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透射電鏡/透射電子顯微鏡
透射電鏡/透射電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱TEM)，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來?？梢钥吹皆诠鈱W(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。
精品推薦
品牌： 日立 型號(hào)： NX9000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 -高亮度場(chǎng)發(fā)射電子槍冷 冷場(chǎng)發(fā)射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點(diǎn)，使納米量級(jí)分析研究成為可能，對(duì)超高分辨圖像和電子全息攝影具有極大貢獻(xiàn)。 -300kV高壓系統(tǒng) 300kV高壓系統(tǒng)具有更高的穿透能力，保證了厚樣品的原子分辨率圖像，降低了樣品制備難度，尤其對(duì)于金屬、陶瓷等高原子序數(shù)樣品的觀測(cè)十分有利。 -獨(dú)特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜（EELS）和高精度平行納米束衍射技術(shù)等獨(dú)特的分析技術(shù)。
品牌： 日立 型號(hào)： NX2000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 1.高分辨成像，高襯度成像分辨率：二次電子（3.5nm@1kV），二次離子（4nm@30kV）； 2.可實(shí)時(shí)觀察加工過程； 3.全自動(dòng)TEM樣品制備。
品牌： 日立 型號(hào)： MI4050 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 產(chǎn)品簡(jiǎn)介日立新型FIB系統(tǒng) MI4050MI4050是高效率的聚焦離子束設(shè)備，它使用了全新的電子光學(xué)系統(tǒng)，具有世界領(lǐng)先的SIM圖像分辨率，并且TEM樣品制備效果優(yōu)異。MI4050廣泛用于截面觀察、微電路修復(fù)、納米圖像制備和納米沉積等。主要特點(diǎn)：1.高效率、高質(zhì)量加工，二次離子分辨率：4nm@30kV2.高分辨、高襯度SIM成像3.全自動(dòng)TEM樣品制備4.大尺寸樣品加工 應(yīng)用領(lǐng)域：1.納米材料微加工2.半導(dǎo)體及電子元器件材料3.生命科學(xué)
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Tecnai? 產(chǎn)地：荷蘭 供應(yīng)商：北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司 FEI推出的Tecnai 系列透射電子顯微鏡 (TEMs) 在為生命科學(xué)、材料科學(xué)和電子行業(yè)提供了真正完整的成像和分析解決方案。 Tecnai G2 系列擁有數(shù)種型號(hào)，結(jié)合了現(xiàn)代技術(shù)和創(chuàng)新科學(xué)和工程團(tuán)體的緊迫需求。其中Titan G2 60-300 是適用于二維和三維材料表征和化學(xué)分析的功能最強(qiáng)大的高分辨率掃描透射式電子顯微鏡 (S/TEM)，具備最寬的 60-300kV 加速電壓范圍，分辨率可提升至原子級(jí)，并且允許單臺(tái)儀器完美結(jié)合 Cs校正、單色儀和 新穎的超穩(wěn)定高亮度電子槍 (X-FEG)，具有卓絕的 STEM 和 TEM 成像性能。技術(shù)參數(shù)：樣品電子源 (kV)放大倍數(shù)樣品臺(tái)相機(jī) 長(zhǎng)度 (mm)EDS 立體 角 (srad)Tecnai Osiris 20 - 200 kV 22 x - 930 kx (TEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 30 - 4,500 0.9Tecnai 30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 100 x - 5Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai F30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 150 x - 230 Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai Spirit 20 - 120 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移動(dòng) 2 mm樣品尺寸 3 mm n/a n/aTecnai Polara 50 - 300 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移動(dòng) 2 mm樣品尺寸 3 mm n/a n/a
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Titan 產(chǎn)地：荷蘭 供應(yīng)商：北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司 自 2005 年FEI推出以來，Titan以其卓越的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和已獲證明的具有突破性的性能和結(jié)果成為全球各地杰出研究人員的首選掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。FEI Titan S/TEM 系列包括全球功能最強(qiáng)大的商用 S/TEM： Titan G2 60-300、Titan3 G2 60-300、Titan Krios 和 Titan ETEM （環(huán)境 TEM）。 所有 Titans 均使用革命性的 60-300 kV 電子鏡筒，通過 TEM 和 STEM 模式在各種材料和工作條件下進(jìn)行亞原子級(jí)的探索和研究。技術(shù)參數(shù)：產(chǎn)品能散點(diǎn)分辨率信息分辨極限STEM 分辨率Titan G2 60-300 0.2 - 0.8 eV 80 pm 80 pm 80 pmTitan ETEM 0.7 - 0.8 eV 0.1 nm （標(biāo)準(zhǔn)）0.12 nm (ETEM) 0.1 nm （標(biāo)準(zhǔn)）0.12 nm (ETEM) 0.136 nm （標(biāo)準(zhǔn)）0.16 (ETEM)Titan3 G2 60-300 0.2 - 0.8 eV 80 pm 70 pm 70 pmTitan Krios 0.7 - 0.8 eV n/a 0.14 nm 0.204 nm
品牌： 日立 型號(hào)： HD-2700 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 1.整體的解決方案 樣品桿與日立FIB兼容，提供了納米尺度的整體解決方案，從制樣到數(shù)據(jù)獲得和最終分析。 2.多種評(píng)價(jià)和分析功能可選 可同時(shí)獲得和顯示SE amp;BF、SE amp;DF、BF amp;DF、DF/EDX和DF/EELS像；可以配備ELV-2000型實(shí)時(shí)元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時(shí)獲得)；可以同時(shí)觀察DF-STEM像和衍射像；可以配備超微柱頭樣品桿進(jìn)行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))等。
