掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發(fā)展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM，磁力顯微鏡MFM等等）的統(tǒng)稱，是國際上近年發(fā)展起來的表面分析儀器。掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡的應用領域是寬廣的。無論是物理、化學、生物、醫(yī)學等基礎學科，還是材料、微電子等應用學科都有它的用武之地。 精品推薦
品牌： 韓國Park Systems 型號： NX-3DM 產(chǎn)地：韓國 供應商：Park System Crop.

自動化工業(yè)級原子力顯微鏡，助力高分辨率3D測量Park Systems推出革命性的NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統(tǒng)，專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角測量設計。借助獨有的XY軸和Z軸獨立掃描系統(tǒng)和傾斜式Z軸掃描器，NX-3DM成功克服精確側壁分析中的法向和喇叭形頭所帶來的挑戰(zhàn)。在True Non-Contact模式下，NX-3DM可實現(xiàn)帶有高長寬比尖端的柔軟光刻膠的無損測量。前所未有的精確度隨著半導體越變越小，設計如今需要做到納米級，但是傳統(tǒng)的測量工具無法滿足納米級設計和制造所要求的精確度。面對這一行業(yè)測量挑戰(zhàn)，Park Systems取得眾多技術突破，如串擾消除，其可以實現(xiàn)無偽影和無損成像；全新的3D原子力顯微鏡，讓側壁和側凹特征的高分辨率成像成為可能。前所未有的通量受限于低通量，納米級設計無法用于生產(chǎn)質量控制中，但原子力顯微鏡讓這一切成為可能。隨著Park Systems發(fā)布革命性的高通量解決方案，原子力顯微鏡也得以進入自動化線上制造領域。這其中包括創(chuàng)新的磁性探針更換功能，成功率高達99%，高于傳統(tǒng)的真空技術。此外，流程和通量優(yōu)化需要客戶積極配合，提供完整的原始數(shù)據(jù)。前所未有成本效益納米測量的精確性和高通量需要搭配高成本效益的解決方案，才能夠從研究領域擴展到實際生產(chǎn)應用中。面對這一成本挑戰(zhàn)，Park Systems帶來了工業(yè)級的原子力顯微鏡解決方案，讓自動化測量更快、更高效，讓探針更耐久！我們放棄了慢速又昂貴的掃描電子顯微鏡，轉而采用高效、自動化且價格實惠的3D原子力顯微鏡，進一步降低線上工業(yè)制造的測量成本?，F(xiàn)如今，制造商需要3D信息來表現(xiàn)溝槽輪廓和側壁變異特征，從而準確找到新設計中的缺陷。模塊化原子力顯微鏡平臺實現(xiàn)快速的軟硬件更換，從而是升級更劃算，不斷優(yōu)化復雜且苛刻的生產(chǎn)質量控制測量。此外，我們的原子力顯微鏡探針使用壽命延長至少2倍，進一步減少購置成本。傳統(tǒng)的原子力顯微鏡采用輕敲式掃描，這讓探針更易磨損，但我們的True Non-Contact模式能夠有效地保護探針，延長其使用壽命。* 應用側壁和側凹高分辨率成像側壁和側凹臨界尺寸(CD)測量NX-3DM的傾斜式Z軸掃描器設計讓探針能夠掃描到光刻膠的側壁和側凹結構。 獨有的XY軸和Z軸解耦掃描系統(tǒng)和傾斜式Z軸掃描器 Z軸掃描器可在 -19到+19度和-38到+38度之間隨意擺動 法向高長寬比的探針帶來高分辨率成像 XY軸掃描范圍可達100 μm x 100 μm 高強度Z軸掃描器帶來最大25 μm的Z軸掃描范圍完整的側壁3D測量高分辨率側壁粗糙度借助超鋒利的探針尖端，NX-3DM的傾斜式Z軸掃描器可接近側壁，帶來高分辨率的側壁粗糙度細節(jié)。 側壁粗糙度測量 精確的側壁角度測量 垂直側壁的臨界尺寸測量True Non-Contact模式實現(xiàn)無損臨界尺寸和側壁測量光刻膠溝槽臨界尺寸測量獨有的True Non-Contact模式能夠線上無損測量小至45 nm的細節(jié)。 業(yè)內最小的細節(jié)線上測量 柔軟光刻膠無損測量 探針磨損更少，讓高質量和高分辨率成像效果更佳持久 無需輕敲式成像中的參數(shù)依賴結果Park NX-3DM的特點傾斜式Z軸掃描系統(tǒng)NX-3DM獨具匠心地將Z軸掃描器傾斜設計，且通過專利的串擾消除原子力顯微鏡平臺，XY軸與Z軸掃描器完全解耦。用戶可以掃描到垂直側壁以及各種角度的側凹結構。與配有喇叭形頭的系統(tǒng)不同，XE-3DM可使用高分辨率高長寬比的探針。全自動圖形識別借助強大的高分辨率數(shù)字CCD鏡頭和圖形識別軟件，Park NX-HDM讓全自動圖形識別和對準成為可能。自動測量控制自動化軟件讓XE-3DM的操作不費吹灰之力。測量程序針對懸臂調諧、掃描速率、增益和點參數(shù)進行優(yōu)化，為您提供多位置分析。真正非接觸模式和更長的探針使用壽命得益于專利的高強度Z軸掃描系統(tǒng)，XE系列原子力顯微鏡讓真正非接觸模式成為可能。真正非接觸模式借助了原子間的相互吸引力，而非相互排斥力。因此，在真正非接觸模式下，探針與樣品間的距離可以保持在幾納米，從而蓋上原子力顯微鏡的圖像質量，保證探針尖端的鋒利度，延長使用壽命。行業(yè)最低的本底噪聲為了檢測最小的樣品特征和成像最平的表面，Park推出行業(yè)本底噪聲最低（ 0.5?）的顯微鏡。本底噪聲是在“零掃描”情況下確定的。由于懸臂與樣品表面接觸，因此系統(tǒng)噪聲是在如下條件下單點測量：? 掃描范圍為0 nm x 0 nm，探針停留在一個點? 0.5增益，接觸模式? 256 x 256像素* 選項高通量自動化自動探針更換(ATX)借助自動探針更換功能，自動測量程序能夠無縫銜接。該系統(tǒng)會根據(jù)參考圖形測量數(shù)據(jù)，自動校正懸臂的位置和優(yōu)化測量設定。創(chuàng)新的磁性探針更換功能，成功率高達99%，高于傳統(tǒng)的真空技術。自動晶片裝卸器(EFEM或FOUP)您可以在XE-3DM中加裝自動晶片裝卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度無損晶片裝卸機械臂能夠百分百保證NX-3DM用戶享受到快速且穩(wěn)定的自動化晶片測量服務。離子化系統(tǒng)NX-3DM可搭載離子化系統(tǒng)，以有效消除樣品的靜電電荷。由于系統(tǒng)隨時可生產(chǎn)和位置正離子和負離子之間的理想平衡，便可以穩(wěn)定地離子化帶電物體，且不會污染周邊區(qū)域。它也可以消除樣品處理過程中意外生成的靜電電荷。

品牌： 日立 型號： AFM5500M 產(chǎn)地：日本 供應商：天美（中國）科學儀器有限公司

產(chǎn)品簡介日立高新全新的原子力顯微鏡— AFM5500M2016年，日立高新全新的原子力顯微鏡—AFM5500M，此產(chǎn)品精確的測試水準，優(yōu)異的自動化體驗為人類納米尺度的探索與研究提供了完美的解決方案。特點：1.  配備有4英寸電動樣品臺，樣品臺移動范圍XY±50 mm ,最大樣品尺寸Φ100×20mm，最大承重2kg2.  可自動更換探針，并自動調節(jié)激光光路3.  通過RealTuneⅡ可自動調節(jié)測試參數(shù)4.  最新平面掃描器( XY閉環(huán)＋Z位移傳感器)，最大掃描范圍200μm× 200μm×15μm應用領域：1、 納米材料；2、 新型能源材料；3、 電子工業(yè)；4、 生物科技。

品牌： 韓國Park Systems 型號： XE15 產(chǎn)地：韓國 供應商：Park System Crop.

