù)，高效，靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。 應(yīng)用領(lǐng)域：1. 半導(dǎo)體器件2. 高分子材料3. 納米材料4. 生命科學(xué)

品牌： 日立 型號： SU5000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

產(chǎn)品介紹： 日立全新一代熱場發(fā)射掃描電鏡SU5000繼承了日立半導(dǎo)體行業(yè)掃描電鏡CD-SEM高穩(wěn)定性和易操作的特點，不僅具有強大的觀察分析能力，同時具有全新的操作體驗。SU5000既滿足了專業(yè)電鏡操作者對高分辨觀察和分析的需求，也滿足了電鏡初學(xué)者對高質(zhì)量圖片的需求，是一臺操作簡便且功能強大的掃描電鏡。主要特點：? 高穩(wěn)定性熱場發(fā)射電子槍? 全新的EM Wizard軟件，無需設(shè)置參數(shù)即可獲得高質(zhì)量圖片? 高分辨率和強大的分析能力? 樣品適用性強：不導(dǎo)電樣品直接觀察（低真空功能，10-300Pa）? 全新的multi-finder功能，方便快捷的尋找樣品? 附件功能強大：拉伸臺，冷熱臺，電子束曝光，紅外CCD，離子束清潔系統(tǒng)等。

品牌： 日立 型號： S-3700N 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

- 在觀察110mm高樣品時可進(jìn)行能譜分析 -樣品室設(shè)置多種接口，可安裝EDS、WDS、EBSD和CL等多種分析用附件 -高低真空一鍵切換，無需手動安裝壓差光闌

品牌： 日立 型號： Regulus8100 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

1. 配備加速電壓減速功能，優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kV分辨率可達(dá)0.8nm 2. 日立專利E×B技術(shù)，無需噴鍍，可直接觀測不導(dǎo)電樣品

品牌： 日立 型號： SU7000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

在相同WD的條件下，可同時實現(xiàn)二次電子、背散射電子觀察與X射線分析 最多可同時實現(xiàn)6通道檢測與顯示 可配置18個附件接口

品牌： 上海孚光精儀 型號： BSE 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款掃描電鏡探測器是全球領(lǐng)先的BSE探測器或背散射電子探測器，為掃描電子顯微鏡提供最佳的信噪比和超高的分辨率，是SEM探測器中的最新產(chǎn)品。這款掃描電鏡探測器適合全球所有的商用掃描電鏡，采用獨立設(shè)計理念， 具有標(biāo)準(zhǔn)的安裝法蘭接口，非常方便用戶的安裝和使用。掃描電鏡探測器特點采用YAG:Ce單晶閃爍體采用閃爍體和光電倍增管，提供極佳的圖像質(zhì)量全球最佳的超低能量鍍膜技術(shù)，靈敏度可到0.5Kev 優(yōu)異的信噪比無限的探測器壽命電動可回縮高精密導(dǎo)臂波紋管密封高真空系統(tǒng)完全用戶訂制化的SEM連接系統(tǒng)背散射電子探測器性能YAG:Ce閃爍體探測器提供最佳效率和最小余光afterglow, decay time 衰減時間為75ns @30光子/Kev YAG:Ce閃爍探測器外徑15mm , 內(nèi)孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任選，它限制視場大小。靈敏度高達(dá)1pA電子束

品牌： 美國FEI 型號： Quanta 250FEG/450FEG/650FEG 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司

儀器簡介：QuantaFEG系列場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡是FEI公司的最新產(chǎn)品之一。是在FEI公司著名產(chǎn)品XL30ESEM-FEG場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展而來的。QuantaFEG場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡綜合場發(fā)射電鏡高分辨和ESEM環(huán)境掃描電鏡適合樣品多樣性的優(yōu)勢，可對各種各樣的樣品（包括導(dǎo)電樣品、不導(dǎo)電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）進(jìn)行高分辨的靜態(tài)和動態(tài)觀察和分析。QuantaFEG和Quanta一樣具有優(yōu)異的系統(tǒng)擴(kuò)展性能，可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰極熒光等附件。主要特點：1.完全數(shù)字化系統(tǒng)控制，Windows XP操作系統(tǒng)2.場發(fā)射環(huán)境掃描系統(tǒng)兼顧高分辨和樣品多樣性3.數(shù)字電影功能可將觀察過程記錄為avi視頻文件4.穩(wěn)定的大束流(最大200nA)確保高速、準(zhǔn)確的能譜、波譜和EBSD分析5.可安裝冷臺、加熱臺、拉伸臺等進(jìn)行樣品原位、動態(tài)觀察和分析技術(shù)參數(shù)：1.分辨率： 二次電子: 高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV 高真空減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項) 低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV 環(huán)境真空模式 1.4nm @ 30kV 背散射電子: 高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV 掃描透射STEM探測器: 0.8nm @ 30kV2.加速電壓 200V ～ 30kV, 連續(xù)可調(diào)3.高穩(wěn)定性Schottky場發(fā)射電子槍4.最大束流 200nA5.樣品室壓力最高達(dá)4000Pa6.樣品臺移動范圍 Quanta 250 FEG: X=Y=50mm Quanta 450 FEG: X=Y=100mm Quanta 650 FEG: X=Y=150mm

品牌： 美國FEI 型號： QEMSCAN 650F 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：北京源海威科技有限公司

一、設(shè)備介紹QEMSCAN巖芯、巖屑分析系統(tǒng)是一個高速自動化的礦物參數(shù)自動定量分析系統(tǒng)。能對樣品進(jìn)行礦物物質(zhì)組成、巖石特征、成份定量、礦物嵌布特征、礦物粒級分布、礦物解離度等重要參數(shù)進(jìn)行自動定量分析，主要用于石油、礦業(yè)、冶金、地質(zhì)等領(lǐng)域。QEMSCAN系統(tǒng)在石油領(lǐng)域的應(yīng)用包括：1）鉆芯、鉆削礦物組成、巖石類型分析2）鉆井?dāng)?shù)據(jù)集累3）石油、天然氣勘探4）石油、天然氣資源、藏量評估5）生產(chǎn)井位置選擇6）卡鉆事故預(yù)防QEMSCAN巖芯、巖屑分析系統(tǒng)采用FEI公司Quanta 650F 場發(fā)射環(huán)境掃描電鏡作作為最主要的硬件平臺。Quanta 650F 場發(fā)射環(huán)境掃描電鏡利用電子束激發(fā)樣品產(chǎn)生的二次電子、背散射電子以及X射線等信號，以獲得樣品表面形貌，結(jié)合能譜儀等分析儀器可以對微區(qū)成分進(jìn)行檢測，是用于試樣的顯微形貌觀察及微區(qū)成分分析的必備手段，除氣體以外的試樣均可用掃描電鏡進(jìn)行觀察。在石油天然氣領(lǐng)域，Quanta 650F適用于觀察非常規(guī)油氣樣品的微納米孔隙結(jié)構(gòu)、大小、類型、微裂縫發(fā)育等；用于研究微納孔隙及縫隙上附著的水、油或瀝青，對巖石孔隙的含水飽和度及含油飽和度等進(jìn)行研究二、QUANTA 650F多用途掃描電鏡主要參數(shù)1、電子光學(xué)1）高分辨率肖特基場發(fā)射電子槍2）加速電壓: 200 V - 30 kV3）束流: 最大200 nA并連續(xù)可調(diào)4）放大倍數(shù): 6 x 1,000,000 x （四幅圖像顯示）2、分辨率1）30 kV下 3.0 nm（背散射探頭）2）30 kV下 1.0 nm（二次電子探頭）3）3 kV下 3.0 nm（二次電子探頭）3、檢測器1）高靈敏度、低電壓固體背散射探頭2）二次電子探頭3）樣品室紅外 CCD 相機(jī)4、真空系統(tǒng)1）樣品室真空度 (高真空模式) 6e-4 Pa2）樣品室真空度(低真空模式) 10 to 130 Pa3）樣品室真空度(環(huán)境真空模式) 10 to 4000 Pa5、樣品室1）左右內(nèi)徑 379mm2）10 mm 分析工作距離3）10個 探測器 / 附件接口4）EDS 采集角: 35°6、樣品臺1）X/Y = 150 mm2）Z = 65 mm3）Z向間隙 93.5mm4）傾斜：- 5° - + 70°5）連續(xù)旋轉(zhuǎn) 360°6）復(fù)精度: 2 μm (X/Y 方向)7）偽全對中樣品臺7、SEM 計算機(jī)Windows 7操作系統(tǒng)8、能譜儀1）雙硅漂移探頭2）超快速脈沖處理3）電制冷 （無需液氮）