品牌： 日立 型號(hào)： HT7800 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 HT7800具有優(yōu)異的操作性與多樣的自動(dòng)功能，通過將CCD相機(jī)與顯微鏡主機(jī)的操作相統(tǒng)一，可以在顯示器畫面上輕松、簡(jiǎn)便地進(jìn)行操作，高刷新率的CMOS熒光相機(jī)可以實(shí)現(xiàn)在明亮環(huán)境下操作，獨(dú)特的雙隙物鏡可以實(shí)現(xiàn)高分辨率和高反差觀察的一鍵切換，滿足不同領(lǐng)域的需求。
品牌： 日立 型號(hào)： HT7830 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 HT7800具有優(yōu)異的操作性與多樣的自動(dòng)功能，通過將CCD相機(jī)與顯微鏡主機(jī)的操作相統(tǒng)一，可以在顯示器畫面上輕松、簡(jiǎn)便地進(jìn)行操作，高刷新率的CMOS熒光相機(jī)可以實(shí)現(xiàn)在明亮環(huán)境下操作，獨(dú)特的雙隙物鏡可以實(shí)現(xiàn)高分辨率和高反差觀察的一鍵切換，滿足不同領(lǐng)域的需求。
品牌： 日立 型號(hào)： HF5000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 HF5000作為一款球差校正冷場(chǎng)發(fā)射透射電鏡，其分辨率達(dá)到了亞埃級(jí)，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的超細(xì)微觀結(jié)構(gòu)的觀察和分析，適用于金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、納米材料等的觀察。同時(shí)，HF5000獨(dú)特的TEM、STEM、SEM三位一體功能不僅可以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究，也可以獲得材料表面的信息。原子級(jí)分辨率的二次電子探測(cè)器可以彌補(bǔ)TEM和STEM無法觀察樣品表面的缺陷，同時(shí)相比普通的SEM又具有更高的分辨率，可以滿足樣品表面高分辨形貌和結(jié)構(gòu)觀察的需求，與TEM和STEM形成互補(bǔ)。全自動(dòng)化的球差校正過程又大大簡(jiǎn)化了球差校正透射電鏡的使用難度，提高了觀察效率，尤其適合測(cè)試平臺(tái)和科研中心等用戶。
品牌： 日立 型號(hào)： HF-3300 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 -高亮度場(chǎng)發(fā)射電子槍冷 冷場(chǎng)發(fā)射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點(diǎn)，使納米量級(jí)分析研究成為可能，對(duì)超高分辨圖像和電子全息攝影具有極大貢獻(xiàn)。 -300kV高壓系統(tǒng) 300kV高壓系統(tǒng)具有更高的穿透能力，保證了厚樣品的原子分辨率圖像，降低了樣品制備難度，尤其對(duì)于金屬、陶瓷等高原子序數(shù)樣品的觀測(cè)十分有利。 -獨(dú)特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜（EELS）和高精度平行納米束衍射技術(shù)等獨(dú)特的分析技術(shù)。
品牌： 日立 型號(hào)： H-9500 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 -高亮度場(chǎng)發(fā)射電子槍冷 冷場(chǎng)發(fā)射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點(diǎn)，使納米量級(jí)分析研究成為可能，對(duì)超高分辨圖像和電子全息攝影具有極大貢獻(xiàn)。 -300kV高壓系統(tǒng) 300kV高壓系統(tǒng)具有更高的穿透能力，保證了厚樣品的原子分辨率圖像，降低了樣品制備難度，尤其對(duì)于金屬、陶瓷等高原子序數(shù)樣品的觀測(cè)十分有利。 -獨(dú)特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜（EELS）和高精度平行納米束衍射技術(shù)等獨(dú)特的分析技術(shù)。
品牌： 日立 型號(hào)： HT7820 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：天美（中國(guó)）科學(xué)儀器有限公司 日立最新推出120kV透射電鏡HT782機(jī)型，該機(jī)型繼承了標(biāo)準(zhǔn)版HT7800高速CMOS熒光屏相機(jī)設(shè)計(jì)、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點(diǎn)和創(chuàng)新點(diǎn)，仍然采用第二代雙隙物鏡的設(shè)計(jì)，設(shè)計(jì)使用高分辨物鏡，標(biāo)配LaB6燈絲，性能實(shí)現(xiàn)突破性提升。此機(jī)型分辨率可保證0.144nm(晶格像)，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、納米材料和軟材料研究領(lǐng)域。主要特點(diǎn)廣泛應(yīng)用與納米材料和軟材料研究領(lǐng)域。1) 包括高分子聚合物在內(nèi)的系列軟材料，樣品組成元素多為輕元素，高的加速電壓下很難得到高襯度圖像，在低的加速電壓(120kV)下可以得到較為理想的圖像。2) 高分辨物鏡可保證0.144nm的分辨率，可滿足用戶對(duì)高分辨圖像的要求。3) 在較低的加速電壓下，仍保持較高的分辨率，在最大程度降低樣品損傷的同時(shí)，獲得高質(zhì)量的高分辨圖片。 主要技術(shù)參數(shù)分辨率晶格分辨率[0.144 nm(120 kV)、放大倍數(shù)Zoom×200～×300,000 (HC模式)x2,000～x800,000 (HR模式) Low Magx50～x1,000加速電壓20～120 kV (100 V/step連續(xù)可調(diào))視野旋轉(zhuǎn)x1,000～x40,000 (HC模式)±90 ° 步長(zhǎng)15 °樣品臺(tái)優(yōu)中心測(cè)角馬達(dá)臺(tái)移動(dòng)范圍X、Y：±1 mm，Z：±0.3 mm最大傾斜角度±30 °主相機(jī)800萬像素(縱：橫 = 3：4) (可選其他相機(jī))標(biāo)準(zhǔn)配置功能※2自動(dòng)聚焦、自動(dòng)軌跡記錄、 自動(dòng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、自動(dòng)拍照、自動(dòng)電子槍對(duì)中、 實(shí)時(shí)FFT顯示、測(cè)量 (手動(dòng)/自動(dòng))、Low dose、API(自動(dòng)預(yù)輻照功能)、 鏡筒柔性烘烤、全視野圖像導(dǎo)航(Whole View)、 自動(dòng)漂移校正※2根據(jù)選配項(xiàng)，可能有變