世界頂級精度及強大功能Park原子力顯微鏡產(chǎn)品特性Park XE15具備多個特殊功能，是共享實驗室處理各類樣品、研究員進行多變量實驗、失效分析師研究晶片等的不二選擇。合理的價格搭配強健的性能設置，使其成為業(yè)內性價比最高的大型樣品原子力顯微鏡。MultiSample（多重采樣TM）掃描器帶來最便捷樣品測量-多樣品一次性自動成像-特殊設計的多樣品夾頭，最多可承載16個獨立樣品-全自動XY樣品載臺，行程范圍達200 mm x 200 mm。無軸間耦合提高掃描精度-兩種獨立閉環(huán)XY和Z平板式掃描-平板式和線性XY掃描可達100μm x 100μm，且殘余壓彎小-整個掃描范圍內的異面移動小于2nm-強力掃描器達25μm Z掃描范圍-精確的高度測量Non-Contact（真正非接觸TM）模式延長針尖使用壽命、改善樣品保存及精度 -其Z掃描頻寬是壓電管基礎系統(tǒng)的10倍-非接觸式可降低針尖磨損、延長使用壽命-成像分辨率高于同類原子力顯微鏡- 降低樣品干擾，提高掃描精度提供最佳用戶體驗-開放式側面接入，提高樣品及針尖更換效率-預對準的針尖安裝和獨一無二的軸上俯視法可簡單直觀地實現(xiàn)激光對準-燕尾鎖封片方便鏡頭拆卸-界面帶自動設置功能，方便用戶使用多種模式與選項-綜合性測量模式及特性設置，是我司最佳通用型原子力顯微鏡-多種可選配件及更新，擴展性能優(yōu)越-? 為缺陷分析提供先進電氣測量* 產(chǎn)品特點100um x 100 um掃描范圍的XY柔‘性導向掃描器XY掃描器含系統(tǒng)二維彎曲及強力壓電堆疊，可使極小平面外移動形成較大的正交運動，并能快速響應，實現(xiàn)精確的樣品納米級掃描。柔性導向強力Z掃描器在強力壓電堆疊的驅動及彎曲結構的引導下，其硬度允許掃描器高速豎直運動，較傳統(tǒng)原子力顯微鏡掃描器更加高速。最大Z型掃描范圍搭配遠程Z掃描器（選配）可延長12μm至25μm。滑動連接的超亮二極管頭通過將原子力顯微鏡頭沿楔形軌道滑動，可輕松將其插入或取出。低相干的超發(fā)光二極管頭可實現(xiàn)高反射表面的精確成像和力-矩光譜的精確測量。超亮二極管頭的波長幫助減輕干擾問題，因此用戶在可見光譜實驗中也可使用本產(chǎn)品。多樣品夾頭特殊設計的多樣品夾頭，做多可承載16個獨立樣品，由多重采樣掃描器自動按順序掃描。特殊的夾頭設計為接觸樣品針尖預留了邊通道。選配編碼器的XY自動樣品載臺自動集成XY載臺可輕松并精確控制樣品的測量位置。XY樣品載臺的行程范圍可配置為150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自動載臺使用編碼器，可提高樣品定位的精確度和重復性。編碼XY載臺工作時分辨率為1 μm，重復率為2 μm。編碼Z載臺的分辨率為0.1 μm，重復率為1 μm。高分辨率數(shù)碼變焦感光元件攝像頭高分辨率數(shù)碼感光元件攝像頭利用直接同軸光學，具備變焦功能，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質量。垂直對齊的自動Z載臺及聚焦載臺Z載臺和聚焦載臺可將懸臂嚙合到樣品表面上，同時確保用戶視野清晰穩(wěn)定。聚焦載臺是由軟件控制自動運行的，因此滿足透明樣品及液態(tài)元件應用所需精度。彎曲基底解耦XY和Z掃描器Z掃描器與XY掃描器完全解耦。XY掃描器在水平面上移動樣品，同時Z掃描器豎直移動探針。此配置以最小異面移動，實現(xiàn)了平板式XY掃描。此XY掃描同時還具有高正交性與線性。業(yè)內最低本底噪聲為探測最小樣品的特性，幫助最快運動平面成像，Park Systems設計了業(yè)內0.5?以下的最低本底噪聲標準設備。使用“零掃描”探測本地噪聲數(shù)據(jù)。真正非接觸模式延長針尖使用壽命XE系列原子力顯微鏡已成功搭配專利強力Z掃描系統(tǒng)獨有的真正非接觸模式。真正非接觸模式下，使用的是相吸而非相排斥的內部原子力。真正非接觸模式因此成功地保持了針尖樣品納米級間距，改善了原子力顯微鏡圖像，保持針尖的銳利，因此有效延長了針尖使用壽命。預對準懸臂支撐預先安裝在探針支撐上，因此不需要嚴格對齊激光束。高分辨率的直接同軸光學元件用戶可直接俯視觀看樣品，操控樣品表面，從而很容易就能找到目標區(qū)域。高分辨率數(shù)碼攝像頭具備變焦功能，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質量。帶DSP控制芯片的XE控制電子元件原子力顯微鏡發(fā)出的納米級信號將由高性能Park XE電子元件控制并處理。Park XE電子元件為低噪聲設計，配備高速處理單元，可成功實現(xiàn)真正非接觸模式，是納米級成像及電壓電流精準測量的理想選擇。- 600 MHz、4800 MIPS速度的高性能處理單元- 低噪聲設計，適合電壓電流精準測量-通用系統(tǒng)，各SPM技術均可得到應用- 外部信號接入模塊，存取原子力顯微鏡輸入/輸出信號- 最多16個數(shù)據(jù)成像- 最大數(shù)據(jù)尺寸：4096 x 4096像素- 16位ADC/DAC，速度達500 kHz- TCP/IP連接，隔離計算機接出電噪

品牌： 日本奧林巴斯 型號： OLS4500 產(chǎn)地：日本 供應商：奧林巴斯（北京）銷售服務有限公司

LEXT OLS4500是一款集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能于一體的新型納米檢測顯微鏡，可以實現(xiàn)從50倍到最高100萬倍的超大范圍的觀察和測量。

品牌： 日立 型號： 5300E 產(chǎn)地：日本 供應商：天美（中國）科學儀器有限公司

產(chǎn)品介紹：AFM 5300E是一款真正的環(huán)境可控型原子力顯微鏡，可通過簡單的操作來選擇高真空環(huán)境、空氣環(huán)境、液體環(huán)境、濕度環(huán)境、特種氣體環(huán)境以及變溫環(huán)境等不同環(huán)境。在高真空環(huán)境下，不僅可以防止樣品表面水膜的形成，提高樣品掃描分辨率和表面物理性能測試測量的準確性；也可以通過Q值控制來提高AFM的掃描靈敏度，進而提升圖像的分辨率。真空環(huán)境還可以避免某些樣品的氧化，也為低溫掃描提供了絕佳的環(huán)境，可以避免空氣中水分子結晶帶來的影響。主要特點：真正的環(huán)境可控，高真空、大氣環(huán)境、特種氣體、液體環(huán)境等具有Q值控制功能，大大提高分辨率高真空下物性測量更加準確更強的溫度控制功能

品牌： 日立 型號： 5100N 產(chǎn)地：日本 供應商：天美（中國）科學儀器有限公司

產(chǎn)品介紹：AFM 5100N 是配備有懸臂梁自感功能的智能型便攜式原子力顯微鏡，它打破了以往只依賴于光杠桿進行懸臂梁位移反饋的傳統(tǒng)檢測方法，其操作簡便，只需將探針安裝好即可進行掃描成像，無需再對光杠桿進行任何調節(jié)。同時5100N還配有智能掃描模式，根據(jù)樣品起伏狀況自動對掃描參數(shù)進行優(yōu)化設計，測量時只需點擊開始按鈕即可自動完成所有測量工作。主要特點：原子級分辨率體積小巧，長度17cm，寬度17cm具有自檢測探針，無需調節(jié)激光對中具有SIS掃描模式，可根據(jù)樣品表面起伏自動調節(jié)掃描速率具有一鍵開啟功能，無需調節(jié)掃描參數(shù)即可獲得高質量圖片測量模式多樣，可以測試材料的電性能、磁性能、力學性能等

品牌： 北京中科艾科米 型號： LT-SPM-MBE 產(chǎn)地：北京 供應商：中科艾科米（北京）科技有限公司

新型潘式掃描探頭，具備qPlus AFM功能，模塊化設計,易于維護 可選光學通道，適于光學實驗 多源MBE樣品制備，可原位沉積 袖珍型進樣室，快速傳輸樣品

品牌： 韓國Park Systems 型號： NX-HDM 產(chǎn)地：韓國 供應商：Park System Crop.