品牌： 日立 型號： VC-100 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海西努光學(xué)科技有限公司

IXRF噴碳儀VC-100是專為電鏡設(shè)計的噴鍍儀器，可以替代傳統(tǒng)的真空蒸鍍裝置。主要特點：1.用普通的自動筆芯就可作為蒸鍍碳的原材料；2.每次使用一根鉛筆芯，操作簡單，重現(xiàn)性好；3.可用于碳強化或制作支持膜，可以制作碳復(fù)型膜；4.可在自動鉛筆芯纏繞Pt線做Pt/C的蒸鍍或直接向SEM樣品蒸鍍Pt。 應(yīng)用領(lǐng)域:1.對樣品進(jìn)行蒸碳，實現(xiàn)不導(dǎo)電樣品的能譜儀元素定性和半定量分析；2.對樣品進(jìn)行蒸鍍Pt/C或直接蒸鍍Pt等金屬；3.用于TEM樣品的陰影；4.做TEM表面復(fù)型樣品。

品牌： 日立 型號： ArBlade5000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海西努光學(xué)科技有限公司

ArBlade5000是專門針對快速或大面積加工而設(shè)計的離子研磨儀，它保留了IM4000系列的平面和截面研磨功能，同時對加工速率有了很大提升。ArBlade5000的截面加工速率達(dá)到1mm/h，截面加工寬度最大可達(dá)8mm，可以滿足更大范圍的加工需求。主要特點：1. 專業(yè)的平面和截面加工2. 全新設(shè)計的氬離子槍3. 大面積、高精度、低損傷加工

品牌： 日立 型號： NX5000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

產(chǎn)品簡介日立高分辨型雙束系統(tǒng) NX5000NX5000新型高分辨FIB-SEM雙束系統(tǒng)采用冷場發(fā)射電子槍和全新的Aquila α鏡筒，具有高分辨的觀察能力；同時大束流的離子槍和實時觀察功能使其具有超高的加工效率。獨特的第三束（Ar）加工可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復(fù)雜的制備提供了新的解決方案，可以滿足納米材料、半導(dǎo)體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細(xì)加工。主要特點：1. 高分辨冷場發(fā)射電子槍，實現(xiàn)高分辨觀察（0.7nm@15kV）2. 全新的Aquila α鏡筒和多探測器實現(xiàn)不同觀察目的3. 大束流（100nA）、高穩(wěn)定性離子槍實現(xiàn)快速加工4. 實時觀察、多探針系統(tǒng)和7軸樣品臺等技術(shù)有效防止窗簾效應(yīng)5. 第三束Ar的引入實現(xiàn)無損和超薄樣品的加工6. 多種沉積氣體可選7. 全自動TEM樣品制備 應(yīng)用領(lǐng)域：納米材料微加工半導(dǎo)體及電子元器件加工生命科學(xué)

品牌： 日立 型號： SU3800 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海西努光學(xué)科技有限公司

日立全新一代高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術(shù)，使其低電壓性能大大提升，同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得SU3800的觀察能力進(jìn)一步提升。SU3800還增加了IFT燈絲監(jiān)控技術(shù)、全新的光鏡導(dǎo)航、集成的能譜以及報告導(dǎo)出等功能，使其操作也變得更為簡單。主要特點：  HexBias偏壓鎢燈絲電子槍； 優(yōu)異的高、低電壓性能； 高靈敏度五分割背散射電子探測器； 可變壓力二次電子探測器（高、低真空可用）； 全新的操作界面和光鏡導(dǎo)航功能； 全自動燈絲設(shè)定和合軸； 報告導(dǎo)出和圖片處理； 可集成的EDS； 簡單方便的維護(hù)（燈絲更換視頻）； 應(yīng)用領(lǐng)域： 材料科學(xué)、生命醫(yī)學(xué)、食品衛(wèi)生、半導(dǎo)體電子元器件、汽車制造等。主要參數(shù)：?電子槍預(yù)對中鎢燈絲加速電壓0.3kV – 30kV分辨率3.0nm@30kV (SE)15.0nm@1kV (SE)4.0nm@30kV (BSE, LV)放大倍率5x – 300,000x（底片倍率）7x – 800,000x（顯示器倍率）探測器二次電子探測器，高靈敏度無分割背散射電子探測器可變壓力探測器UVD 2.0*低真空可變壓力范圍6 – 650Pa樣品臺（三軸馬達(dá)）X: 0 - 100 mmY: 0 – 40 mmZ: 5 – 65 mmR: 0 – 360°T: -20° - +90°*選配

品牌： 日立 型號： SU3900 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海西努光學(xué)科技有限公司

日立全新一代大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900采用超大的樣品倉和多接口設(shè)計，適合超大樣品的觀察（直徑300mm）以及多種分析功能的拓展。同時，SU3900也采用了全新的HexBias偏壓技術(shù)，也可以配置高靈敏度的背散射探測器和可變壓力二次電子探測器，使其高、低電壓性能都得到了提升。SU3900也具有IFT燈絲監(jiān)控技術(shù)、全新的光鏡導(dǎo)航、集成的能譜以及報告導(dǎo)出等功能，使其操作也變得更得非常簡單。主要特點：HexBias偏壓鎢燈絲電子槍； 超大樣品倉和多接口實際；優(yōu)異的高、低電壓性能； 高靈敏度五分割背散射電子探測器； 可變壓力二次電子探測器（高、低真空可用）； 全新的操作界面和光鏡導(dǎo)航功能； 全自動燈絲設(shè)定和合軸； 報告導(dǎo)出和圖片處理； 可集成的EDS； 簡單方便的維護(hù)（燈絲更換視頻）；應(yīng)用領(lǐng)域： 材料科學(xué)、 生命醫(yī)學(xué)、 食品衛(wèi)生、 半導(dǎo)體電子元器件、 汽車制造、 文物考古、 金屬冶金等。主要參數(shù)：?電子槍預(yù)對中鎢燈絲加速電壓0.3kV – 30kV分辨率3.0nm@30kV (SE)15.0nm@1kV (SE)4.0nm@30kV (BSE, LV)放大倍率5x – 300,000x（底片倍率）7x – 800,000x（顯示器倍率）探測器二次電子探測器，高靈敏度無分割背散射電子探測器可變壓力探測器UVD 2.0*低真空可變壓力范圍6 – 650Pa樣品臺（三軸馬達(dá)）X: 0 - 150 mmY: 0 – 150 mmZ: 5 – 85 mmR: 0 – 360°T: -20° - +90°*選配 

品牌： 日立 型號： TM4000/TM4000Plus 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

產(chǎn)品簡介日立臺式電鏡 TM4000/TM4000Plus主要參數(shù)：1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV（均四檔可調(diào)）、EDX2. 放大倍率：10×~100000×3. 觀察模式：導(dǎo)體（TM4000Plus）、標(biāo)準(zhǔn)模式，消除電荷模式4. 探測器：4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器            （TM4000Plus）應(yīng)用領(lǐng)域：生命科學(xué)材料科學(xué)化學(xué)電子制造食品工業(yè)