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-Z300FSC 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲(chǔ)12個(gè)樣品，可以任意取出和交換一個(gè)或數(shù)個(gè)樣品，能靈活地進(jìn)行測(cè)試排序。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-Z200FSC 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200標(biāo)配冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺(tái)和12位自動(dòng)樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計(jì)的Ω能量過濾器與無孔位相板的完美組合，進(jìn)一步提高了生物樣品的襯度。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-1400Flash 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 從生物技術(shù)到納米技術(shù)、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被廣泛應(yīng)用在多個(gè)領(lǐng)域，而且用途越來越廣。其中，以生物領(lǐng)域?yàn)槭椎母叻肿硬牧涎芯?、醫(yī)療品、病理切片、病毒、由熒光顯微鏡做過標(biāo)記的樣品等的觀察，首先用低倍率確認(rèn)細(xì)胞組織或材料結(jié)構(gòu)、樣品位置、觀察區(qū)域的整體情況，再用高倍率詳細(xì)觀察感興趣的微細(xì)結(jié)構(gòu)。近年來，對(duì)于這一系列的觀察程序的簡(jiǎn)單化和獲取高通量數(shù)據(jù)快速化的需求越來越迫切。為了滿足這些需求，新款120kV透射電子顯微鏡JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超大視野的蒙太奇系統(tǒng)以及與光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能。
品牌： 日本電子 型號(hào)： EM-05500TGP 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 TEM斷層掃描系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了從獲取連續(xù)傾斜圖像到三維重構(gòu)整個(gè)過程的自動(dòng)化。為使電子斷層掃描特有的各種調(diào)整能夠自動(dòng)化，TEM斷層掃描系統(tǒng)采用了獨(dú)特算法的軟件（Recorder、Composer和Visualizer-Kai）。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-3200FS 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了最高加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-2100Plus 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)卓著的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了最新的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優(yōu)越，操作方便，簡(jiǎn)明易懂，在材料、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等多個(gè)研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-1000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的最大優(yōu)點(diǎn)。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-ARM300F GRAND ARM 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 JEM-ARM300F實(shí)現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，最高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Themis Z 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：賽默飛世爾科技電子顯微鏡 用于材料科學(xué)領(lǐng)域最先進(jìn)的電子顯微鏡Themis Z，具有無與倫比的性能，靈活性和可重復(fù)性。它所采用的新型S-CORR像差校正器，是唯一能夠完全校正五階像散A5和五階球差C5的校正器，能夠在最寬的加速電壓范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)亞埃STEM分辨率。
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Tecnai G2 系列 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：賽默飛世爾科技電子顯微鏡 FEI Tecnai? 透射電子顯微鏡 (TEM) 旨在為生命科學(xué)、材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)提供真正的通用成像和分析解決方案。
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Talos 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：賽默飛世爾科技電子顯微鏡 Talos F200X S / TEM可在多個(gè)維度上提供最快，最精確的納米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高產(chǎn)量，精度和易用性的創(chuàng)新功能，是學(xué)術(shù)，政府和工業(yè)研究環(huán)境中高級(jí)研究和分析的理想選擇。
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Titan Krios G2 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：賽默飛世爾科技電子顯微鏡 Titan Krios? G2透射電子顯微鏡（TEM）專門用于蛋白質(zhì)和細(xì)胞的成像。采用革新性的冷凍技術(shù)，具有很高的穩(wěn)定性，可用于各種半自動(dòng)化應(yīng)用，包括：?jiǎn)晤w粒分析、雙軸細(xì)胞電子斷層成像、冷凍電子顯微鏡，二維電子晶體學(xué)和亞細(xì)胞器官或細(xì)胞在含水狀態(tài)下的冷凍電子顯微鏡觀察。
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Tecnai G2 Spirit 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：賽默飛世爾科技電子顯微鏡 Tecnai G2透射電子顯微鏡是FEI生產(chǎn)的新型、性能優(yōu)越的藝術(shù)級(jí)儀器。Tecnai G2運(yùn)行在Windows XP的操作系統(tǒng)下，提供了高性能和多功能, 用戶在使用方便、個(gè)性化和安全環(huán)境下可輕易獲得大量的高質(zhì)量分析成果。Tecnai G2使透射電子顯微鏡的操作比以往更方便簡(jiǎn)捷。 在Tecnai G2上, 所有的操作和探測(cè)系統(tǒng)(包括透射掃描附件、視頻監(jiān)視器、CCD相機(jī)、EDX能譜儀、EELS電子能量損失譜和能量過濾器)可以全部集成到一個(gè)系統(tǒng)之中, 通過一個(gè)顯示器、鼠標(biāo)和鍵盤進(jìn)行操作。