毫無爭議的最佳原子力顯微鏡-自動缺陷檢查和表面粗糙度測量更高的通量，自動的缺陷檢查對于媒介和基體領域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析，從而加速缺陷檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接連接，這意味著自動缺點檢查通量大幅提高。次埃米表面粗糙度測量行業(yè)對于超平媒介和基體的要求越來越高，從而滿足體積不斷減小的設備需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著行業(yè)最低的本底噪聲和獨特的True Non-Contact技術，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量最精確的原子力顯微鏡。* 應用- 媒介和基體自動缺陷檢查更高的通量，自動的缺陷檢查NX-HDM的自動缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良識別、掃描和分析媒介和基體缺陷的流程。借助光學檢查工具提供的缺陷位置圖，Park ADR可自動定位這些位置并進行成像（分兩步）：（1）縮小掃描成像，以準確定位缺陷。（2）放大掃描成像，以獲取缺陷的細節(jié)。在真實缺陷測試中，我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法，該自動功能可將缺陷檢查通量提高到10倍。自動搜尋式掃描和放大掃描經(jīng)過優(yōu)化的掃描參數(shù)讓兩步式掃描更為快速：（1）快速的低分辨率搜尋式掃描，以準確定位缺陷。（2）高分辨率的放大掃描，以獲取缺陷的細節(jié)。掃描尺寸和掃描速度參數(shù)可調節(jié)，從而滿足用戶需求。缺陷坐標圖自動傳入和映射至原子力顯微鏡借助獨有的先進映射算法，從自動光學檢測(APO)工具中獲取的缺陷坐標圖可準確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術讓全自動高通量缺陷成像成為可能。光學檢測工具的缺陷坐標圖- 精確的次埃米表面粗糙度測量次埃米表面粗糙度測量行業(yè)對于超平媒介和基體的要求越來越高，從而滿足體積不斷減小的設備需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著行業(yè)最低的本底噪聲和獨特的True Non-Contact技術，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量最精確的原子力顯微鏡。* 技術特點全自動圖形識別 借助強大的高分辨率數(shù)字CCD鏡頭和圖形識別軟件，Park NX-HDM讓全自動圖形識別和對準成為可能。自動測量控制自動化軟件讓NX-HDM的操作不費吹灰之力。測量程序針對懸臂調諧、掃描速率、增益和點參數(shù)進行優(yōu)化，為您提供多位置分析。自動化軟件會按照測量文件中預設的程序進行樣品測量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測量文件只需要10分鐘左右的時間，而修改現(xiàn)有的測量文件則需要不到5分鐘的時間。Park NX-HDM具有：自動、半自動和手動模式各自動程序的可編輯測量方法測量過程實時監(jiān)測自動分析所獲取的測量數(shù)據(jù)二維柔性導引掃描器，超大的100 μm x 100 μm掃描范圍XY軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆，可在保持平面外運動最少的情況下，實現(xiàn)高正交運動以及納米級樣品掃描下的高響應度。閉環(huán)式XY軸掃描器帶雙軸伺服系統(tǒng)XY軸掃描器的各軸上配有兩個對稱的低噪聲位置感應器，得以在最大的掃描范圍和樣品尺寸下保持高正交掃描。雙感應器能夠修正和補償單感應器引起的非線性和非平面位置誤差。高速Z軸掃描器，掃描范圍達15 μm借助高強度壓電疊堆和柔性結構，標準Z軸掃描器的共振頻率高達9 kHz以上（一般為10.5 kHz）且探針的Z軸移動速率不低于48 mm/秒，讓信息反饋更為準確。最大Z軸掃描范圍可從標準的15 μm擴展至40μm（可選購的遠距離Z軸掃描器）。低噪聲XYZ軸位置傳感器行業(yè)領先的低噪聲Z軸探測器替代Z電壓，作為樣貌信號。此外，低噪聲XY閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。行業(yè)最低的本底噪聲為了檢測最小的樣品特征和成像最平的表面，Park推出行業(yè)本底噪聲最低（ 0.5?）的顯微鏡。本底噪聲是在“零掃描”情況下確定的。當懸臂與樣品表面接觸時，在如下情況下測量系統(tǒng)噪聲：0 nm x 0 nm掃描范圍，停在一個點0.5增益，接觸模式256 x 256像素離子化系統(tǒng)離子化系統(tǒng)可有效地消除靜電電荷。由于系統(tǒng)隨時可生產(chǎn)和位置正離子和負離子之間的理想平衡，便可以穩(wěn)定地離子化帶電物體，且不會污染周邊區(qū)域。它也可以消除樣品處理過程中意外生成的靜電電荷。

品牌： 韓國Park Systems 型號： NX-Wafer 產(chǎn)地：韓國 供應商：Park System Crop.

自動化工業(yè)級原子力顯微鏡，帶來線上晶片檢查和測量Park Systems推出業(yè)內噪聲最低的全自動化工業(yè)級原子力顯微鏡XE-Wafer。該自動化原子力顯微鏡系統(tǒng)旨在為全天候生產(chǎn)線上的亞米級晶體（尺寸200 mm和300 mm）提供線上高分辨率表面粗糙度、溝槽寬度、深度和角度測量。借助True Non-Contact模式，即便是在結構柔軟的樣品，例如光刻膠溝槽表面，XE-Wafer可以實現(xiàn)無損測量。現(xiàn)有問題目前，硬盤和半導體業(yè)的工藝工程師使用成本高昂的聚焦離子束(FIB)/掃瞄式電子顯微鏡(SEM)獲取納米級的表面粗糙度、側壁角度和高度。不幸的是，F(xiàn)IB/SEM會破壞樣品，且速度慢，成本高昂。解決方案NX-Wafer原子力顯微鏡實現(xiàn)全自動化的在線200 mm 300 mm晶體表面粗糙度、深度和角度測量，且速度快、精度高、成本低。益處NX-Wafer讓無損線上成像成為可能，并實現(xiàn)多位置的直接可重復高分辨率測量。更高的精確度和線寬粗糙度監(jiān)控能力讓工藝工程師得以制造性能更高的儀器，且成本顯著低于FIB/SEM。* 應用串擾消除實現(xiàn)無偽影測量 獨特的解耦XY軸掃描系統(tǒng)提供平滑的掃描平臺 平滑的線性XY軸掃描將偽影從背景曲率中消除 精確的特征特亮和行業(yè)領先的儀表統(tǒng)計功能 卓越的工具匹配CD(臨界尺寸)測量出眾的精確且精密納米測量在提高效率的同時，也為重復性與再現(xiàn)性研究帶來最高的分辨率和最低的儀表西格瑪值。* 精密的納米測量媒介和基體亞納米粗糙度測量憑借行業(yè)最低的噪聲和創(chuàng)新的True Non-ContactTM模式，XE-Wafer在最平滑的媒介和基體樣品上實現(xiàn)最精確的粗糙度測量。精確的角度測量Z軸掃描正交性的高精度校正讓角度測量時精確度小于0.1度。溝槽測量獨有的True Non-Contact模式能夠線上無損測量小至45 nm的腐蝕細節(jié)。精確的硅通孔化學機械研磨輪廓測量借助低系統(tǒng)噪聲和平滑輪廓掃描功能，Park Systems實現(xiàn)了前所未有的硅通孔化學機械研磨(TSV CMP)輪廓測量。* Park NX-Wafer特點全自動圖形識別借助強大的高分辨率數(shù)字CCD鏡頭和圖形識別軟件，Park NX-Wafer讓全自動圖形識別和對準成為可能。自動測量控制自動化軟件讓NX-Wafer的操作不費吹灰之力。測量程序針對懸臂調諧、掃描速率、增益和點參數(shù)進行優(yōu)化，為您提供多位置分析。真正非接觸模式和更長的探針使用壽命得益于專利的高強度Z軸掃描系統(tǒng)，XE系列原子力顯微鏡讓真正非接觸模式成為可能。真正非接觸模式借助了原子間的相互吸引力，而非相互排斥力。因此，在真正非接觸模式下，探針與樣品間的距離可以保持在幾納米，從而蓋上原子力顯微鏡的圖像質量，保證探針尖端的鋒利度，延長使用壽命。解耦的柔性XY軸與Z軸掃描器Z軸掃描器與XY軸掃描器完全解耦。XY軸掃描器在水平面移動樣品，而Z軸掃描器則在垂直方向移動探針。該設置可實現(xiàn)平滑的XY軸測量，讓平面外移動降到最低。此外，XY軸掃描的正交性和線性也極為出色。行業(yè)最低的本底噪聲為了檢測最小的樣品特征和成像最平的表面，Park推出行業(yè)本底噪聲最低（ 0.5?）的顯微鏡。本底噪聲是在“零掃描”情況下確定的。當懸臂與樣品表面接觸時，在如下情況下測量系統(tǒng)噪聲： 0 nm x 0 nm掃描范圍，停在一個點 0.5增益，接觸模式256 x 256像素* 選項高通量自動化自動探針更換(ATX)借助自動探針更換功能，自動測量程序能夠無縫銜接。該系統(tǒng)會根據(jù)參考圖形測量數(shù)據(jù)，自動校正懸臂的位置和優(yōu)化測量設定。創(chuàng)新的磁性探針更換功能，成功率高達99%，高于傳統(tǒng)的真空技術。設備前端模塊(EFEM)實現(xiàn)自動晶體處理您可以為NX-Wafer加裝自動晶片裝卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度無損晶片裝卸機械臂能夠百分百保證XE-Wafer用戶享受到快速且穩(wěn)定的自動化晶片測量服務。長距離移動平臺，助力化學機械研磨輪廓掃描該平臺帶有專有的用戶界面，可支持自動化學機械研磨輪廓掃描和分析。平面外運動(OPM)在樣品為5 mm時小于2 nm；10 mm時小于5 nm；50 mm時小于100 nm離子化系統(tǒng)離子化系統(tǒng)可有效地消除靜電電荷。由于系統(tǒng)隨時可生產(chǎn)和位置正離子和負離子之間的理想平衡，便可以穩(wěn)定地離子化帶電物體，且不會污染周邊區(qū)域。它也可以消除樣品處理過程中意外生成的靜電電荷。

品牌： 韓國Park Systems 型號： NX-PTR 產(chǎn)地：韓國 供應商：Park System Crop.