品牌： 日立 型號： SU3500 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡, 圖象質(zhì)量更進(jìn)一步。通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進(jìn)科技“獨具匠心”。SU3500鎢燈絲掃描電鏡具有實現(xiàn)了“3kV加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能”＊1, 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器”＊1。它為觀察和分析提出了嶄新的標(biāo)準(zhǔn)。*1：自選特點低加速電壓觀察時分辨率更高，可更好地觀察樣品最表面的細(xì)微形狀和更有效地降低樣品的損壞全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和信號處理技術(shù)實現(xiàn)了高速掃描和低噪音的觀察和以前的常規(guī)掃描電子顯微鏡相比＊2，自動功能縮短＊3了大約11秒具有在低真空時可以非常好地觀察樣品最表面的細(xì)微形狀的“UVD（超高靈敏度可變壓力探測器）”＊4具有實現(xiàn)了實時立體成像的“實時立體觀察功能”＊4（*2）：和日立SEM S-3400N相比（*3）：根據(jù)觀察條件的不同，時間會有變動（*4）：自選規(guī)格項目描述二次電子分辨率3.0nm（加速電壓=30kV，WD=5mm高真空模式）7.0nm（加速電壓=3kV，WD=5mm高真空模式）背散射電子分辨率4.0nm（加速電壓=30kV，WD=5mm低真空模式）10.0nm（加速電壓=5kV，WD=5mm高真空模式）放大倍率5 - 300,000倍（底片倍率＊5）7 - 800,000倍（顯示器顯示倍率＊6）加速電壓0.3 - 30kV可變壓力范圍6 - 650Pa最大樣品尺寸直徑 200mm樣品臺X0 - 100mmY0 - 50mmZ5 - 65mmR360°T-20° - 90°可觀察區(qū)域直徑 130mm （旋轉(zhuǎn)并用）最大樣品高度80mm（WD=10mm）馬達(dá)臺5軸標(biāo)配電子光學(xué)系統(tǒng)電子槍預(yù)對中的鎢燈絲物鏡光闌4孔可動光闌探檢測器埃弗哈特 索恩利 二次電子探測器高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測器EDX分析 WD10mm（取出角35°）圖像顯示操作系統(tǒng)Windows7＊7（如有更改，恕不另行通知）圖像顯示模式全屏模式（1,280 × 960 像素）小屏模式（800 × 600 像素）雙圖像顯示（800 × 600 像素）四屏幕顯示（640 × 480像素）信號混合模式排氣系統(tǒng)操作全自動排氣渦輪分子泵210升/秒 × 1機(jī)械泵135L/min（162L/min，60Hz）× 1（*2）：以127mm×95mm（圖像尺寸4"×5"）的顯示尺寸規(guī)定倍率（*3）：以345mm×259mm（像素1,280×960）的顯示尺寸規(guī)定倍率（*4）：Windows是微軟公司在美國和其他國家的注冊商標(biāo)

品牌： 深圳善時 型號： SS-60 產(chǎn)地：深圳 供應(yīng)商：深圳市善時儀器有限公司

SS-60系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間?。? 放大倍率30~60,000X，15nm分辨率； 采用二次電子和背散電子兩種探測器； SS-60掃描電鏡具有強大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù)； 國產(chǎn)掃描電鏡，良好售后服務(wù)系統(tǒng);

品牌： 深圳善時 型號： SS-150 產(chǎn)地：深圳 供應(yīng)商：深圳市善時儀器有限公司

SS-150系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間小; 放大倍率30~150,000X; 5nm分辨率; 采用二次電子和背散電子兩種探測器; 通過選配EDS可進(jìn)行元素成份分析; SS-150系列掃描電鏡具有強大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù); 國產(chǎn)掃描電鏡，良好售后服務(wù)系統(tǒng);

品牌： 日本電子 型號： JSM-6510 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：深圳市瑞盛科技有限公司

JSM-6510掃描電子顯微鏡 不是所有的JEOL產(chǎn)品能在所有的國家使用。產(chǎn)品性能及詳情請聯(lián)系地區(qū) JEOL 辦事處或銷售商。謝謝。 JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。 操作窗口 直觀的操作界面的設(shè)計，簡明易懂便于迅速掌握操作。 支持多用戶 單個用戶可以根據(jù)常用功能設(shè)置相應(yīng)的圖標(biāo)，營造快捷的操作環(huán)境。用戶登錄時，即可加載已注冊過的設(shè)定。
畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實時圖像。可同時觀察樣品的形貌和組成分布。 微細(xì)結(jié)構(gòu)測量 適合于多種測量功能?？稍谟^察圖像上直接進(jìn)行測量。也可將測量結(jié)果貼至SEM圖像，保存在文件中。
分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺監(jiān)視器，一臺用于SEM圖像觀察和另一臺用于元素分析（EDS）。一只通用鼠標(biāo)即可同時控制兩臺監(jiān)視器。大尺寸畫面使操作更加簡便與舒適。
工廠預(yù)置中心燈絲，十分便于更換。因此，可長期保持穩(wěn)定的高性能。此外，操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護(hù)的步驟說明。 可信賴的真空系統(tǒng) 真空系統(tǒng)使用高性能的擴(kuò)散泵保證了潔凈的高真空狀態(tài)。擴(kuò)散泵內(nèi)部無活動部件，體現(xiàn)了操作穩(wěn)定，維護(hù)簡便的特色。 JSM-6510規(guī)格 保證分辨率 3.0nm（30kV） 8.0nm（3kV） 15nm（1kV） 放大倍數(shù) 5至300,000x 加速電壓 0.5kV至30kV 電子槍 工廠預(yù)對中燈絲 聚光鏡 變焦聚光鏡 物鏡 錐形物鏡 樣品臺 全對中樣品臺 X-Y 80mm-40mm Z 5mm至48mm 旋轉(zhuǎn) 360° 傾斜 －10°至＋90° 排氣系統(tǒng) （高真空模式） DPx1，RPx1 排氣系統(tǒng) （低真空模式） DPx1，RPx2

品牌： 美國FEI 型號： SEM 450/660 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：上海禹重實業(yè)有限公司

該產(chǎn)品是世界上第一款可以對有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）。作為FEI公司引領(lǐng)市場的眾多設(shè)備中最新的一員，Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開發(fā)與生產(chǎn)的相關(guān)工作提供了更多的可能。Nova NanoSEM的出現(xiàn)為那些非導(dǎo)電的以及有污染的納米材料研究和開發(fā)者們帶來了新的表征手段。與NanoSEM同時發(fā)布的FEI Helix探測技術(shù)將浸入式透鏡和低真空掃描電鏡兩種技術(shù)成功地組合在一起，這在場發(fā)射掃描電鏡的歷史上還是第一次。在給用戶帶來超高分辨率的同時，還能在低真空環(huán)境下有效地抑制非導(dǎo)電材料的電荷積累效應(yīng)。Nova NanoSEM的這種新技術(shù)還可以有效地抑制由前道樣品處理過程所引起的電子束誘導(dǎo)污染。除了低真空條件下二次電子和背散射電子成像以外，Nova NanoSEM還具有浸入式透鏡的技術(shù)和FEI所特有的使用電子束進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)沉積的氣體化學(xué)技術(shù)，所有的這些特點使之成為納米結(jié)構(gòu)與納米材料研究領(lǐng)域中最先進(jìn)、最理想的掃描電鏡技術(shù)參數(shù)1. 分辨率高真空模式 1.0nm @ 15kV 1.8nm @ 1kV 0.8nm @ 30kV(STEM探測器)低真空模式 1.5nm @ 10kV(Helix探測器) 1.8nm @ 3kV(Helix探測器)2. 加速電壓 200V - 30kV,連續(xù)可調(diào)3. 電子束流范圍 0.3pA - 100nA, 連續(xù)可調(diào)4. 樣品臺移動范圍Nova NanoSEM 230: X=Y=50mmNova NanoSEM 430: X=Y=100mmNova NanoSEM 630: X=Y=150mm主要特點1. 超高分辨率Schottky場發(fā)射電子槍2. 全球唯一的超高分辨率低真空場發(fā)射掃描電鏡. 具有高真空和低真空( 200Pa)兩種真空模式.3. 對容易污染、容易電荷積累的納米材料和納米器件進(jìn)行觀察和分析4. 完全無油真空系統(tǒng)5. 可選配電子束曝光、電子束誘導(dǎo)沉積等納米設(shè)計/加工功能6. FEI公司基于Windows XP的-xT用戶界面

品牌： 美國FEI 型號： Quanta 650 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：北京源海威科技有限公司