品牌： 美國(guó)FEI 型號(hào)： Tecnai G2 20 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：賽默飛世爾科技電子顯微鏡 對(duì)材料特性的全面認(rèn)識(shí)是理解材料性能的基本前提。材料形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分、界面結(jié)構(gòu)、表面以及缺陷都對(duì)材料的性能產(chǎn)生影響。透射電子顯微鏡已經(jīng)被證實(shí)是在小到埃級(jí)尺寸研究各種普通材料和先進(jìn)材料的非常有效的技術(shù)。它能夠產(chǎn)生很多的信號(hào), 這些信號(hào)攜帶了不同類型的有用信息。Tecnai G2 20經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)可以快速有效地采集和處理這些信號(hào)。將高分辨圖像、明場(chǎng)/暗場(chǎng)圖像、STEM圖像、電子衍射和詳細(xì)的微觀分析有機(jī)的結(jié)合起來, 使Tecnai G2 20成為材料分析研究的重要儀器。
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電子顯微鏡科技名詞定義 中文名稱：電子顯微鏡 英文名稱：electron microscope 其他名稱：電鏡 定義1：按電子光學(xué)原理用電子束使樣品成像的顯微鏡。 應(yīng)用學(xué)科：機(jī)械工程（一級(jí)學(xué)科）；光學(xué)儀器（二級(jí)學(xué)科）；電子光學(xué)儀器-電子顯微鏡（三級(jí)學(xué)科） 定義2：一類用電子束為光源，顯示標(biāo)本超微結(jié)構(gòu)的顯微鏡。分為透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡等。 應(yīng)用學(xué)科：細(xì)胞生物學(xué)（一級(jí)學(xué)科）；細(xì)胞生物學(xué)技術(shù)（二級(jí)學(xué)科） 以上內(nèi)容由全國(guó)科學(xué)技術(shù)名詞審定委員會(huì)審定公布。 掃描式電鏡電子顯微鏡常用的有透射電鏡（transmissionelectronmicroscope，TEM）和掃描電子顯微鏡（scanningelectronmicroscope,SEM）。與光鏡相比電鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。與光鏡相比電鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。 電子顯微鏡 電子顯微鏡，簡(jiǎn)稱電鏡，是根據(jù)電子光學(xué)原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學(xué)透鏡，使物質(zhì)的細(xì)微結(jié)構(gòu)在非常高的放大倍數(shù)下成像的儀器。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。鏡筒主要有電子源、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測(cè)器等部件，這些部件通常是自上而下地裝配成一個(gè)柱體。電子透鏡用來聚焦電子，是電子顯微鏡鏡筒中最重要的部件。一般使用的是磁透鏡，有時(shí)也有使用靜電透鏡的。它用一個(gè)對(duì)稱于鏡筒軸線的空間電場(chǎng)或磁場(chǎng)使電子軌跡向軸線彎曲形成聚焦，其作用與光學(xué)顯微鏡中的光學(xué)透鏡（凸透鏡）使光束聚焦的作用是一樣的，所以稱為電子透鏡。光學(xué)透鏡的焦點(diǎn)是固定的，而電子透鏡的焦點(diǎn)可以被調(diào)節(jié)，因此電子顯微鏡不象光學(xué)顯微鏡那樣有可以移動(dòng)的透鏡系統(tǒng)?，F(xiàn)代電子顯微鏡大多采用電磁透鏡，由很穩(wěn)定的直流勵(lì)磁電流通過帶極靴的線圈產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)使電子聚焦。 電子顯微鏡電子源是一個(gè)釋放自由電子的陰極，柵極，一個(gè)環(huán)狀加速電子的陽(yáng)極構(gòu)成的。陰極和陽(yáng)極之間的電壓差必須非常高，一般在數(shù)千伏到3百萬伏之間。它能發(fā)射并形成速度均勻的電子束，所以加速電壓的穩(wěn)定度要求不低于萬分之一。樣品架樣品可以穩(wěn)定地放在樣品架上。此外往往還有可以用來改變樣品（如移動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)、加熱、降溫、拉長(zhǎng)等）的裝置。探測(cè)器用來收集電子的信號(hào)或次級(jí)信號(hào)。真空裝置用以保障顯微鏡內(nèi)的真空狀態(tài)，這樣電子在其路徑上不會(huì)被吸收或偏向，由機(jī)械真空泵、擴(kuò)散泵和真空閥門等構(gòu)成，并通過抽氣管道與鏡筒相聯(lián)接。電源柜由高壓發(fā)生器、勵(lì)磁電流穩(wěn)流器和各種調(diào)節(jié)控制單元組成。
電子顯微鏡按結(jié)構(gòu)和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu)；掃描式電子顯微鏡主要用于觀察固體表面的形貌，也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合，構(gòu)成電子微探針，用于物質(zhì)成分分析；發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。 透射電子顯微鏡（TEMTransmission Electron Microscopy，亦稱投射式電子顯微鏡）因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿，可以直接獲得一個(gè)樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統(tǒng)人們可以直接放大物鏡的焦點(diǎn)的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個(gè)像可以分析樣本的晶體結(jié)構(gòu)。在這種電子顯微鏡中，圖像細(xì)節(jié)的對(duì)比度是由樣品的原子對(duì)電子束的散射形成的。由于電子需要穿過樣本，因此樣本必須非常薄。組成樣本的原子的原子量、加速電子的電壓和所希望獲得的分辨率決定樣本的厚度。樣本的厚度可以從數(shù)納米到數(shù)微米不等。原子量越高、電壓越低，樣本就必須越薄。樣品較薄或密度較低的部分，電子束散射較少，這樣就有較多的電子通過物鏡光欄，參與成像，在圖像中顯得較亮。反之，樣品中較厚或較密的部分，在圖像中則顯得較暗。如果樣品太厚或過密，則像的對(duì)比度就會(huì)惡化，甚至?xí)蛭针娮邮哪芰慷粨p傷或破壞。透射式電子顯微鏡鏡筒的頂部是電子槍，電子由鎢絲熱陰極發(fā)射出、通過第一，第二兩個(gè)聚光鏡使電子束聚焦。電子束通過樣品后由物鏡成像于中間鏡上，再通過中間鏡和投影鏡逐級(jí)放大，成像于熒光屏或照相干版上。中間鏡主要通過對(duì)勵(lì)磁電流的調(diào)節(jié)，放大倍數(shù)可從幾十倍連續(xù)地變化到幾十萬倍；改變中間鏡的焦距，即可在同一樣品的微小部位上得到電子顯微像和電子衍射圖像。為了能研究較厚的金屬切片樣品，法國(guó)杜洛斯電子光學(xué)實(shí)驗(yàn)室研制出加速電壓為3500千伏的超高壓電子顯微鏡。在能量過濾透過式電子顯微鏡（Energy Filtered Transmission Electron Microscopy，EFTEM）中人們測(cè)量電子通過樣本時(shí)的速度改變。由此可以推測(cè)出樣本的化學(xué)組成，比如化學(xué)元素在樣本內(nèi)的分布。 掃描電子顯微鏡（SEM Scanning electron microscope）的電子束不穿過樣品，僅以電子束盡量聚焦在樣本的一小塊地方，然后一行一行地掃描樣本。