全自動原子力顯微鏡實現(xiàn)準確的硬盤磁頭滑塊測量，讓偉大變得簡單Park Systems的PTR系列是全自動工業(yè)級線上原子力顯微鏡解決方案，適用于（不限于）長形條、磁頭萬向節(jié)組件(HGA)級滑塊以及單獨滑塊的極尖沉降自動測量。憑借著亞納米級精確度、高重復精度以及高通量，PTR系列是滑塊廠商提高整體產(chǎn)量的理想測量工具。自動化、快速、精確且可重復的極尖沉降測量硬盤驅動滑塊制造業(yè)要求工具不僅可以快速且流暢地測量極尖沉降，同時保證最高標準的精確度。這便是Park NX-PTR大展身手的領域。在超精確的極尖沉降測量之外，自動化功能可極大程度提高效率。這讓NX-PTR成為硬盤驅動器滑塊廠商的最佳選擇，兼顧最佳的質量和最高的產(chǎn)量。高通量，無需多次參考掃描大多數(shù)原子力顯微鏡需要多次掃描才可以準確測量極尖沉降，首先是大區(qū)域參考掃描，隨后小區(qū)域高分辨率掃描。多次掃描占用大量時間，且限制了通量的提高。我們的掃描系統(tǒng)帶來真正的平面掃描，有效地降低掃描次數(shù)。此外，True Non-Contact模式讓探針保持鋒利，在延長使用壽命的同時，提供更持久的高分辨率成像效果。相應地，Park NX-PTR能夠生成感興趣區(qū)域的詳細準確圖像，而無需進行參考掃描，以便修正掃描器偽影。* 應用自動硬盤滑塊測量隨著硬盤滑塊的尺寸越來越小，復雜性越來越高，提高產(chǎn)量的關鍵在于實現(xiàn)納米級的精確度。 Park NX-PTR恰恰具備這樣的精確且自動的硬盤滑塊測量。自動極尖沉降測量與分析借助NX-PTR系統(tǒng)，極尖沉降測量可實現(xiàn)全自動，帶來更高的通量，無論是對于載體、長形條，還是滑塊。Park Systems的工業(yè)級院里子顯微鏡精確且穩(wěn)定的全自動化極尖沉降(PTR)測量成為可能。極尖沉降量的監(jiān)測要求測量精度達到0.1 mm，這意味著離測量表面只有20 μm遠。自動墻角測量與分析實現(xiàn)各類墻角的自動測量與分析。自動缺陷測量與分析實現(xiàn)各類缺陷的全自動測量與分析，如表面尖角。* Park NX-PTR的特點低噪聲XYZ軸位置傳感器，帶來更精確的掃描效果NX-PTR擯棄了常見的非線性Z軸電壓信號，而是采用超低噪聲Z軸探測器，從而帶來無與倫比的形貌高度精度。憑借著行業(yè)領先的低噪聲Z軸探測器，正向掃描和反向掃描間隙得以降到掃描范圍的0.15%以內，甚至可以忽略不計，而這時Z軸形貌信號所無法企及的。熱漂移和滯后極小，大大降低探針漂移NX-PTR具備極為突出的熱穩(wěn)定性和機械穩(wěn)定性，從而大大降低熱漂移，實現(xiàn)更為精確的測量。一般情況下，橫向熱漂移率低于100 nm/°C，而垂直熱漂移率則低于200 nm/°C。測量控制自動化，釋放您的雙手NX-PTR配有自動化軟件，操作起來輕而易舉。您只需要選擇想要的測量程序，并設定相應的懸臂調諧、掃描速率、增益和點參數(shù)，便可取得多位置分析。此外，Park的用戶友好型界面讓您能夠隨意創(chuàng)建自定義作業(yè)程序，以便您完全發(fā)揮NX-PTR的實力，滿足所有的測量需求。創(chuàng)建新的作業(yè)程序極為簡單。創(chuàng)建新測量文件只需要10分鐘左右的時間，而修改現(xiàn)有的測量文件則不超過5分鐘的時間。Park NX-PTR的自動化系統(tǒng)具備：自動、半自動和手動模式，讓您掌控全局 各自動程序的可編輯測量方法 測量過程實時監(jiān)測 自動分析所獲取的測量數(shù)據(jù) ＊ 選項自動探針更換（選配）Park推出的自動探針更換系統(tǒng)讓您的自動測量程序可以無縫續(xù)航。該系統(tǒng)會根據(jù)參考圖形測量數(shù)據(jù)，自動校正懸臂的位置和優(yōu)化測量設定。創(chuàng)新的磁性探針更換成功率高達99%，讓您無需分心監(jiān)督探針更換！自動激光準直（選配）Park的自動激光準直系統(tǒng)讓您無需輸入任何數(shù)據(jù)，便可持續(xù)自動測量。憑借著我們先進的預準直懸臂架，激光在自動更換探針時便已對準懸臂。只需要調整定位旋鈕，便可在X和Y軸上任意定位激光光點，達到最佳位置。離子化系統(tǒng)可創(chuàng)造更穩(wěn)定的掃描環(huán)境創(chuàng)新的離子化系統(tǒng)能夠快速有效地消除樣品的靜電電荷。由于系統(tǒng)能夠讓陰陽離子保持完美的平衡狀態(tài)，樣品得以處在極其穩(wěn)定的電荷環(huán)境中。同時，對周邊區(qū)域的污染幾乎可以忽略不計，并將樣品操作時意外產(chǎn)生靜電電荷的幾率降到最低。

品牌： 德國布魯克 型號： Dimension FastScan 產(chǎn)地：美國 供應商：上海禹重實業(yè)有限公司

Dimension FastScan 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension Icon超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。為提高AFM使用效率和檢測性能，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨率，不增加操作復雜性，不影響儀器使用成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng)，即快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數(shù)為掃描速度 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。■采用最低熱漂移的針尖掃描AFM技術，提高了系統(tǒng)的固有振動頻率?！鰬眯碌腘anoScope控制器，為機器提供了更高的帶寬?！鲩_發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝，在空氣中共振頻率為1.3MHz，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz?！霾捎昧说驮胍舻臋C械和電子的主要部件，結合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術上獲得了重大突破?！龈叩膸捥峁┝司_的力控制和高掃描速度，結合高精度的閉環(huán)控制，在效率上遠遠高于其它任何商業(yè)化的AFM?！鲆?0Hz掃描速度進行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高，即使使用更高的掃描速度 100Hz,圖像分辨率同樣不會降低?！鲈赟canAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片?！鯶方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，同時在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差 1%，真正使Fastscan成為了世界上第一臺快速掃描AFM?！?自動的激光和檢測器的調節(jié)使得實驗的組建更為快速有效。■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導航軟件MIRO，利用光學成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內分辨并抓取納米級的樣品特征。最新的光學系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到最好的激光信號調節(jié)?！?針尖掃描系統(tǒng)的設計與210mm大尺寸樣品臺結合，消除了樣品尺寸的限制，同時維持了最低的噪音和熱漂移水平。

品牌： 蘇州飛時曼 型號： FM-Nanoview 1000 產(chǎn)地：蘇州 供應商：蘇州飛時曼精密儀器有限公司

1、 掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強； 2、 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節(jié)光斑簡單方便； 3、 采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描； 4、 馬達自動脈沖控制驅動樣品垂直接近探針，實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位； 5、 高精度樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域； 6、 帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng)，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域； 7、 模塊化的電子控制系統(tǒng)設計

品牌： 德國布魯克 型號： Dimension Icon 產(chǎn)地：德國 供應商：北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司

布魯克Dimension Icon原子力顯微鏡Bruker Dimension Icon 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的AFM應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應用最廣泛的AFM大樣品平臺為基礎，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術經(jīng)驗，廣大客戶反饋，結合工業(yè)領域的設備需求，進行全面革新。全新的系統(tǒng)設計，實現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。技術參數(shù)：X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，最小85umZ方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；最小9.5um垂直方向噪音基底： 30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬（達到625Hz）X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.15nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.10nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）Z傳感器噪音水平（閉環(huán)）：35pm RMS, 典型成像帶寬（達到625Hz）整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤樣品臺，直徑≤210mm, 厚度≤15mm電動定位樣品臺（X-Y軸）：180mm*180mm可視區(qū)域；單向2um重復性；雙向3um重復性。顯微鏡光學系統(tǒng)：五百萬像素數(shù)字照相機 180um至1465um可視范圍數(shù)字縮放及自動對焦功能控制器：NanoScope V型控制器工作臺：整合所有控制器、結合人體工學設計，提供直接的物理或可視借口震動隔絕：整體式氣動減震臺聲音隔絕：可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音產(chǎn)品特點：終極體驗獨特的傳感器設計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率高效率XYZ閉環(huán)掃描器的完美設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率全功能針尖和樣品之間開放式的空間設計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求硬件和軟件技術的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質