研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對掃描電鏡的主流應(yīng)用要求。FEI Quanta FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對當(dāng)今人們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)。“分析任何樣品，得到所有數(shù)據(jù)”，在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材料的性質(zhì)和元素組成。 Quanta 50 FEG系列是基于前兩代成功的肖特基場發(fā)射環(huán)境掃描技術(shù)開發(fā)的第三代Quanta系列產(chǎn)品。這一系列產(chǎn)品用戶界面使用起來十分方便、靈活，有多種功能最大程度地發(fā)揮其使用效率，并且允許采集所有需要的數(shù)據(jù)。它是電鏡專家設(shè)計來給電鏡專家使用的儀器，性能遠(yuǎn)不止“簡便易用”。這些功能有：特有的圖像導(dǎo)航功能包括蒙太奇圖像導(dǎo)航、鼠標(biāo)雙擊樣品臺移動、鼠標(biāo)拖曳放大居中功能以及其它標(biāo)準(zhǔn)的特色技術(shù)；SmartSCAN，一種智能掃描技術(shù)，能降低信號噪音，提供更好的數(shù)據(jù)；電子束減速模式，一個新的選項，將鎢燈絲掃描電鏡的低加速電壓性能提高到一個全新的水平；Nav-Cam彩色圖像導(dǎo)航器及新開發(fā)的探測器也大大增加了其靈活性。一、主要優(yōu)點1）世界上唯一具有環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場發(fā)掃描電鏡2）在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品，得到二次電子像和背散射電子像3）最大程度降低樣品制備要求:低真空/環(huán)境真空技術(shù)使得不導(dǎo)電樣品和/或含水樣品不經(jīng)導(dǎo)電處理即可直接成像和分析，樣品表面無電荷累積現(xiàn)象4）專利的“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)，對導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品都可進(jìn)行EDS/EBSD分析，不管是在高真空模式或在低真空模式。穩(wěn)定的大束流(最大 200 nA)確保能譜及EBSD分析工作的快速、準(zhǔn)確5）電鏡可作為一個微觀實驗室。安裝特殊的原位樣品臺后，在從- 165 °C到1500 °C溫度范圍內(nèi)，對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進(jìn)行動態(tài)原位分析6）對導(dǎo)電樣品，可選用減速模式得到表面和成份信息7)直觀、簡便易用的軟件，即使電鏡新手也能輕易上手二、典型應(yīng)用:1、納米表征1）金屬及合金, 氧化/腐蝕, 斷口, 焊點, 拋光斷面, 磁性及超導(dǎo)材料2）陶瓷, 復(fù)合材料, 塑料3）薄膜/涂層地質(zhì)樣品斷面, 礦物4）軟物質(zhì): 聚合物, 藥品, 過濾膜, 凝膠, 生物組織, 木材5）顆粒, 多孔材料, 纖維2、原位過程分析1）增濕/去濕2）浸潤行為/接觸角分析3）氧化/腐蝕4)拉伸 (伴隨加熱或冷卻)5）結(jié)晶/相變3、納米原型制備1）電子束曝光 (EBL)2）電子束誘導(dǎo)沉積(EBID)三、主要參數(shù)1、電子光學(xué)1）高分辨肖特基場發(fā)射電子槍2）優(yōu)化的高亮度、大束流鏡筒3）45°錐度物鏡極靴，及“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)，加熱式物鏡光闌4）加速電壓: 200 V - 30 kV5）束流: 最大200 nA并連續(xù)可調(diào)6）放大倍數(shù): 6 x 1,000,000 x (四幅圖像顯示)2、分辨率1）高真空30 kV下0.8 nm (STEM)*30 kV下1.0 nm (SE)30 kV下2.5 nm (BSE)*1 kV下3.0 nm (SE)2）高真空下減速模式*1 kV下3.0 nm (BSE)*1 kV下2.3 nm (ICD)*200 V下3.1 nm (ICD)*3）低真空30 kV下1.4 nm (SE)30 kV下 2.5 nm (BSE)3 kV下3.0 nm (SE)4）環(huán)境真空 (ESEM)30 kV下1.4 nm (SE)3、檢測器1）E-T二次電子探頭2）大視場低真空氣體二次電子探頭 (LFD)3）氣體二次電子探頭 (GSED)4）樣品室紅外CCD相機(jī)5）高靈敏度、低電壓固體背散射探頭*6）氣體背散射探頭*7）四分固體背散射探頭*8）閃爍體型背散射探頭/CLD*9）vCD (低電壓、高襯度探頭)*10）鏡筒內(nèi)探頭(ICD)，用于減速模式下二次電子檢測*11）電子束流檢測器*12）分析型氣體背散射探頭 (GAD)*13）STEM探頭*14）Nav-Cam 光學(xué)相機(jī)彩色成像，用于樣品導(dǎo)航*15）陰極熒光探測器*16）能譜*17）波譜*18）EBSD*19）極靴底部安裝四環(huán)分隔式定向型背散射電子探頭 (DBS) 4、真空系統(tǒng)1）1個 250 l/s 渦輪分子泵, 2個機(jī)械泵2）專利的“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)3）電子束在氣體區(qū)域的行程：10 mm或2 mm4）可升級成無油機(jī)械泵5）2個離子泵6）樣品室真空度 (高真空模式) 6e-4 Pa7）樣品室真空度(低真空模式) 10 to 130 Pa8）樣品室真空度(環(huán)境真空模式) 10 to 4000 Pa9）典型換樣時間: 高真空模式≤ 150秒；低真空及環(huán)境真空模式≤ 270秒 (FEI標(biāo)準(zhǔn)測試程序)5、樣品室1）左右內(nèi)徑379mm2）10 mm分析工作距離3）10個探測器 / 附件接口4）EDS采集角: 35°6、樣品臺1）X/Y = 150 mm2）Z = 65 mm3）Z向間隙93.5mm4）傾斜：- 5° - + 70°5）連續(xù)旋轉(zhuǎn)360°6）重復(fù)精度: 2 μm (X/Y方向)7）偽全對中樣品臺7、圖像處理器1）最大6144 x 4096像素2）圖像文件格式：TIFF (8,16 or 24 bit), BMP or JPEG3）單窗口或四窗口圖像顯示4）四活動窗口5）實時或靜態(tài)按彩色或按灰度等級信號混合6）256 幀平均或積分7）數(shù)字動畫記錄 (.avi格式)8）直方圖及圖像測量軟件9）DCFI (漂移補償積分)8、支持軟件1）SmartSCAN 智能掃描技術(shù)2）蒙太奇圖像導(dǎo)航3）軟件溫度控制4）FEI動畫生成工具

品牌： 美國FEI 型號： Quanta 450FEG 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：北京源海威科技有限公司