入射的電子導(dǎo)致樣本表面被激發(fā)出次級(jí)電子。顯微鏡觀察的是這些每個(gè)點(diǎn)散射出來的電子，放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級(jí)電子，通過放大后調(diào)制顯像管的電子束強(qiáng)度，從而改變顯像管熒光屏上的亮度。顯像管的偏轉(zhuǎn)線圈與樣品表面上的電子束保持同步掃描，這樣顯像管的熒光屏就顯示出樣品表面的形貌圖像，這與工業(yè)電視機(jī)的工作原理相類似。由于這樣的顯微鏡中電子不必透射樣本，因此其電子加速的電壓不必非常高。 掃描式電子顯微鏡的分辨率主要決定于樣品表面上電子束的直徑。放大倍數(shù)是顯像管上掃描幅度與樣品上掃描幅度之比，可從幾十倍連續(xù)地變化到幾十萬倍。掃描式電子顯微鏡不需要很薄的樣品；圖像有很強(qiáng)的立體感；能利用電子束與物質(zhì)相互作用而產(chǎn)生的次級(jí)電子、吸收電子和X射線等信息分析物質(zhì)成分。掃描式電子顯微鏡的電子槍和聚光鏡與透射式電子顯微鏡的大致相同，但是為了使電子束更細(xì)，在聚光鏡下又增加了物鏡和消像散器，在物鏡內(nèi)部還裝有兩組互相垂直的掃描線圈。物鏡下面的樣品室內(nèi)裝有可以移動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)和傾斜的樣品臺(tái)。 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是一種比較簡(jiǎn)單的掃描電子顯微鏡，它觀察樣本上因強(qiáng)電場(chǎng)導(dǎo)致的場(chǎng)發(fā)射所散發(fā)出來的電子。假如觀察的是透過樣本的掃描電子的話，那么這種顯微鏡被稱為掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscopy，STEM）。 透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu)；掃描式電子顯微鏡主要用于觀察固體表面的形貌，也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合，構(gòu)成電子微探針，用于物質(zhì)成分分析；發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。 1926年漢斯布什研制了第一個(gè)磁力電子透鏡。1931年厄恩斯特盧斯卡和馬克斯克諾爾研制了第一臺(tái)透視電子顯微鏡。展示這臺(tái)顯微鏡時(shí)使用的還不是透視的樣本，而是一個(gè)金屬格。1986年盧斯卡為此獲得諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)。1938年他在西門子公司研制了第一臺(tái)商業(yè)電子顯微鏡。1934年鋨酸被提議用來加強(qiáng)圖像的對(duì)比度。1937年第一臺(tái)掃描透射電子顯微鏡推出。 電子顯微鏡 一開始研制電子顯微鏡最主要的目的是顯示在光學(xué)顯微鏡中無法分辨的病原體如病毒等。1949年可投射的金屬薄片出現(xiàn)后材料學(xué)對(duì)電子顯微鏡的興趣大增。1960年代投射電子顯微鏡的加速電壓越來越高來透視越來越厚的物質(zhì)。這個(gè)時(shí)期電子顯微鏡達(dá)到了可以分辨原子的能力。1980年代人們能夠使用掃描電子顯微鏡觀察濕樣本。1990年代中電腦越來越多地用來分析電子顯微鏡的圖像，同時(shí)使用電腦也可以控制越來越復(fù)雜的透鏡系統(tǒng)，同時(shí)電子顯微鏡的操作越來越簡(jiǎn)單。 1．透射電鏡技術(shù):透射電鏡是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察。透射電鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴(yán)格。要在機(jī)體死亡后的數(shù)分鐘釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內(nèi)），常用戊二醛和餓酸進(jìn)行雙重固定樹脂包埋，用特制的超薄切片機(jī)（ultramicrotome）切成超薄切片，再經(jīng)醋酸鈾和檸檬酸鉛等進(jìn)行電子染色。電子束投射到樣品時(shí)，可隨組織構(gòu)成成分的密度不同而發(fā)生相應(yīng)的電子發(fā)射，如電子束投射到質(zhì)量大的結(jié)構(gòu)時(shí)，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色，稱電子密度高（electrondense）。反之，則稱為電子密度低（electronlucent）。 2.掃描電鏡技術(shù) 掃描電鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描，將產(chǎn)生的二次電子用特制的探測(cè)器收集，形成電信號(hào)運(yùn)送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。（細(xì)胞、組織）表面的立體構(gòu)像，可攝制成照片。掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定，經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后,再於樣品表面噴鍍薄層金膜，以增加二波電子數(shù).掃描電鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu)，由於它的景深長(zhǎng)，1mm左右的凹凸不平面能清所成像，故放樣品圖像富有立體感。 在使用透視電子顯微鏡觀察生物樣品前樣品必須被預(yù)先處理。隨不同研究要求的需要科學(xué)家使用不同的處理方法。固定：為了盡量保存樣本的原樣使用戊二醛來硬化樣本和使用鋨酸來染色脂肪。 冷固定：將樣本放在液態(tài)的乙烷中速凍，這樣水不會(huì)結(jié)晶，而形成非晶體的冰 電子顯微鏡下的病毒。這樣保存的樣品損壞比較小，但圖像的對(duì)比度非常低。脫干：使用乙醇和丙酮來取代水墊入：樣本被墊入后可以分割。分割：將樣本使用金剛石刃切成薄片。染色：重的原子如鉛或鈾比輕的原子散射電子的能力高，因此可被用來提高對(duì)比度。使用透視電子顯微鏡觀察金屬前樣本要被切成非常薄的薄片（約0.1毫米），然后使用電解擦亮繼續(xù)使得金屬變薄，最后在樣本中心往往形成一個(gè)洞，電子可以在這個(gè)洞附近穿過那里非常薄的金屬。無法使用電解擦亮的金屬或不導(dǎo)電或?qū)щ娦阅懿缓玫奈镔|(zhì)如硅等一般首先被用機(jī)械方式磨薄后使用離子打擊的方法繼續(xù)加工。為防止不導(dǎo)電的樣品在掃描電子顯微鏡中積累靜電它們的表面必須覆蓋一層導(dǎo)電層。在電子顯微鏡中樣本必須在真空中觀察，因此無法觀察活樣本。在處理樣本時(shí)可能會(huì)產(chǎn)生樣本本來沒有的結(jié)構(gòu)，這加劇了此后分析圖像的難度。由于投射電子顯微鏡只能觀察非常薄的樣本，而普通的光學(xué)顯微鏡有可能物質(zhì)表面的結(jié)構(gòu)與物質(zhì)內(nèi)部的結(jié)構(gòu)不同。此外電子束可能通過碰撞和加熱破壞樣本?，F(xiàn)在的最新技術(shù)可以在電子顯微鏡中觀察濕的樣本和不涂導(dǎo)電層的樣本（環(huán)境掃描電子顯微鏡，Environmental Scanning Electron Microscopes，ESEM）。假如事先對(duì)樣本的情況比較清晰的話則可以基本上進(jìn)行不破壞的觀察。此外電子顯微鏡購(gòu)買和維護(hù)的價(jià)格都比較高。