品牌： 美國是德科技 型號： 9500 產(chǎn)地：美國 供應商：安捷倫科技（中國）有限公司納米測量部

是德科技9500原子力顯微鏡完美的整合最新的操作軟件、全新的高帶寬數(shù)字化控制器，采用先進的機械結構設計，提供超快的掃描速度和操作便利性。是德科技9500原子力顯微鏡專為科學研究和工業(yè)研發(fā)用戶而設計，非常適合擴展原子力顯微鏡在材料科學、生命科學、高分子科學和電學特性表征等領域中的應用。借助是德科技新推出的快速掃描（Quick Scan）技術，9500原子力顯微鏡可以實現(xiàn)業(yè)界一流的掃描速率，在256*256pixels的條件下，掃描速度最快可以達到2秒/幀。Quick Scan是一個系統(tǒng)選件，由是德科技新推出的功能強大的成像和分析軟件包NanoNavigator來控制。除了支持Quick Scan功能以外，NanoNavigator軟件還能使用新增的Auto Drive功能來自動優(yōu)化9500全部參數(shù)的設置，幫助研究人員節(jié)省寶貴時間。AFM新用戶和專家用戶都可以使用NanoNavigator中基于工作流程的圖形用戶界面，這個高效的用戶界面提供直觀、引人注目的視覺信息，可以指導用戶逐步地完成系統(tǒng)設置和操作。更為方便的是，NanoNavigator的智能手機/平板電腦移動應用允許用戶遠程監(jiān)控在9500上運行的AFM實驗。是德科技9500系統(tǒng)提供一個大范圍（90 μm）閉環(huán) AFM 掃描器獲得原子級分辨率成像，能夠提供業(yè)內領先的環(huán)境控制和超高精度的溫度控制等特性。9500在液態(tài)、氣態(tài)和大氣條件下能夠提供出色的成像。研究人員還可以使用9500AFM實現(xiàn)單程納米級電學性能表征。借助高帶寬、基于FPGA的數(shù)字控制器，9500AFM可以確保在高速操作時的高精度，且無需添加額外的外置控制箱。是德科技9500原子力顯微鏡優(yōu)化的結構設計，可以讓研究人員快速、方便地獲取他們的樣品。系統(tǒng)的標配探頭支持超過6種最常用的AFM成像模式，根據(jù)需要可輕松地與特定探頭更換，以實現(xiàn)9500 AFM的功能擴展。優(yōu)勢：全新的NanoNavigator軟件高帶寬，基于FPGA的數(shù)字控制器，保證高速高精度90um閉環(huán)掃描器進行原子級成像杰出的環(huán)境和溫度控制可在液態(tài)、氣態(tài)，以及大氣條件下成像單程實現(xiàn)納米級的電學性能表征STM掃描器對導電材料進行研究

品牌： 美國是德科技 型號： 5600LS 產(chǎn)地：美國 供應商：安捷倫科技（中國）有限公司納米測量部

是德科技5600LS AFM是獨一無二的、高精度、大樣品臺原子力顯微鏡。它也可與STM掃描器配合使用，既可以在空氣環(huán)境中對大樣品進行高精度的成像掃描，又可以在液態(tài)環(huán)境下（溫度可控），對小型樣品進行高精度成像。它配有200mm的真空吸盤，樣品直徑尺寸最大可至8英寸，厚度可達30mm。根據(jù)需要，5600LS AFM也可安裝12英寸硅片。優(yōu)勢 方便的適用于8英寸或12英寸的樣品 實現(xiàn)原子級的分辨率 極其的自動化設計，使用非常簡單 樣品臺納米級的步進精度，且全閉環(huán)控制 重復定位精度極高 特殊的設計，能提供超小的熱漂水平應用 電子材料 半導體材料 數(shù)據(jù)存儲材料 材料科學 聚合物科學

品牌： 美國是德科技 型號： 5500ILM 產(chǎn)地：美國 供應商：安捷倫科技（中國）有限公司納米測量部

是德科技5500ILM AFM配有專用接口平臺，可方便地將高精度AFM成像部件直接與各類倒置顯微鏡聯(lián)用，從而實現(xiàn)多種顯微手段同時成像，既可以得到光學的明場像、暗場像、熒光圖或激光共聚焦圖，又可以輕松獲得原子力圖像；對用一個樣品的同一個位置同時原位得到高襯度的光學圖和高分辨的AFM圖，這是生命科學領域用戶最心儀的顯微解決方案。5500ILM AFM還具有很強的兼容性，可與各個廠商的倒置顯微鏡和激光共聚焦聯(lián)用，也可支持FRET，暗場和明場成像多種光學附件功能。優(yōu)勢 AFM和光學（熒光）顯微鏡同時成像 獨特的MAC模式和樣品臺設計，便于液態(tài)成像操作 特殊的結構設計，用戶可直接調整樣品臺 真正模塊化設計，大大提高系統(tǒng)的靈活性應用 生命科學 聚合物科學 納米球

品牌： 美國是德科技 型號： 7500 產(chǎn)地：美國 供應商：安捷倫科技（中國）有限公司納米測量部

7500 AFM/SPM 作為最新一代高分辨多用途平臺，設定了全新的性能、功能和易用性標準，可以輕松實現(xiàn)納米級的測量、表征和操作。7500 AFM/SPM 系統(tǒng)實現(xiàn)了對現(xiàn)有原子力顯微鏡的擴展，提供最先進的 90 um 閉環(huán)掃描控制，高精度溫度與環(huán)境控制，以及無與倫比的電化學能力等。7500 AFM/SPM 結構設計緊湊優(yōu)化，研究人員可快速方便的研究他們的樣品。標準探頭可支持各種不同的 AFM 成像模式，也可根據(jù)需要更換特定的探頭，輕松實現(xiàn)功能擴展。優(yōu)勢● 90 um 閉環(huán)掃描器進行原子級成像● 杰出的環(huán)境和溫度控制● 可在液態(tài)、氣態(tài)，以及大氣條件下成像● 單程實現(xiàn)納米級的電學性能表征● 無與倫比的電化學能力● 優(yōu)越的納米刻蝕及操縱能力

品牌： 美國是德科技 型號： 5500 產(chǎn)地：美國 供應商：安捷倫科技（中國）有限公司納米測量部

是德科技的5500 AFM/SPM多功能掃描探針顯微鏡是用于學術和應用研究中功能最多樣化的掃描探針顯微鏡。原子分辨、獨特的優(yōu)勢、真正的模塊化設計能滿足您最多樣化的需求，靈巧簡單的組合就可提供您一臺最個性化的SPM系統(tǒng)，幫助您輕松實現(xiàn)多模式、多功能精確成像且使用簡便、性能可靠。對于生物學家、化學家、材料科學家、物理學家或其他科研人員來講，5500 AFM/SPM是一個非常理想的選擇，既能提供多場控制下的高清晰圖象、又可以提供與其它研究手段，如鐵電儀,多功能熱分析儀，激光共聚焦，拉曼顯微鏡等裝置的聯(lián)用的功能。是德科技5500AFM/SPM為實驗室提供了模塊化的解決方案，包括顯微鏡部分、多達4種XYZ掃描器。為了降低機械噪音，5500采用剛性材料和剛性結構設計。掃描頭集成緊湊，采用專利的鐘擺設計，利于保持平衡，使XY耦合降到最低，同時明顯減少蠕動和滯后現(xiàn)象。 是德科技5500AFM/SPM采用低干涉激光、小尺寸束斑等技術來獲得低干涉成像。掃描頭激光的位置可以確保激光始終聚焦在懸臂梁相同的位置上。在非常敏感的測量中，該位置可以提供絕對的準確度（力的測量過程中），有助于消除假象。 是德科技5500AFM/SPM帶有功能多樣的環(huán)境控制。在成像中可以方便的通入各種實驗需要的惰性氣體，反應性氣體，高濕度實驗氣體，腐蝕性氣體等等，并可以結合變溫，電化學，液相和可變電磁場的成像。同時，可以確保用戶在特定環(huán)境下制樣，真正實現(xiàn)原位控制和成像。

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： Ntegra AFAM 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

原子力聲學顯微鏡是基于福朗霍夫非破壞性測量研究所(Saarbrucken,Germany)Walter Arnold教授的工作研制的。Hirsekorn等精辟地描述了常規(guī)的AFM與AFAM之間的差別。在常規(guī)AFM中，當掃描材料表面時，懸臂（cantilever）振動，樣品和儀器頂端產(chǎn)生力。而在AFAM 中，一個聲學調制器被放在樣品的下面，產(chǎn)生垂直和水平的振動。系統(tǒng)利用懸臂產(chǎn)生的屈曲和扭轉，基于樣品局部的彈性、粘性和摩擦性質產(chǎn)生圖象。這種分析類型叫做接觸共振光譜學（contact resonancespectroscopy），并同時產(chǎn)生拓撲結構光譜和AFAM圖象。NT-MDT網(wǎng)站上有動畫來解釋真實的實驗以及衍生出來的圖象和測量結果。