研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對掃描電鏡的主流應(yīng)用要求。FEI Quanta FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對當(dāng)今人們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)?！胺治鋈魏螛悠罚玫剿袛?shù)據(jù)”，在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材料的性質(zhì)和元素組成。一、 主要優(yōu)點1） 世界上唯一具有環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場發(fā)射掃描電鏡2） 在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品，得到二次電子像和背散射電子像3） 最大程度降低樣品制備要求:低真空/環(huán)境真空技術(shù)使得不導(dǎo)電樣品和/或含水樣品不經(jīng)導(dǎo)電處理即可直接成像和分析，樣品表面無電荷累積現(xiàn)象4） 專利的“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)，對導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品都可進(jìn)行EDS/EBSD分析，不管是在高真空模式或在低真空模式。穩(wěn)定的大束流(最大 200 nA)確保能譜及EBSD分析工作的快速、準(zhǔn)確5） 電鏡可作為一個微觀實驗室。安裝特殊的原位樣品臺后，在從- 165 °C到1500 °C溫度范圍內(nèi)，對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進(jìn)行動態(tài)原位分析6） 對導(dǎo)電樣品，可選用減速模式得到表面和成份信息7） 直觀、簡便易用的軟件，即使電鏡新手也能輕易上手二、 典型應(yīng)用1、納米表征1）金屬及合金, 氧化/腐蝕, 斷口, 焊點, 拋光斷面, 磁性及超導(dǎo)材料2）陶瓷, 復(fù)合材料, 塑料3）薄膜/涂層地質(zhì)樣品斷面, 礦物4）軟物質(zhì): 聚合物, 藥品, 過濾膜, 凝膠, 生物組織, 木材5）顆粒, 多孔材料, 纖維2、原位過程分析1）增濕/去濕2）浸潤行為/接觸角分析3）氧化/腐蝕4）拉伸 (伴隨加熱或冷卻)5）結(jié)晶/相變3、納米原型制備1）電子束曝光 (EBL)2）電子束誘導(dǎo)沉積(EBID)三、主要參數(shù)1、電子光學(xué)1）高分辨肖特基場發(fā)射電子槍2）優(yōu)化的高亮度、大束流鏡筒3）45°錐度物鏡極靴，及“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)，加熱式物鏡光闌4）加速電壓: 200 V - 30 kV5）束流: 最大200 nA并連續(xù)可調(diào)6）放大倍數(shù): 6 x 1,000,000 x (四幅圖像顯示)2、分辨率1）高真空30 kV下0.8 nm (STEM)*30 kV下1.0 nm (SE)30 kV下2.5 nm (BSE)*1 kV下3.0 nm (SE)2）高真空下減速模式*1 kV下3.0 nm (BSE)*1 kV下2.3 nm (ICD)*200 V下3.1 nm (ICD)*3）低真空30 kV下1.4 nm (SE)30 kV下 2.5 nm (BSE)3 kV下3.0 nm (SE)4）環(huán)境真空 (ESEM)30 kV下1.4 nm (SE)3、檢測器1）E-T二次電子探頭2）大視場低真空氣體二次電子探頭 (LFD)3）氣體二次電子探頭 (GSED)4）樣品室紅外CCD相機(jī)5）高靈敏度、低電壓固體背散射探頭*6）氣體背散射探頭*7）四分固體背散射探頭*8）閃爍體型背散射探頭/CLD*9）vCD (低電壓、高襯度探頭)*10）鏡筒內(nèi)探頭(ICD)，用于減速模式下二次電子檢測*11）電子束流檢測器*12）分析型氣體背散射探頭 (GAD)*13）STEM探頭*14）Nav-Cam 光學(xué)相機(jī)彩色成像，用于樣品導(dǎo)航*15）陰極熒光探測器*16）能譜*17）波譜*18）EBSD*19）極靴底部安裝四環(huán)分隔式定向型背散射電子探頭 (DBS)*4、真空系統(tǒng)1）1個 250 l/s 渦輪分子泵, 2個機(jī)械泵2）專利的“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)3）電子束在氣體區(qū)域的行程：10 mm或2 mm4）可升級成無油機(jī)械泵5）2個離子泵6）樣品室真空度 (高真空模式) 6e-4 Pa7）樣品室真空度(低真空模式) 10 to 130 Pa8）樣品室真空度(環(huán)境真空模式) 10 to 4000 Pa9）典型換樣時間: 高真空模式≤ 150秒；低真空及環(huán)境真空模式≤ 270秒 (FEI標(biāo)準(zhǔn)測試程序)5、樣品室1）左右內(nèi)徑284 mm2）10 mm分析工作距離3）8個探測器 / 附件接口4）EDS采集角: 35°6、樣品臺1）X/Y = 100 mm2）Z = 60 mm3）Z向間隙75mm4）傾斜：- 5° - + 70°5）連續(xù)旋轉(zhuǎn)360°6）重復(fù)精度: 2 μm (X/Y方向)7）偽全對中樣品臺7、樣品座1）多樣品座2）單樣品座3）通用樣品座套件*4）適用于硅片或其它特殊要求的樣品座*8、圖像處理器1）最大6144 x 4096像素2）圖像文件格式：TIFF (8,16 or 24 bit), BMP or JPEG3）單窗口或四窗口圖像顯示4）四活動窗口5）實時或靜態(tài)按彩色或按灰度等級信號混合6）256 幀平均或積分7）數(shù)字動畫記錄 (.avi格式)8）直方圖及圖像測量軟件9）DCFI (漂移補償積分)9、支持軟件1）SmartSCAN 智能掃描技術(shù)2）蒙太奇圖像導(dǎo)航3）軟件溫度控制4）FEI動畫生成工具

品牌： 日立 型號： FlexSEM1000 II 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

體積小、操作簡單、性能強（4nm@20kV）、擴(kuò)展功能豐富 擁有多個探測器（SE、BSE） 擁有低真空功能，不導(dǎo)電和含水樣品直接觀察

品牌： 日立 型號： Regulus8200系列 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

1.選配頂端過濾器，可實現(xiàn)良好的成分對比度； 2.優(yōu)異的擴(kuò)展功能，可附加多種功能附件。

品牌： 日立 型號： SU3800 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

HexBias偏壓鎢燈絲電子槍； 優(yōu)異的高、低電壓性能； 高靈敏度五分割背散射電子探測器； 可變壓力二次電子探測器（高、低真空可用）。

品牌： 日立 型號： SU3900 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國）科學(xué)儀器有限公司

全自動燈絲設(shè)定和合軸； 報告導(dǎo)出和圖片處理； 可集成的EDS； 簡單方便的維護(hù)（燈絲更換視頻）。

品牌： 韓國Seron 型號： AURA 100 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：聚擘國際貿(mào)易（上海）有限公司

AURA 100掃描電子顯微鏡(SEM)桌上型迷你SEM針對宏觀領(lǐng)域的應(yīng)用及初用者1) 價格低性能高的桌上型迷你SEM超高性能臺式掃描電鏡系統(tǒng)2) 兩級透鏡系統(tǒng)自由電子束對準(zhǔn)3) 電子束對準(zhǔn)操作簡單4) 配備強大的測量工具和分析軟件5) 尺寸小[388(W) × 600(D) × 565(H)]6) 用戶友好型操作界面，操作簡單

品牌： 韓國Seron 型號： AURA 200 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：聚擘國際貿(mào)易（上海）有限公司

掃描電鏡,掃描電子顯微鏡,SEM，透射電子顯微鏡,透射電鏡,場發(fā)射電子顯微鏡AURA 200掃描電子顯微鏡(SEM)桌上型迷你SEM通過SERON的由頂向下技術(shù)設(shè)計1) 具有低真空模式低成本模式2) 可獲得低KV圖像(從1KV)，用于不導(dǎo)電樣品3) 雙縫透鏡設(shè)計減少球面像差4) 配備強大的測量工具和分析軟件5) 用戶友好型操作系統(tǒng)6) 尺寸小[388(W) ×600(D) × 638(H)]

品牌： 韓國Seron 型號： Seron AIS1800C 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：聚擘國際貿(mào)易（上海）有限公司

AIS1800C緊湊型掃描電子顯微鏡(SEM)學(xué)術(shù)版緊湊迷你型SEM 世界上最好的緊湊型設(shè)計的迷你型SEM，同時適用于辦公室環(huán)境1) 主動隔振系統(tǒng)以減小環(huán)境震動影響2) 緊湊型設(shè)計，配備輪式底盤以便移動3) 最小的安裝空間：540(W)×570(D)×1300(H)mm34) 配備ET-BSE背散射電子探測器5) 針對不導(dǎo)電樣品可實現(xiàn)低KV影像(從1kV)6) 配備功能強大的分析軟件，同時具備通用功能7) EDS探測角度25° (對于標(biāo)準(zhǔn)型EDS)

品牌： 韓國Seron 型號： AURA 100/200 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：聚擘國際貿(mào)易（上海）有限公司

AURA 100掃描電子顯微鏡(SEM)桌上型迷你SEM針對宏觀領(lǐng)域的應(yīng)用及初用者1) 價格低性能高的桌上型迷你SEM超高性能臺式掃描電鏡系統(tǒng)2) 兩級透鏡系統(tǒng)自由電子束對準(zhǔn)3) 電子束對準(zhǔn)操作簡單4) 配備強大的測量工具和分析軟件5) 尺寸小[388(W) × 600(D) × 565(H)]6) 用戶友好型操作界面，操作簡單AURA 200掃描電子顯微鏡(SEM)桌上型迷你SEM通過SERON的由頂向下技術(shù)設(shè)計1) 具有低真空模式低成本模式2) 可獲得低KV圖像(從1KV)，用于不導(dǎo)電樣品3) 雙縫透鏡設(shè)計減少球面像差4) 配備強大的測量工具和分析軟件5) 用戶友好型操作系統(tǒng)6) 尺寸小[388(W) ×600(D) × 638(H)]

品牌： 北京馳奔 型號： Veritas-300plus 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：北京馳奔儀器有限公司