性能比較 電子顯微鏡觀察分辨能力是電子顯微鏡的重要指標(biāo)，電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點(diǎn)的最小間距來表示，它與透過樣品的電子束入射錐角和波長(zhǎng)有關(guān)?？梢姽獾牟ㄩL(zhǎng)約為300～700納米，而電子束的波長(zhǎng)與加速電壓有關(guān)。依據(jù)波粒二象性原理，高速的電子的波長(zhǎng)比可見光的波長(zhǎng)短，而顯微鏡的分辨率受其使用的波長(zhǎng)的限制，因此電子顯微鏡的分辨率（約0.2納米）遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡的分辨率（約200納米）。當(dāng)加速電壓為50～100千伏時(shí)，電子束波長(zhǎng)約為0.0053～0.0037納米。由于電子束的波長(zhǎng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于可見光的波長(zhǎng)，所以即使電子束的錐角僅為光學(xué)顯微鏡的1%，電子顯微鏡的分辨本領(lǐng)仍遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于光學(xué)顯微鏡。光學(xué)顯微鏡的最大放大倍率約為2000倍，而現(xiàn)代電子顯微鏡最大放大倍率超過300萬倍，所以通過電子顯微鏡就能直接觀察到某些重金屬的原子和晶體中排列整齊的原子點(diǎn)陣。電子顯微鏡的分辨本領(lǐng)雖已遠(yuǎn)勝于光學(xué)顯微鏡，但電子顯微鏡因需在真空條件下工作，所以很難觀察活的生物，而且電子束的照射也會(huì)使生物樣品受到輻照損傷。其他的問題，如電子槍亮度和電子透鏡質(zhì)量的提高等問題也有待繼續(xù)研究。 圖像傳感器：130萬像素，彩色CMOS，有效像素1280（H）*1024（V） 清晰度：650線以上 圖像刷新率：15幀/秒 信噪比： 60dB 視頻接口：標(biāo)準(zhǔn)VGA接口 VGA輸出支持：1024X768 60Hz（默認(rèn)），1024X768 75Hz 鏡頭接口：CS 控制功能：亮度，對(duì)比度,色飽和度，銳度,Cb偏移量， Cr偏移量，十字光標(biāo)疊加，垂直鏡像，水平鏡像，負(fù)片 電源：5V DC允許10%偏差 工作電流：400mA 功率：2W 體積：48*60*100（mm）總放大倍數(shù)：7-150倍 物鏡：0.7-4.5連續(xù)變倍 目鏡：0.5X 升降范圍：270mm 手輪調(diào)焦范圍：65mm 中心距離：140mm 立柱直徑：25mm 鏡頭接口直徑：50mm 支架總高度：355mm 底座尺寸：390x270X28 凈重：6KG 8寸工業(yè)液晶顯示器。 顯微鏡的放大倍數(shù)可以根據(jù)需要最大可以600倍、觀察面積可以到達(dá)30mm以上、使用方便等特點(diǎn)。 選配物件：XY移動(dòng)平臺(tái)、LED環(huán)形光源、1X、0.3倍目鏡0.5倍、2倍物鏡、底座有多款可選、可以選配多種攝像頭。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JSM-7001F 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：深圳市瑞盛科技有限公司 JSM-7001F熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（Thermal Field Emission SEM），是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。JSM-7001F具有大型、5軸、全對(duì)中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 計(jì)算機(jī)接口是新的Windows? XP系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單，具有快速簡(jiǎn)單地切換操作模式的功能鍵。最多可同時(shí)查看包括混合信號(hào)的四幅實(shí)時(shí)圖像，單次掃描就可以記錄并馬上存儲(chǔ)全部的四幅圖像。 JSM-7001F掃描電子顯微鏡還支持與EDS、WDS、電子束光刻系統(tǒng)和圖像數(shù)據(jù)庫(kù)的整體化。標(biāo)準(zhǔn)的樣品臺(tái)自動(dòng)化由計(jì)算機(jī)控制5軸：X、Y、Z、傾斜和對(duì)中自轉(zhuǎn)。低真空操作JSM-7001FLV場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有高分辨率性能，可以在中至高電壓千伏（kV）和更高的束流下對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像。因此無需在樣品上鍍金屬膜或碳膜以供導(dǎo)電，即可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技術(shù)。這在以下情況中特別有用: 樣品不能修改時(shí)，尚需后續(xù)測(cè)試時(shí)，或尚需返回產(chǎn)品線時(shí)。低真空模式規(guī)格樣品室壓力：最大50 Pa分辨率：3.0nm（30kV）(BEI)槍室壓力：5 x 10-7 Pa或更小采用的氣體：干燥氮?dú)?
品牌： 日本電子 型號(hào)： JSM-7001F 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：深圳市瑞盛科技有限公司 JSM-7001F熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（Thermal Field Emission SEM），是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。JSM-7001F具有大型、5軸、全對(duì)中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 計(jì)算機(jī)接口是新的Windows? XP系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單，具有快速簡(jiǎn)單地切換操作模式的功能鍵。最多可同時(shí)查看包括混合信號(hào)的四幅實(shí)時(shí)圖像，單次掃描就可以記錄并馬上存儲(chǔ)全部的四幅圖像。 JSM-7001F掃描電子顯微鏡還支持與EDS、WDS、電子束光刻系統(tǒng)和圖像數(shù)據(jù)庫(kù)的整體化。標(biāo)準(zhǔn)的樣品臺(tái)自動(dòng)化由計(jì)算機(jī)控制5軸：X、Y、Z、傾斜和對(duì)中自轉(zhuǎn)。低真空操作JSM-7001FLV場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有高分辨率性能，可以在中至高電壓千伏（kV）和更高的束流下對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像。因此無需在樣品上鍍金屬膜或碳膜以供導(dǎo)電，即可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技術(shù)。這在以下情況中特別有用: 樣品不能修改時(shí)，尚需后續(xù)測(cè)試時(shí)，或尚需返回產(chǎn)品線時(shí)。低真空模式規(guī)格樣品室壓力：最大50 Pa分辨率：3.0nm（30kV）(BEI)槍室壓力：5 x 10-7 Pa或更小采用的氣體：干燥氮?dú)?