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： Prima 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

儀器簡介：NTEGRA平臺是一個革命性的技術概念，在擁有所有SPM技術：原子力/磁力/靜電力/表面電勢/導電原子/掃描電容/壓電力/納米刻蝕等功能的同時，還能配備近場光學顯微鏡/共聚焦拉曼/外加磁場/超聲原子力/納米壓痕等功能！。Prima則是這個平臺中的基礎SPM，可以在此基礎上根據(jù)科 研需求提供多達40 中SPM 功能，其中的每種功能都有一套在其專業(yè)領域有著杰出表現(xiàn)的獨特配置?？蛇x擇配備獨一無二的雙掃描結構可以將掃描范圍擴展最大到200x200um。技術參數(shù)：在大氣環(huán)境下：掃描隧道顯微鏡/ 原子力顯微鏡(接觸 +半接觸+非接觸)/橫向力顯微鏡/相位成像/力調制/力譜線/粘附力成像/磁力顯微鏡/靜電力顯 微鏡/掃描電容顯微鏡/開爾文探針顯微鏡/擴展電阻成像/納米壓痕/刻蝕: 原子力顯微鏡(電壓+力)/壓電力模式/超聲原子力/外加磁場/溫度控制/氣氛控制等功能。在液體環(huán)境下：原子力顯微鏡(接觸+半接觸+非接觸)/橫向力顯微鏡/相位成像/力調制/粘附力成像/力譜/刻蝕:測量頭部：AFM和SPM可選配液相模式和納米壓痕測量頭掃描方式：樣品掃描、針尖掃描、雙掃描最大樣品尺寸：樣品掃描：直徑40mm，厚度15mm。針尖掃描：樣品無限制XY樣品定位裝置：移動范圍5×5um，精度5um掃描范圍：90×90×9um（帶傳感器/閉環(huán)控制），可選配低電壓模式實現(xiàn)原子級分辨XY方向非線性度：≤0.5%（帶傳感器/閉環(huán)控制）Z方向噪音水平（帶寬1000Hz時的RMS值）：閉環(huán)控制掃描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光學顯微系統(tǒng)：配備高數(shù)值孔徑物鏡后，分辨率可由3um提升至1um樣品溫度控制：室溫~300℃主要特點：Ntegra Prima 是一個基本的SPM 系統(tǒng)，在這平臺上可以根據(jù)科研需要提供40 種SPM 功能。Ntegra Aura 是一款能在氣氛控制以及低真空環(huán)境下工作的SPM，專門用于電磁等測量。Ntegra Therma 只有10nm/h 熱漂移能長時間可靠工作，并且能在-30℃~300℃環(huán)境下測量。Ntegra Maximus 能夠測量100mm 的大樣品，在半自動模式下可以連續(xù)工作。Ntegra Solaris 是一款近場光顯微鏡，能夠提供所有近場探測模式，從而突破衍射極限。Ntegra Vita 能與倒置顯微鏡聯(lián)用，專門用于生物方面的檢測。Ntegra Tomo 能與超薄切片機聯(lián)用，且制備用于研究的納米片層的新鮮表面（也適用于電鏡）。Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 從而實現(xiàn)針尖增強（TERS）

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： NTEGRA SNOM 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

用超越激光衍射極限的系統(tǒng)來研究樣品NTEGRASpectra 在檢測樣品時，通過掃描近場光學顯微術能提供超越激光光學衍射的光學分辨率。支持兩種不同的SNOM方式：光纖式SNOM和懸臂梁式SNOM所有的SNOM功能模式：透射模式，反射模式，收集模式。所有SNOM的信號都可以被檢測：激光強度，熒光強度，光譜信號等。SNOM刻蝕：矢量式，光柵式。

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： NTEGRA Spectra 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

儀器簡介：NTEGRA Spectra 是一款獨特的集成了掃描探針顯微鏡、激光共聚焦/熒光顯微鏡和拉曼光譜儀的系統(tǒng)。其強大的TERS效應，可在得到拉曼光譜的同時獲得高達50nm的成像分辨率。只有NTEGRA Spectra能在軟件、硬件等技術方面為集成Renishaw的拉曼光譜系統(tǒng)提供完美的方案，以便用戶能在分子水平上用不同的技術手段來分析、研究樣品。這樣的集成，能讓用戶極大的提高工作效率，將更多的時間用于數(shù)據(jù)采集和分析，而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。所以，可以負責任的說：真正的集成是遠遠優(yōu)于簡單的組合的。激光共聚焦顯微鏡/拉曼光譜儀系統(tǒng) NTEGRA Spectra 系統(tǒng)集成了激光掃描共焦光譜儀、光學顯微鏡和常規(guī)的掃描探針顯微鏡。該系統(tǒng)能用于發(fā)光光譜和拉曼散射的三維成像、所有的SPM功能，包括納米壓痕、納米加工和納米刻蝕等。.掃描探針顯微鏡除了光學檢測外，NTEGRA Spectra還可使用SPM的方法來研究樣品，諸如：AFM、MFM、STM、SNOM、力譜等等。這樣獨特的集成了光學方法和掃描探針方法合二為一的系統(tǒng)，為用戶完成復雜的實驗變成可能，用戶可從實驗中得到樣品的光學分布信息、化學性質、力學性質、電學性質和磁學性質等。 用超越激光衍射極限的系統(tǒng)來研究樣品NTEGRASpectra 在檢測樣品時，能提供超越激光光學衍射的光學分辨率。近場光學顯微鏡和TERS系統(tǒng)能讓用戶得到光學性質分布圖（激光傳輸、散射和偏振等）的同時獲得拉曼散射光譜和高達50nm的XY方向分辨率。技術參數(shù)：共聚焦顯微鏡光學模塊 正置或倒置光學顯微鏡觀測系統(tǒng) 可見光譜測量(390-800nm) 激發(fā)光路中配置手動式格蘭-泰勒起偏棱鏡390-1000nm 檢測光路中配置電動式格蘭-泰勒檢偏棱鏡390-1000nm 三軸定位電動式1/2波片 光束分離器 可選配倏逝激發(fā)系統(tǒng)（用于TERS） 光學分辨率 XY：200nm Z：500nm掃描模塊 最大樣品質量：1000g 最大掃描范圍：100x100x25 um XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng) XY方向非線性度：0.03 % （典型值） Z方向噪音水平： 0.2 nm （典型值）XY方向噪音水平： 0.5 nm（典型值）共聚焦針孔直徑0~1.5mm可調，步進0.5 um注：無論樣品是否透明，都可用我們的共聚焦顯微鏡在空氣或液體環(huán)境中對其進行研究。拉曼光譜儀 光譜儀焦長520 mm 激光器波長*441, 488, 514, 532, 633 nm雜散光抑制10-5，（20nm 用632nm激光器 ）平場面積28 mm x 10 mm 光譜分辨率0.025 nm (1200 l/mm光柵**)端口1輸入，2輸出 光柵座4孔轉盤（3 個光柵+“直接成像”模式用的反射鏡） 探測器CCD：光譜響應范圍：2001000 nm，電冷裝置冷卻至80°C，500nm時95% 量子效率用于光子計數(shù)的APD***：光譜相應范圍：4001000 nm，暗計數(shù)=25/秒，提供高達1GHz計算速度的PCI卡。 * 標準配置中包括一套488 nm激光器，其他波長激光器可選配 ** 可選配其他光柵。小階梯光柵具有最高的光譜分辨率 ***可選用PMT掃描近場光學顯微鏡 功能模式：剪切力成像/SNOM反射模式，透射模式，熒光模式（選配） 激光模塊耦合裝置：X-Y-Z 定位器，定位精度1 um V型槽光纖固定器 裝配40x物鏡 光纖傳輸系統(tǒng) KineFlexTM 光束衰減器：可配多種減光鏡 剪切力成像 樣品尺寸：最大直徑100mm，最大厚度15mm XY二維樣品移動平臺：樣品定位范圍5x5mm，樣品定位精度5umXYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng)樣品掃描式 針尖掃描式 掃描范圍 100x100x25 um 100x100x7 um 非線性度 XY 0.03 %（典型值） 0.15% 噪音水平 Z 0.2 nm（典型值）0.04nm（典型值）， =0.06nm 噪音水平 XY 0.5 nm（典型值）0.2 nm（典型值）， =0.3 nm 石英音叉基頻 190 kHz 光纖孔徑 100nm 可同時采集的數(shù)據(jù)通道 反射模式透射模式/熒光模式 PMT 光譜響應范圍：185-850 nm靈敏度：3x1010，420 nm時隔振系統(tǒng) 主動式：0.7-1000 Hz 被動式：大于1 kHz掃描探針顯微鏡 功能模式：AFM（接觸+半接觸+非接觸）/側向力模式/相位成像模式/力調制模式/粘滯力成像/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡/掃描電容顯微鏡/掃描開爾文探針顯微鏡/擴展電阻成像模式/刻蝕：AFM（力和電流） 樣品尺寸*最大直徑100mm，最大厚度15mm 掃描范圍50x50x5 um 閉環(huán)控制系統(tǒng)**XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng)，采用電容傳感器 非線性度 XY 0.15% 噪音水平Z 0.06 nm（典型值）， =0.07nm 噪音水平 XY 0.1 nm（典型值）， =0.2 nm (XY 50 um) *掃描頭部可單獨使用，此時對樣品尺寸和重量無限制 **內置的電容傳感器擁有極低的噪音水平，即使降到50x50 nm的區(qū)域也可以用閉環(huán)控制來掃描主要特點：AFM探針和激光光斑完美的同步協(xié)調。AFM探針可在納米級的精度上定位于激光光斑中在TERS中，這是必要的條件。在激光掃描和樣品掃描的6個軸中，全部采用全量程閉環(huán)控制系統(tǒng)。高數(shù)值孔徑的光學物鏡和SPM系統(tǒng)緊密的集成在一起，讓系統(tǒng)的光學穩(wěn)定性達到前所未有的高度為長程和微弱的信號而設計。反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。電冷至-70°C的CCD，用于光譜探測和成像。也可選用APD來進行光子計數(shù)。在激發(fā)通道和檢測通道中，用戶可靈活方便的配置偏光光路。多功能的集成軟件控制系統(tǒng)，所有的系統(tǒng)模塊包括AFM、光路系統(tǒng)和機械系統(tǒng)都由統(tǒng)一的軟件來控制。激光器、光柵、針孔等等，都可由軟件來切換或調節(jié)。NT-MDT可根據(jù)用戶需求定制不同使用需求的TERS系統(tǒng)。