【簡介】 馳奔儀器-E系列鎢燈絲掃描電鏡，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質(zhì)量。電子槍均可升級為亮度提高10倍的更高級的電子槍，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺均采用先進(jìn)優(yōu)中心結(jié)構(gòu)，方便3D重構(gòu)Veritas系列大型掃描電鏡，標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心全自動樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）、波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極熒光（CL）等探測器附件。是一款媲美歐美大型掃描電鏡，功能強大的電子顯微分析平臺，相對歐美同類產(chǎn)品具有很高性價比。Veritas-300plus ，二次電子 + 背散射電子雙探測器成像，具有低真空環(huán)境，是一款高效率、經(jīng)濟(jì)型現(xiàn)代經(jīng)典立式掃描電鏡?！局饕攸c】●專門的經(jīng)濟(jì)型、拓展能力極強的大型樣品倉掃描電鏡●高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征●五軸全自動，大批量分析測試，高效率●雙探測器，精細(xì)形貌和高分辨成分分布●樣品室等離子體消除荷電，絕緣體可直接觀察●一體化設(shè)計，可隨時移動?！窨山优渌幸?guī)格及高性能EDS，具有大型掃描電鏡的分析效果●優(yōu)中心樣品臺、可輕易實現(xiàn)立體對圖像采集，重構(gòu)3D形貌像?！具m用范圍】： 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。先進(jìn)的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的全方位微觀分析。Veritas-300適合大批量樣品快速分析測試，需要多種分析附件原位分析，大塊樣品測試。簡便的操作控制軟件，全鼠標(biāo)鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得最佳圖像質(zhì)量樣品室CCD攝像機(jī)安全監(jiān)控五軸計算機(jī)導(dǎo)航控制，樣品坐標(biāo)可存儲【安裝示意】【性能指標(biāo)】型號Veritas-300plus樣品臺五軸優(yōu)中心，全自動X: 120mmY: 120mmZ: 5-65mmR: 360°無限T: -20°~90°電子槍預(yù)對中鎢燈絲 三極自動偏壓加速電壓200V-30KV （最大發(fā)射電流190μA @ 30KV/最大電子槍功率：5.7W)探測器ET-SED， Semconductor Solid state Bse Detector物鏡光闌20μm 20μm 50μm 100μm 四位可變光闌分辨率4nm @30KV ( SEI) 5nm@30KV (Bse Image)放大倍數(shù)10-300,000 X樣品室內(nèi)部尺寸 230（W）x210（D）x260（H)mm ，Se、Bse、EDS、WDS、EBSD、CL等探測器接口最大樣品尺寸Φ210mm X 65mm工作距離0-65mm掃描光柵運動電位移 ±50μm， 電旋轉(zhuǎn) 0-360°掃描模式聚焦模式：320x240 像素 ，尺寸可變TV模式：800x 600像素 慢掃描模式，用于TV及聚焦模式。照相模式：800x600、960x720、1024x768、1600x1200、最大3200x2400像素動態(tài)聚焦，傾斜補償圖像格式JPG、TIFF、bmp、PNG真空模式高真空優(yōu)于9x10-3Pa低真空范圍 10-230Pa真空系統(tǒng)全自動真空系統(tǒng)，真空高壓連鎖安全保護(hù)（高真空時間小于3分鐘）-渦輪分子泵 -旋片式機(jī)械真空泵 -電動閥門系統(tǒng)：真空閘板閥、電磁閥等 自動功能亮度/對比度, 聚焦, 電子槍對中、偏壓、飽和，物鏡光闌搖擺對中軟件系統(tǒng)基于Win8，Virtuoso1.1專用控制軟件. 內(nèi)嵌長度角度面積測量、圖像編輯處理工具。100%鼠標(biāo)鍵盤操作。主機(jī)尺寸/重量800(W）x825（D）x 1500（H）mm /200kg電源單相交流 220V 、50Hz、1KW耗材附件預(yù)對中燈絲，樣品托，碳導(dǎo)電膠帶，導(dǎo)電銀膠，專用工具可選配置四象限BSED | 樣品室攝像機(jī) | 升級LaB6/CeB6陰極 | 3D重構(gòu)成像軟件 | 拉曼光譜 | EDS能譜儀 | WDS波譜儀 | EBSD 電子背散射衍射 | CL 陰極熒光 |電子束曝光裝置

品牌： 北京馳奔 型號： Veritas-300 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：北京馳奔儀器有限公司

【簡介】馳奔儀器-E系列鎢燈絲掃描電鏡，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質(zhì)量。電子槍均可升級為亮度提高10倍的更高級的電子槍，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺均采用先進(jìn)優(yōu)中心結(jié)構(gòu)，方便3D重構(gòu)Veritas系列大型掃描電鏡，標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心全自動樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）、波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極熒光（CL）等探測器附件。是一款媲美歐美大型掃描電鏡，功能強大的電子顯微分析平臺，相對歐美同類產(chǎn)品具有很高性價比。Veritas-300 ，二次電子探測器成像，是一款高效率、經(jīng)濟(jì)型傳統(tǒng)經(jīng)典立式掃描電鏡?！局饕攸c】●專門的經(jīng)濟(jì)型、拓展能力極強的大型樣品倉掃描電鏡●高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征●五軸全自動，大批量分析測試，高效率●一體化設(shè)計，可隨時移動?！窨山优渌幸?guī)格及高性能EDS，具有大型掃描電鏡的分析效果●優(yōu)中心樣品臺、可輕易實現(xiàn)立體對圖像采集，重構(gòu)3D形貌像。【適用范圍】： 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。先進(jìn)的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的全方位微觀分析。 Veritas-300適合大批量樣品快速分析測試，需要多種分析附件原位分析，大塊樣品測試。簡便的操作控制軟件，全鼠標(biāo)鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得最佳圖像質(zhì)量樣品室CCD攝像機(jī)安全監(jiān)控五軸計算機(jī)導(dǎo)航控制，樣品坐標(biāo)可存儲【安裝示意】【性能指標(biāo)】型號Veritas-300樣品臺五軸優(yōu)中心，計算導(dǎo)航，五軸全自動控制X: 120mmY: 120mmZ: 5-65mmR: 360°無限T: -20°~90°電子槍預(yù)對中鎢燈絲 三極自動偏壓加速電壓200V-30KV （最大發(fā)射電流190μA @ 30KV/最大電子槍功率：5.7W)探測器ET-SED物鏡光闌20μm 20μm 50μm 100μm 四位可變光闌分辨率4nm @30KV ( SEI)放大倍數(shù)10-300,000 X樣品室內(nèi)部尺寸 230（W）x210（D）x260（H)mm ，Se、Bse、EDS、WDS、EBSD、CL等探測器接口最大樣品尺寸Φ210mm X 65mm工作距離0-65mm掃描光柵運動電位移 ±50μm， 電旋轉(zhuǎn) 0-360°掃描模式聚焦模式：320x240 像素 ，尺寸可變TV模式：800x 600像素 慢掃描模式，用于TV及聚焦模式。照相模式：800x600、960x720、1024x768、1600x1200、最大3200x2400像素動態(tài)聚焦，傾斜補償圖像格式JPG、TIFF、bmp、PNG真空模式高真空優(yōu)于9x10-3Pa真空系統(tǒng)全自動真空系統(tǒng)，真空高壓連鎖安全保護(hù)（高真空時間小于3分鐘）-渦輪分子泵 -旋片式機(jī)械真空泵 -電動閥門系統(tǒng)：真空閘板閥、電磁閥等 自動功能亮度/對比度, 聚焦, 電子槍對中、偏壓、飽和，物鏡光闌搖擺對中軟件系統(tǒng)基于Win8，Virtuoso1.1專用控制軟件. 內(nèi)嵌長度角度面積測量、圖像編輯處理工具。100%鼠標(biāo)鍵盤操作。主機(jī)尺寸/重量800(W）x825（D）x 1500（H）mm /200kg電源單相交流 220V 、50Hz、1KW耗材附件預(yù)對中燈絲，樣品托，碳導(dǎo)電膠帶，導(dǎo)電銀膠，專用工具可選配置四象限BSED | 樣品室攝像機(jī) | 升級LaB6/CeB6陰極 | 3D重構(gòu)成像軟件 | 拉曼光譜 | EDS能譜儀 | WDS波譜儀 | EBSD 電子背散射衍射 | CL 陰極熒光 |電子束曝光裝置

品牌： 北京馳奔 型號： Genesis-500Aplus 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：北京馳奔儀器有限公司