品牌： 日本電子 型號(hào)： 日本電子 JSM-6510 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：深圳市瑞盛科技有限公司 JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過程。操作窗口直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便于迅速掌握操作。支持多用戶單個(gè)用戶可以根據(jù)常用功能設(shè)置相應(yīng)的圖標(biāo)，營(yíng)造快捷的操作環(huán)境。用戶登錄時(shí)，即可加載已注冊(cè)過的設(shè)定。同時(shí)顯示兩幅圖像畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實(shí)時(shí)圖像。可同時(shí)觀察樣品的形貌和組成分布。微細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量適合于多種測(cè)量功能?？稍谟^察圖像上直接進(jìn)行測(cè)量。也可將測(cè)量結(jié)果貼至SEM圖像，保存在文件中。標(biāo)準(zhǔn)的全對(duì)中樣品臺(tái)，能收錄三維照片3D Sight（選配件），能夠進(jìn)行平面測(cè)量和高度測(cè)量，實(shí)現(xiàn)立體俯視圖。從圖像觀察到元素分析，配合連貫一條龍分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺(tái)監(jiān)視器，一臺(tái)用于SEM圖像觀察和另一臺(tái)用于元素分析（EDS）。一只通用鼠標(biāo)即可同時(shí)控制兩臺(tái)監(jiān)視器。大尺寸畫面使操作更加簡(jiǎn)便與舒適。維護(hù)簡(jiǎn)便工廠預(yù)置中心燈絲，十分便于更換。因此，可長(zhǎng)期保持穩(wěn)定的高性能。此外，操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護(hù)的步驟說明?？尚刨嚨恼婵障到y(tǒng)真空系統(tǒng)使用高性能的擴(kuò)散泵保證了潔凈的高真空狀態(tài)。擴(kuò)散泵內(nèi)部無活動(dòng)部件，體現(xiàn)了操作穩(wěn)定，維護(hù)簡(jiǎn)便的特色。
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-2800 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司 日本電子株式會(huì)社(JEOL)推出了一款特殊設(shè)計(jì)的產(chǎn)品即JEM-2800 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，在兼顧高分辨高穩(wěn)定性的同時(shí)，最求分析效率的最大化和操作的自動(dòng)化。技術(shù)參數(shù)： 1. 點(diǎn)分辨率：0.21nm； 2. 晶格分辨率：0.1nm; 3. STEM 分辨率：0.16nm； 4. 二次電子分辨率：0.5nm； 5放大倍數(shù)：高達(dá)2,000,000 6. 能譜：可以安裝兩個(gè)超級(jí)能譜 7. 洛倫茲模式：標(biāo)配
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-F200 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司 2016年1月，日本電子株式會(huì)社（JEOL）即全球同步推出了新款場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-F200。JEM-F200進(jìn)行了全新設(shè)計(jì)，在保障各種功能達(dá)到極限的同時(shí)，追求操作的簡(jiǎn)單化和自動(dòng)化，為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗(yàn)。具體特點(diǎn)如下：（1）精煉的全新設(shè)計(jì)：在提高機(jī)械和電氣穩(wěn)定性的同時(shí)，憑借對(duì)透射電鏡的豐富經(jīng)驗(yàn)，對(duì)電鏡整體進(jìn)行了精煉全新設(shè)計(jì)，力求為用戶提供全新感受；（2）高端掃描系統(tǒng)：在照明系統(tǒng)掃描功能之上又增加了成像系統(tǒng)的掃描功能（選購(gòu)件）可以獲得大范圍的STEM-EELS；（3）電鏡光源：冷場(chǎng)發(fā)射光源比其他電鏡使用的肖特基熱場(chǎng)發(fā)射光源能量發(fā)射度小，在TEM成像時(shí)相干性更好，圖像質(zhì)量大大提高；（4）聚光鏡匯聚方式：新電鏡采用四級(jí)聚光鏡且亮度及會(huì)聚焦分開控制，很容易獲得追加實(shí)驗(yàn)條件，避免了傳統(tǒng)的聚光鏡亮度與會(huì)聚焦同時(shí)控制，有時(shí)會(huì)相互干擾，無法達(dá)到最佳狀態(tài)。（5）物鏡匯聚方式：物鏡上采用掃描方式，可以獲得大范圍的STEM-EELS
品牌： 日立 型號(hào)： HT7700 Exalens 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司 日立最新推出120kV透射電鏡HT7700 Exalens，該透射電鏡繼承了標(biāo)準(zhǔn)版HT7700免熒光屏設(shè)計(jì)、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點(diǎn)和創(chuàng)新點(diǎn)，仍然保留雙隙物鏡的設(shè)計(jì)，設(shè)計(jì)使用高分辨物鏡，標(biāo)配LaB6燈絲，性能實(shí)現(xiàn)突破性提升。此機(jī)型分辨率可保證0.144nm(晶格像)，成為目前市場(chǎng)上唯一一款120kV透射電鏡中分辨率最高的機(jī)型。產(chǎn)品特點(diǎn):被廣泛應(yīng)用于納米材料和軟材料研究領(lǐng)域，可以滿足客戶對(duì)分辨率的要求1、高分辨物鏡可保證0.144nm的分辨率，可滿足用戶對(duì)高分辨圖像的要求。2、在較低的加速電壓下，仍保持較高的分辨率，在最大程度降低樣品損傷的同時(shí)，獲得高質(zhì)量的高分辨圖片。
品牌： 日立 型號(hào)： HT7700 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司 HT7700型透射電子顯微鏡是一款全新設(shè)計(jì)的高級(jí)顯微鏡，專門用于生物和納米材料的觀察，具有極高的對(duì)比度和高分辨率的成像功能，是一款功能多合一的系統(tǒng)。將TEM操作統(tǒng)一于顯示器上，無需直視熒光板，實(shí)現(xiàn)了無膠片化，可以在明亮的室內(nèi)進(jìn)行觀察，以往在熒光板上發(fā)暗而難于識(shí)別的圖像在顯示器上也能夠?qū)崿F(xiàn)清晰地顯示。標(biāo)配電鏡圖像管理軟件(EMIP-SP)，自動(dòng)將拍攝的圖像注冊(cè)到圖像數(shù)據(jù)庫(kù)，便于圖像的管理與分類，進(jìn)行長(zhǎng)度測(cè)量和圖像處理等功能。該設(shè)備采用分子泵真空系統(tǒng)，排氣系統(tǒng)清潔干凈。與之前型號(hào)相比，該設(shè)備耗電省，且能減少30%的二氧化碳排放量。主要參數(shù)：項(xiàng)目特點(diǎn)圖像分辨率0.204 nm（晶格像）加速電壓40 - 120 kV（100V增量）圖像信號(hào)×200 ×200,000（高反差模式）×4,000 ×600,000（高分辨率模式）×50 ×1,000（低倍模式）樣品傾斜度±30°, ±70° (*)主照相機(jī)像素尺寸（底部安裝）1,024×1,024 像素 或 2,048×2,048 像素真空系統(tǒng)分子泵 ×1，機(jī)械泵 ×1電源單相交流100伏±10%，4千伏安
品牌： 日本電子 型號(hào)： JEM-ARM200F 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：富瑞博國(guó)際有限公司 日本電子JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡 富瑞博國(guó)際有限公司代理多家國(guó)際知名儀器廠商產(chǎn)品