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： Solver Nano 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

儀器由主機和控制系統(tǒng)、專用工具、操作軟件及附件組成。主要用于化學、材料科學（納米材料、高分子、聚合物、半導體等）、生命科學以及相關領域的研究工作，對各種材料、化工產(chǎn)品、生物制品、非金屬礦及深加工產(chǎn)品等進行觀測，并對其表面形貌進行分析。掃描隧道顯微鏡功能：恒流模式、恒高模式、I(Z)譜、I(V)譜原子力顯微鏡功能：形貌成像、相位成像、磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、擴展電阻成像、開爾文探針顯微鏡、力－距離曲線、振幅－距離曲線、I(V)譜刻蝕功能：力刻蝕、電流刻蝕、矢量刻蝕

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： Solver NEXT 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

技術參數(shù)：測量模式： STM/ AFM (接觸 + 輕敲+非接觸)/ 橫向力/ 相位/ 力調制/力譜/粘附力/磁力/靜電力/ 開爾文/ 擴展電阻/納米壓痕/納米刻蝕: AFM (電壓刻蝕 + 力刻蝕)掃描方式：樣品掃描測量頭部：AFM和SPM（全內置自動切換），可選配液相模式和納米壓痕測量頭最大樣品尺寸：直徑20mm，厚度10mmXY樣品定位裝置：移動范圍5×5um，軟件控制電動定位XY樣品定位裝置最小步進：0.3um掃描范圍：100×100×10um（三維全量程閉環(huán)控制掃描器），3×3×2um（低電流模式掃描器）XY方向非線性度：≤0.1%（閉環(huán)控制掃描器）Z方向噪音水平（帶寬10~1000Hz時的RMS值）：閉環(huán)控制掃描器（典型值0.03nm，最大0.04nm），低電流模式掃描器（0.02nm）激光光路系統(tǒng)：電動調節(jié)，全自動準直視頻顯微系統(tǒng)：軟件控制電動變焦和連續(xù)變倍，軟件控制變換視野，分辨率2um樣品溫度控制：室溫~150℃主要特點：全自動化桌面型SPM直觀易用的軟件界面全自動切換AFM和STM掃描頭自動調整激光光路（懸臂激光四象限光電探測器）軟件控制的電動樣品定位平臺視頻顯微鏡系統(tǒng)軟件控制電動聚焦和變倍視頻顯微鏡系統(tǒng)軟件控制定位樣品觀察視野電動開關樣品室門切換不同的測量模式，軟件自動調節(jié)最優(yōu)參數(shù)人體工程學設計

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： Prima PFM 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

壓電響應力原子力（PFM）是在原子力顯微鏡（AFM）的基礎上，用導電探針在壓電材料上進行測試，得到納米尺度的壓電場機壓電分布。具有分辨率高，掃描速度快等特點。PFM可以應用到如下領域：1.鐵電材料。2.半導體材料3.生物材料

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： Prima EC AFM 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

EC AFM是在原子力顯微鏡樣品臺上安裝電化學池，可以在納米尺度進行電化學性能的研究。在電化學發(fā)生的同時，進行樣品表面的形貌測試。1.安裝電化學池非常便捷。2.開放的設計，允許用戶進行改變。3.電化學池的設計，可以用于很寬范圍樣品的測試，包括不同樣品的厚度，形狀?？梢耘浼訜崤_和冷卻臺。4.可以用絕緣的介質防止電解液被污染。5.樣品跟壓電陶瓷掃描管分離，避免掃描器損壞。6.很寬的電極類型。 7.高分辨率（可以達到原子級別）。

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： Prima MFM 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

NT-MDT磁力顯微鏡（MFM）是通過磁力探針在磁性材料樣品上掃描，可以得到樣品納米尺度的形貌特征，磁力大小以及磁場分布的一種分析設備。具有分辨率高，穩(wěn)定性好，掃描范圍大，響應快等特點。

品牌： 俄羅斯NT-MDT 型號： NTEGRA Prima 產(chǎn)地：俄羅斯 供應商：俄羅斯NT-MDT公司上海代表處（恩特-夢迪特服務和物流有限公司）

壓電響應力顯微術 (PFM)生物材料與鐵電材料等的成像許多材料的機電耦合行為，如生物基細胞膜和蛋白質，鐵電和壓電材料從現(xiàn)在開始都可以用壓電響應力顯微鏡來表征。這一成像技術在開發(fā)基于鐵電疇變等的新型電子設備方面引起了極大的關注，在對將來電腦存儲等領域的諸多應用方面的發(fā)展有著巨大的潛力。壓電響應力顯微術是在掃描探針顯微鏡的基礎上，在接觸式掃描過程中對探針施加一個交流電壓，利用材料自身逆壓電效應來探測樣品表面形變的一類技術總稱（見圖1）。壓電響應力顯微術已經(jīng)成為鐵電材料研究的重要手段，廣泛應用于納米尺度疇結構的三維成像、疇結構的動態(tài)研究、疇結構控制和微區(qū)壓電、鐵電、漏電等物理性能表征等領域。其最大的優(yōu)勢就是同時具有極高的分辨率（~10-20 nm）和靈敏度（~0.1 pm/V）。

品牌： 日本島津-GL 型號： SPM-8100FM 產(chǎn)地：日本 供應商：島津企業(yè)管理（中國）有限公司

SPM-8000FM 觀察生動的納米世界使用調頻模式的最新型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環(huán)境中實現(xiàn)超高分辨率，而且首次觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡HR-SPM特點使用調頻模式空氣和液體中的噪音降低到傳統(tǒng)模式的二十分之一在空氣和液體環(huán)境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率現(xiàn)有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調頻模式(frequency modulation) 可以達到更高的分辨率。SPM： 掃描探針顯微鏡AFM： 原子力顯微鏡AM： 調幅模式FM： 調頻模式與現(xiàn)有SPM/AFM的區(qū)別液體環(huán)境中原子分辨率觀察NaCl飽和溶液中觀察固體表面的原子排列。使用調幅模式的傳統(tǒng)原子力顯微鏡，圖像完全被噪音遮蓋（左圖），但在調頻模式下，原子排列清晰可見（右圖）。調頻模式實現(xiàn)了真正的原子級分辨率。 空氣中Pt催化劑顆粒的觀察1)KPFM: 掃描開爾文顯微鏡TiO2基底上的Pt顆粒， 通過KPFM進行表面電勢的測定，TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰識別。同時可以觀察到數(shù)納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色區(qū)域是正電勢，藍色區(qū)域是負電勢。對于PKFM觀察，F(xiàn)M模式也大幅提高了分辨率。 注: KPFM需要特定的基底。