【簡介】 馳奔儀器-E系列鎢燈絲掃描電鏡，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質(zhì)量。電子槍均可升級為亮度提高10倍的更高級的電子槍，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺均采用先進(jìn)優(yōu)中心結(jié)構(gòu)，方便3D重構(gòu)Genesis系列小型立式掃描電鏡，標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）等探測器或附件，可拓展波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極熒光（CL）附件。是一款小巧、功能強大的電子顯微分析平臺。Genesis-500Aplus 采用五軸全自動優(yōu)中心樣品臺，二次電子+背散射電子探測器成像，樣品室低真空環(huán)境，可直接觀察絕緣體，是一款高效率、經(jīng)濟(jì)現(xiàn)代經(jīng)典立式掃描電鏡?！局饕攸c】：●專門的經(jīng)濟(jì)型、拓展強大的小型立式掃描電鏡●高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征●批量分析測試，高效率●精細(xì)形貌和高分辨率成分襯度雙探測器●樣品室低真空等離子體消除絕緣樣品荷電●體型小巧，節(jié)約空間，可隨時移動。●可接配所有規(guī)格及高性能EDS，具有大型掃描電鏡的分析效果●優(yōu)中心樣品臺、可輕易實現(xiàn)立體對圖像采集，重構(gòu)3D形貌像。*精密五軸自動樣品臺專利的優(yōu)中心樣品臺（多工位樣品托）簡便的操作控制軟件，全鼠標(biāo)鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得最佳圖像質(zhì)量樣品室CCD攝像機(jī)安全監(jiān)控五軸計算機(jī)導(dǎo)航控制，樣品坐標(biāo)可存儲Genesis-小型立式掃描電鏡在北京奧林匹克公園國家會議中心，公開展示體驗。隨時可以移動【適用范圍】： 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。先進(jìn)的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的全方位微觀分析。Genesis-500Aplus適合批量樣品快速分析測試，適合多種分析附件原位分析，適合生物樣品，絕緣體等非到點樣品直接觀察?！景惭b示意】【性能指標(biāo)】型號Genesis-500Aplus樣品臺五軸優(yōu)中心，計算機(jī)導(dǎo)航，全自動控制X: 40mmY: 40mmZ: 5-45mmR: 360°無限T: -20°~90°電子槍預(yù)對中鎢燈絲 三極自動偏壓加速電壓200V-30KV （最大發(fā)射電流190μA @ 30KV/最大電子槍功率：5.7W)探測器ET-SED， Semiconductor Solid state BseD物鏡光闌20μm 20μm 50μm 100μm 四位可變光闌分辨率4nm @30KV ( SEI) 5nm@30KV （Bse Image）放大倍數(shù)10-300,000 X樣品室內(nèi)徑φ150mm，Se、Bse、EDS、WDS、EBSD、CL等探測器接口最大樣品尺寸Φ96mm X 50mm工作距離0-45mm掃描光柵運動電位移 ±50μm， 電旋轉(zhuǎn) 0-360°掃描模式聚焦模式：320x240 像素 ，尺寸可變TV模式：800x 600像素 慢掃描模式，用于TV及聚焦模式。照相模式：800x600、960x720、1024x768、1600x1200、最大3200x2400像素圖像格式JPG、TIFF、bmp、PNG真空模式高真空優(yōu)于9x10-3Pa樣品室低真空范圍 10-100Pa真空系統(tǒng)全自動真空系統(tǒng)，真空高壓連鎖安全保護(hù)（高真空時間小于3分鐘）-渦輪分子泵 -旋片式機(jī)械真空泵 -電動閥門系統(tǒng)：真空閘板閥、電磁閥等 自動功能亮度/對比度, 聚焦, 電子槍對中、偏壓、飽和，物鏡光闌搖擺對中軟件系統(tǒng)基于Win8，Virtuoso1.1專用控制軟件. 內(nèi)嵌長度角度面積測量、圖像編輯處理工具。100%鼠標(biāo)鍵盤操作。主機(jī)尺寸/重量600(W）x623（D）x 1350（H）mm /120kg電源單相交流 220V 、50Hz、1KW耗材附件預(yù)對中燈絲，樣品托，碳導(dǎo)電膠帶，導(dǎo)電銀膠，專用工具可選配置四象限BSED | 樣品室攝像機(jī) | 升級LaB6/CeB6陰極 | 3D重構(gòu)成像軟件 | 拉曼光譜 | EDS能譜儀 | WDS波譜儀 | EBSD 電子背散射衍射 | CL 陰極熒光 |電子束曝光裝置

品牌： 北京馳奔 型號： Genesis-500A 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：北京馳奔儀器有限公司

【簡介】 馳奔儀器-E系列鎢燈絲掃描電鏡，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質(zhì)量。電子槍均可升級為亮度提高10倍的更高級的電子槍，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺均采用先進(jìn)優(yōu)中心結(jié)構(gòu)，方便3D重構(gòu)Genesis系列小型立式掃描電鏡，標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）等探測器或附件，可拓展波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極熒光（CL）附件。是一款小巧、功能強大的電子顯微分析平臺。Genesis-500A 采用五軸全自動優(yōu)中心樣品臺，二次電子探測器成像，是一款高效率、經(jīng)濟(jì)型傳統(tǒng)經(jīng)典立式掃描電鏡。【主要特點】：●專門的經(jīng)濟(jì)型、拓展強大的小型立式掃描電鏡●高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征●批量分析測試，高效率●體型小巧，節(jié)約空間，可隨時移動?！窨山优渌幸?guī)格及高性能EDS，具有大型掃描電鏡的分析效果●優(yōu)中心樣品臺、可輕易實現(xiàn)立體對圖像采集，重構(gòu)3D形貌像。*精密五軸自動樣品臺專利的優(yōu)中心樣品臺（多工位樣品托）簡便的操作控制軟件，全鼠標(biāo)鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得最佳圖像質(zhì)量樣品室CCD攝像機(jī)安全監(jiān)控五軸計算機(jī)導(dǎo)航控制，樣品坐標(biāo)可存儲Genesis-小型立式掃描電鏡在北京奧林匹克公園國家會議中心，公開展示體驗。隨時可以移動【適用范圍】： 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。先進(jìn)的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的全方位微觀分析。Genesis-500A適合批量樣品快速分析測試，適合多種分析附件原位分析?！景惭b示意】【性能指標(biāo)】型號Genesis-500A樣品臺五軸優(yōu)中心，全自動X:40mm |Y: 40mm | Z: 5-45mm | R:360°無限| T:-20°~90°電子槍預(yù)對中鎢燈絲 三極自動偏壓加速電壓200V-30KV （最大發(fā)射電流190μA @ 30KV/最大電子槍功率：5.7W)探測器ET-SED物鏡光闌20μm 20μm 50μm 100μm 四位可變光闌分辨率4nm @30KV ( SEI)放大倍數(shù)10-300,000 X樣品室內(nèi)徑φ150mm，Se、Bse、EDS、WDS、EBSD、CL等探測器接口最大樣品尺寸Φ96mm X 50mm工作距離0-45mm掃描光柵運動電位移 ±50μm， 電旋轉(zhuǎn) 0-360°掃描模式聚焦模式：320x240 像素 ，尺寸可變TV模式：800x 600像素 慢掃描模式，用于TV及聚焦模式。照相模式：800x600、960x720、1024x768、1600x1200、最大3200x2400像素圖像格式JPG、TIFF、bmp、PNG真空模式高真空優(yōu)于9x10-3Pa真空系統(tǒng)全自動真空系統(tǒng)，真空高壓連鎖安全保護(hù)（高真空時間小于3分鐘）-渦輪分子泵 -旋片式機(jī)械真空泵 -電動閥門系統(tǒng)：真空閘板閥、電磁閥等 自動功能亮度/對比度, 聚焦, 電子槍對中、偏壓、飽和，物鏡光闌搖擺對中軟件系統(tǒng)基于Win8，Virtuoso1.1專用控制軟件. 內(nèi)嵌長度角度面積測量、圖像編輯處理工具。100%鼠標(biāo)鍵盤操作。主機(jī)尺寸/重量600(W）x623（D）x 1350（H）mm /120kg電源單相交流 220V 、50Hz、1KW耗材附件預(yù)對中燈絲，樣品托，碳導(dǎo)電膠帶，導(dǎo)電銀膠，專用工具可選配置四象限BSED | 樣品室攝像機(jī) | 升級LaB6/CeB6陰極 | 3D重構(gòu)成像軟件 | 拉曼光譜 | EDS能譜儀 | WDS波譜儀 | EBSD 電子背散射衍射 | CL 陰極熒光 |電子束曝光裝置

品牌： 北京馳奔 型號： Genesis-500Mplus 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：北京馳奔儀器有限公司