儀器簡(jiǎn)介： JEM-ARM200F的電子光學(xué)系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配備了一體化的球差校正器, 其掃描透射像分辨率(STEM-HAADF)達(dá)到了0.08nm，為商用透射電子顯微鏡分辨率的世界之最。 保證0.08nm的世界最高STEM (HAADF) 分辨率 ARM200F為電子光學(xué)系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配備了一體化球差校正器，電氣和機(jī)械性能的穩(wěn)定性也達(dá)到極限水平, 使掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率達(dá)到0.08nm, 成為商用透射電子顯微鏡中的世界之最。電子束在像差校正之后, 束流密度比傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡高出一個(gè)數(shù)量級(jí)。因?yàn)槭鞲粮?xì)、電流密度高, ARM200F能夠在進(jìn)行原子水平分析的同時(shí), 還能縮短檢測(cè)時(shí)間和提高樣品處理能力。 電氣穩(wěn)定性的提高 要達(dá)到原子水平的分辨率, 控制電子光學(xué)系統(tǒng)的電源需要穩(wěn)定。ARM200F把高壓和物鏡電流變動(dòng)降低到傳統(tǒng)透射電子顯微鏡50%, 大幅度地提高了電氣的穩(wěn)定性。 機(jī)械穩(wěn)定性的提高 照射系統(tǒng)和成像系統(tǒng)采用像差校正器，實(shí)現(xiàn)原子水平的分析和成像，需要控制原子水平的振動(dòng)和變形。 ARM200F整體機(jī)械強(qiáng)度比傳統(tǒng)透射電子顯微鏡增大兩倍，通過增大鏡筒尺寸，提高了剛度，優(yōu)化了操作臺(tái)結(jié)構(gòu),增強(qiáng)了機(jī)械的穩(wěn)定性。 高擴(kuò)展性的STEM 分析能力 暗場(chǎng)檢測(cè)器因STEM檢測(cè)角度的不同有兩種類型(其中一種為標(biāo)配), 它和明場(chǎng)檢測(cè)器(標(biāo)準(zhǔn)配備), 背散射電子檢測(cè)器 (選配件) 可以同時(shí)安裝。新的掃描成像獲取系統(tǒng)能夠同時(shí)收集4種不同類型的信號(hào), 可以同時(shí)觀察這4種圖像。 環(huán)境對(duì)策 裝置設(shè)置室的溫度變化和雜散磁場(chǎng)也能引起原子水平的振動(dòng)和變形。為降低外部影響，ARM200F特別標(biāo)配了熱屏蔽和磁屏蔽系統(tǒng)。另外，對(duì)鏡筒加外覆蓋以免受周圍空氣對(duì)流所引起的鏡筒表面溫度變化的影響。 用于成像系統(tǒng)的球差校正器 （選配件） 使用選配的成像系統(tǒng)球差校正器, 透射電子顯微鏡的圖像(TEM)分辨率能提高到0.11 nm。 JEM-ARM200F 規(guī)格
品牌： 法國(guó)Cameca 型號(hào)： LEAP 5000 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：法國(guó)cameca公司 三維原子探針顯微術(shù)（3DAP），也稱為原子探針斷層分析術(shù)（APT），是一種具有原子級(jí)空間分辨率的測(cè)量和分析方法?；凇皥?chǎng)蒸發(fā)”原理，三維原子探針通過在樣品上施加一個(gè)強(qiáng)電壓脈沖或者激光脈沖，將其表面原子逐一變成離子而移走并收集。3DAP的特性就是從最小的尺度來逐點(diǎn)揭示材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)，不論簡(jiǎn)單亦或復(fù)雜。可以輕松獲得納米尺度結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)化學(xué)成分和三維形貌，因而專門應(yīng)對(duì)材料研發(fā)中令人棘手的小尺度結(jié)構(gòu)的測(cè)量與分析問題。例如，沉淀相或團(tuán)簇結(jié)構(gòu)的尺寸、成份及分布；又比如元素在各種內(nèi)界面（晶界、相界、多層膜結(jié)構(gòu)中的層間界面等）的偏聚行為等等。 以前，由于對(duì)樣品有導(dǎo)電性的要求以及制作針尖形狀樣品有一定難度等一些問題，原子探針的應(yīng)用曾經(jīng)在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)局限于金屬材料，僅僅做純科學(xué)的探索。進(jìn)入2000年以來，儀器本身在一些關(guān)鍵技術(shù)上的突破性進(jìn)展，加上匯聚離子束制樣技術(shù)的成熟，大大拓展了原子探針的應(yīng)用范圍，可研究的對(duì)象涵蓋金屬、半導(dǎo)體、存儲(chǔ)介質(zhì)，到先進(jìn)材料（納米線、量子阱）等廣泛的材料類型；應(yīng)用上從純學(xué)術(shù)研究到汽車、航空發(fā)動(dòng)機(jī)、核設(shè)施、半導(dǎo)體芯片、LED、光伏材料等等應(yīng)用科學(xué)甚至直接的生產(chǎn)過程監(jiān)控。從無機(jī)材料到有機(jī)材料《Nature》曾報(bào)道了利用這一技術(shù)對(duì)動(dòng)物頭蓋骨的研究。時(shí)至今日，3DAP技術(shù)因其獨(dú)到的分析視角正在為越來越多的材料研發(fā)人員所認(rèn)識(shí)，已經(jīng)逐漸加入TEM、SIMS等工具的行列，成為材料分析的主流分析技術(shù)之一。 局部電極 和 微尖陣列 局部電極（Local ElectrodeTM）是原子探針的關(guān)鍵部件。LEAP局部電極原子探針（Local ElectrodeTM Atom Probe）即取名于此。局部電極的應(yīng)用改善了原子探針的易用性和數(shù)據(jù)質(zhì)量，也因?yàn)榫植侩姌O，原子探針可以利用微尖陣列（MicrotipTM arrays）一次裝載多個(gè)樣品，大大提高原子探針的實(shí)驗(yàn)效率。 反射鏡 高質(zhì)量分辨率 和 大視場(chǎng) 新一代 LEAP 5000R 配備了新型能量補(bǔ)償反射鏡（Reflectron），在優(yōu)化質(zhì)量分辨率的同時(shí)獲得了大視場(chǎng)（可達(dá)250nm）。對(duì)于工作在電壓脈沖模式下的那些應(yīng)用（例如，傳統(tǒng)的金屬材料），將獲得出色的質(zhì)量分辨率。 小束斑UV激光 在激光模式下工作時(shí)，LEAP 5000XR使用了聚焦到很小束斑的UV波長(zhǎng)激光。小束斑保證了優(yōu)異的質(zhì)量分辨，UV波長(zhǎng)保證了對(duì)包括許多絕緣體在內(nèi)的眾多材料都可以給出更好的結(jié)果。更多內(nèi)容請(qǐng)閱讀綁定資料，并請(qǐng)瀏覽我公司網(wǎng)頁(yè)：http://www.cameca.com/instruments-for-research/atom-probe.aspx
透射電鏡/透射電子顯微鏡 儀器網(wǎng)透射電鏡/透射電子顯微鏡產(chǎn)品導(dǎo)購(gòu)專場(chǎng)為您提供透射電鏡/透射電子顯微鏡功能原理、規(guī)格型號(hào)、性能參數(shù)、產(chǎn)品價(jià)格、詳細(xì)產(chǎn)品圖片以及廠商聯(lián)系方式等實(shí)用信息，您可以通過設(shè)置不同查詢條件，選擇滿足您實(shí)際需求的透射電鏡/透射電子顯微鏡產(chǎn)品，同時(shí)透射電鏡/透射電子顯微鏡產(chǎn)品導(dǎo)購(gòu)專場(chǎng)還為您提供精品優(yōu)選透射電鏡/透射電子顯微鏡產(chǎn)品和透射電鏡/透射電子顯微鏡相關(guān)技術(shù)資料、解決方案、招標(biāo)采購(gòu)等綜合信息。