【簡介】 馳奔儀器-E系列鎢燈絲掃描電鏡，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質(zhì)量。電子槍均可升級為亮度提高10倍的更高級的電子槍，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺均采用先進(jìn)優(yōu)中心結(jié)構(gòu)，方便3D重構(gòu)Genesis系列小型立式掃描電鏡，標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）等探測器或附件，可拓展波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極熒光（CL）附件。是一款小巧、功能強大的電子顯微分析平臺。Genesis-500Mplus 采用五軸優(yōu)中心樣品臺，全手動，Se+Bse探測器，同時采集高分辨形貌和高分辨率成分信息，具有低真空配置，是一款經(jīng)濟(jì)型現(xiàn)代經(jīng)典立式掃描電鏡?！局饕攸c】●專門的經(jīng)濟(jì)型、拓展強大的小型立式掃描電鏡●高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征●精細(xì)形貌和成分襯度雙探測器●低真空等離子體消除荷電，非導(dǎo)電樣品可免噴金、噴碳等?！耋w型小巧，節(jié)約空間，可隨時移動?！窨山优渌幸?guī)格及高性能EDS，具有大型掃描電鏡的分析效果●優(yōu)中心樣品臺、可輕易實現(xiàn)立體對圖像采集，重構(gòu)3D形貌像。*精密五軸手動，精確校準(zhǔn)Z軸及T軸 專利的優(yōu)中心樣品臺（多工位樣品托）簡便的操作控制軟件，全鼠標(biāo)鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得最佳圖像質(zhì)量一鍵成像Genesis-小型立式掃描電鏡在北京奧林匹克公園國家會議中心，公開展示體驗。隨時可以移動【適用范圍】： 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。先進(jìn)的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的全方位微觀分析。Genesis-500Mplus 適合多種分析附件原位分析。【安裝示意】【性能指標(biāo)】型號Genesis-500Mplus樣品臺五軸優(yōu)中心，全手動X: 40mmY: 40mmZ: 5-45mmR: 360°無限T: -20°~90°電子槍預(yù)對中鎢燈絲 三極自動偏壓加速電壓200V-30KV （最大發(fā)射電流190μA @ 30KV/最大電子槍功率：5.7W)探測器ET-SED ，半導(dǎo)體固體Bse探測器物鏡光闌20μm 20μm 50μm 100μm 四位可變光闌分辨率4nm @30KV ( SEI) 5nm@30KV (Bse Image)放大倍數(shù)10-300,000 X樣品室內(nèi)徑φ150mm，Se、Bse、EDS、WDS、EBSD、CL等探測器接口最大樣品尺寸Φ96mm X 50mm工作距離0-45mm掃描光柵運動電位移 ±50μm， 電旋轉(zhuǎn) 0-360°掃描模式聚焦模式：320x240 像素 ，尺寸可變TV模式：800x 600像素 慢掃描模式，用于TV及聚焦模式。照相模式：800x600、960x720、1024x768、1600x1200、最大3200x2400像素圖像格式JPG、TIFF、bmp、PNG真空模式高真空優(yōu)于9x10-3Pa樣品室低真空范圍：10-100Pa真空系統(tǒng)全自動真空系統(tǒng)，真空高壓連鎖安全保護(hù)（高真空時間小于3分鐘）-渦輪分子泵 -旋片式機(jī)械真空泵 -電動閥門系統(tǒng)：真空閘板閥、電磁閥等 自動功能亮度/對比度, 聚焦, 電子槍對中、偏壓、飽和，物鏡光闌搖擺對中軟件系統(tǒng)基于Win8，Virtuoso1.1專用控制軟件. 內(nèi)嵌長度角度面積測量、圖像編輯處理工具。100%鼠標(biāo)鍵盤操作。主機(jī)尺寸/重量600(W）x623（D）x 1350（H）mm /120kg電源單相交流 220V 、50Hz、1KW耗材附件預(yù)對中燈絲，樣品托，碳導(dǎo)電膠帶，導(dǎo)電銀膠，專用工具可選配置四象限BSED | 樣品室攝像機(jī) | 升級LaB6/CeB6陰極 | 3D重構(gòu)成像軟件 | 拉曼光譜 | EDS能譜儀 | WDS波譜儀 | EBSD 電子背散射衍射 | CL 陰極熒光 |電子束曝光裝置

品牌： 北京馳奔 型號： Genesis-500M 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：北京馳奔儀器有限公司

【簡介】馳奔儀器-E系列鎢燈絲掃描電鏡，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質(zhì)量。電子槍均可升級為亮度提高10倍的更高級的電子槍，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺均采用先進(jìn)優(yōu)中心結(jié)構(gòu)，方便3D重構(gòu)Genesis系列小型立式掃描電鏡，標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）等探測器或附件，可拓展波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰極熒光（CL）附件。是一款小巧、功能強大的電子顯微分析平臺。Genesis-500M 采用五軸優(yōu)中心樣品臺，全手動，二次電子探測器成像，是一款經(jīng)濟(jì)型傳統(tǒng)經(jīng)典立式掃描電鏡?！局饕攸c】●專門的經(jīng)濟(jì)型、拓展強大的小型立式掃描電鏡●高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征●體型小巧，節(jié)約空間，可隨時移動?！窨山优渌幸?guī)格及高性能EDS，具有大型掃描電鏡的分析效果●優(yōu)中心樣品臺、可輕易實現(xiàn)立體對圖像采集，重構(gòu)3D形貌像。*精密五軸手動，精確校準(zhǔn)Z軸及T軸 專利的優(yōu)中心樣品臺（多工位樣品托）簡便的操作控制軟件，全鼠標(biāo)鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得最佳圖像質(zhì)量Genesis-小型立式掃描電鏡在北京奧林匹克公園國家會議中心，公開展示體驗。隨時可以移動【適用范圍】： 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。先進(jìn)的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的全方位微觀分析。Genesis-500M 適合多種分析附件原位分析?！景惭b示意】【性能指標(biāo)】型號 Genesis-500M 樣品臺 五軸優(yōu)中心，全手動 X: 40mmY: 40mmZ: 5-45mmR: 360°無限T: -20°~90°電子槍 預(yù)對中鎢燈絲 三極自動偏壓 加速電壓 200V-30KV （最大發(fā)射電流190μA @ 30KV/最大電子槍功率：5.7W)探測器 ET-SED 物鏡光闌 20μm 20μm 50μm 100μm 四位可變光闌分辨率 4nm @30KV ( SEI) 放大倍數(shù) 10-300,000 X樣品室 內(nèi)徑φ150mm，Se、Bse、EDS、WDS、EBSD、CL等探測器接口 最大樣品尺寸 Φ96mm X 50mm 工作距離 0-45mm 掃描光柵運動電位移 ±50μm， 電旋轉(zhuǎn) 0-360°掃描模式 聚焦模式：320x240 像素 ，尺寸可變TV模式：800x 600像素 慢掃描模式，用于TV及聚焦模式。照相模式：800x600、960x720、1024x768、1600x1200、最大3200x2400像素圖像格式 JPG、TIFF、bmp、PNG 真空模式 高真空優(yōu)于9x10-3Pa真空系統(tǒng) 全自動真空系統(tǒng)，真空高壓連鎖安全保護(hù)（高真空時間小于3分鐘） -渦輪分子泵 -旋片式機(jī)械真空泵 -電動閥門系統(tǒng)：真空閘板閥、電磁閥等 自動功能 亮度/對比度, 聚焦, 電子槍對中、偏壓、飽和，物鏡光闌搖擺對中軟件系統(tǒng) 基于Win8，Virtuoso1.1專用控制軟件. 內(nèi)嵌長度角度面積測量、圖像編輯處理工具。100%鼠標(biāo)鍵盤操作。主機(jī)尺寸/重量 600(W）x623（D）x 1350（H）mm /120kg電源 單相交流 220V 、50Hz、1KW 耗材附件 預(yù)對中燈絲，樣品托，碳導(dǎo)電膠帶，導(dǎo)電銀膠，專用工具可選配置 四象限BSED | 樣品室攝像機(jī) | 升級LaB6/CeB6陰極|3D重構(gòu)成像軟件 | 拉曼光譜 | EDS能譜儀| WDS波譜儀 | EBSD 電子背散射衍射 | CL 陰極熒光|電子束曝光裝置

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