品牌： 日本島津-GL 型號： SPM-9700HT 產(chǎn)地：日本 供應商：島津企業(yè)管理（中國）有限公司

探知未來原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。 新開發(fā)的可快速響應的HT掃描器加之軟件與控制系統(tǒng)設計的優(yōu)化，成功實現(xiàn)掃描速度比傳統(tǒng)設備快5倍以上。獨具匠心的探針更換夾具，讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松。樣品交換時也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性優(yōu)異，分析時間也大幅度縮短?？蓮牟煌嵌确糯罄靾D像進行確認。鼠標操作簡單，更可進行3D斷面形狀分析。按照操作指南指導操作順序，使用導航功能直接鎖定觀察位置，實現(xiàn)了SPM的快速簡便的觀察具備豐富的測定模式和優(yōu)異的擴展性，可對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。 控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進行樣品處理，并直接進行SPM觀察。選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。 粒度分析軟件從圖像數(shù)據(jù)中選取復數(shù)顆粒，對每一顆粒進行特征量的計算，并進行分析、顯示，以及及進行統(tǒng)計處理。 微小部熱分析試驗儀器復合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進行樣品表面的三維形貌觀察和點的熱分析。觀察模式標準接觸模式動態(tài)模式相位模式水平力模式（LFM）力調制模式矢量掃描模式選購件磁力（MFM）模式）電流模式表面電位（KFM）模式分辨率XY0.2 nmZ0.01 nmAFM頭部位移監(jiān)測系統(tǒng)光源/光杠桿/檢測器光源激光二極管（On/Off均可）更換樣品無需調整光路檢測器光敏二極管掃描器驅動元件管狀壓電元件最大掃描范圍（X*Y*Z）30μm×30μm×5μm （標準）125μm×125μm×7μm （選購）55μm×55μm×13μm （選購）2.5μm×2.5μm×0.3μm （選購）樣品臺最大樣品形狀φ24mm×8mm樣品裝載方式頭部滑動機構懸臂安裝狀態(tài)下可直接裝載樣品樣品固定方式磁性固定Z軸驅動機構驅近方式全自動驅近最大可驅近范圍10mm信號顯示板顯示量檢測器的總入射光量（數(shù)字顯示）減震機構減震臺SPM單元內置光學顯微鏡觀察方式分束器滑動機構專用風擋方式無需或者使用氣氛控制腔體氣氛控制方式無需改造SPM單元可直接導入氣氛腔體

品牌： 日本島津-GL 型號： WET-SPM系列 產(chǎn)地：日本 供應商：島津企業(yè)管理（中國）有限公司

WET-SPM為原子力顯微鏡實驗提供各種環(huán)境。真空，各種氣體（氮，氧等），可控濕度，溫度，超高溫，超低溫，氣體吹掃等環(huán)境。一體澆注艙體，大型觀察孔和手套箱設計，可自由地在分析室內部進行前處理，方便在不同環(huán)境中操作。實現(xiàn)了原位掃描，可追蹤在溫度、濕度、壓力、光照、氣氛濃度等發(fā)生變化時的樣品變化。

品牌： 德國布魯克 型號： Edge 產(chǎn)地：美國 供應商：上海禹重實業(yè)有限公司

Dimension Edge原子力顯微鏡 (AFM)系統(tǒng)擁有最先進的技術，從而使其在運行性，功能性，實用性上達到最高水平。基于頂級Dimension Icon平臺，Edge的設計系統(tǒng)能從上到下產(chǎn)生低漂移低偏離數(shù)據(jù)，可以在幾分鐘內完成且達到可發(fā)表的數(shù)據(jù)標準，而不再需要幾小時，價格也都低于對于此類程序的預算。特別的是，集成了視覺反饋和預配置功能使得更輕易地得到專家水平的測量結果，也使得最先進的大樣本原子力顯微鏡的功能和技術可以被用于每個研究室和用戶。高實用性封閉環(huán)Dimension AFM專有傳感器設計利用開環(huán)噪音水平實現(xiàn)閉環(huán)精確度顯著降低噪音和漂移值，將小樣品AFM成像程序與大樣品平臺聯(lián)合顯微鏡和電子器件的設計可以使得成像精確度高，成本低適用于任何樣品的方案■開放平臺入口可容納各種試驗和樣品■新儀器設計和軟件充分利用AFM布魯克全套軟件模式和技術，已達到更高應用要求的需要■信號路由內置通道使傳統(tǒng)測量研究朝著新的方向發(fā)展快速、準確、高分辨率的測量結果■可視化反饋線流工作流程可確保短時間優(yōu)化設置，排除疑慮和后患■高分辨率5兆相機和機動可編程平臺可提供快速樣品導航和高效多點測量■從觀測到最高分辨過程的無縫轉化可達到短時間獲得準確結果先進的納米功能不僅適用于初學者，也適用于專家■革新的組合系統(tǒng)設計帶來高性能低成本■帶有實驗-選擇模式的新型版本8軟件凝聚了10年AFM專業(yè)設置精華■完整平臺控制可與強大平臺程序一樣直觀導

品牌： 德國布魯克 型號： MultiMode8 產(chǎn)地：美國 供應商：上海禹重實業(yè)有限公司

MultiMode平臺是世界上應用最廣泛的掃描探針顯微鏡(SPM)，已經(jīng)在全球成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其領先的高分辨率和高性能，無與倫比的多功能性，以及已經(jīng)得到充分證實的效率和可靠性?，F(xiàn)在，MultiMode掃描探針顯微鏡以其獨特的 ScanAsyst模式，采用其先進的自動圖像優(yōu)化技術，使得用戶無論具備什么技能水平，也能在材料科學，生命科學，聚合物研究領域的研究中最迅速地獲得符合要求的研究成果。SPM的控制電路也是影響性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先進的數(shù)字架構：具有高數(shù)據(jù)帶寬，低噪聲數(shù)據(jù)采集和無與倫比的數(shù)據(jù)處理能力。布魯克的最先進的技術已經(jīng)開創(chuàng)工業(yè)上的新標準，例如：ScanAsyst 模式 PeakForce QNM 模式。Multimode 的加熱和制冷裝置能對樣品進行加熱與制冷，適合于生物學，聚合物材料以及其他材料研究應用。采用加熱和制冷裝置后MULTIMODE 可在零下35℃到250 ℃范圍內對樣品進行溫度控制；并可以在水，溶液或緩沖劑的液體環(huán)境中進行掃描。當在氣體環(huán)境下對樣品進行掃描時，采用環(huán)境控制艙可以在大氣壓標準下控制環(huán)境氣體的成分。

品牌： 韓國Park Systems 型號： NX10 產(chǎn)地：韓國 供應商：Park System Crop.

Park systems NX10創(chuàng)新的功能滿足創(chuàng)新的工作準確成像, 無交叉耦合現(xiàn)象-業(yè)界領先的XYZ軸線性度，樣品和探針分別由獨立的柔性制導掃描器控制移動-最低的平面偏移度，全程水平掃描時平面偏移量不超過1納米-垂直掃描器全程伸縮時，線性度優(yōu)于0.015%-優(yōu)化的水平掃描器ringing現(xiàn)象, 科學的正向sine-scan算法準確掃描，真正的非接觸模式-業(yè)界領先的垂直掃描器，帶寬超過9kHz，探針垂直伺服響應速度超過62mm/sec-在非接觸模式下最快的掃描速度-極低的探針磨損，能夠保證長時間的高質量掃描-極低的樣品損傷準確測量，真正的樣品形貌-采用業(yè)界領先的低噪聲遲滯檢測器測量樣品形貌-業(yè)界領先的極小正反測量偏離量，小于0.15%-采用優(yōu)化的散熱部件，極大地降低了系統(tǒng)熱漂移和遲滯現(xiàn)象-功能強大的先進隔音罩，艙體內部主動控溫用戶工作效率-開放式的設計，方便更換探針和樣品-探針預定位裝夾設計，簡單便捷的測量激光調節(jié)過程，具有專利的自上至下的直觀觀察系統(tǒng)-創(chuàng)新的“十秒進針”功能，探針可自動高速完成進針操作-24位數(shù)字電控箱，三組內置鎖存放大器，具備Q-control和彈性常數(shù)校準功能* 技術參數(shù)XY掃描器 閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器。掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選 100 μm × 100 μm)分辨率: 0.05 nm定位檢測噪音: 0.3 nm (帶寬: 1 kHz)水平線性: ２nm (over 40 μm scan)Z掃描器柔性引導高力度掃描器掃描范圍: 15 μm (可選30 μm)分辨率: 0.015 nm定位檢測噪音: 0.03 nm (帶寬: 1 kHz)共振頻率: 9 kHz (typically 10.5 kHz)表面成像噪音: 0.03 nm (0.02 nm typical)光學系統(tǒng)可觀察樣品和探針的直視同軸光學系統(tǒng)視場: 480 × 360 μm (10× objective lens)CCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm）物鏡10x (0.21 NA) 超長工作范圍的鏡頭(1 μm分辨率) 20x (0.42 NA) 高分辨率長工作范圍的鏡頭(0.6 μm 分辨率)信號處理ADC: 18個通道 4 個高速 ADC 通道 (50 MSPS) X,Y和Z掃描器定位傳感器的24-bit ADCsDAC: 12 信道 2 個高速 DAC 通道 (50 MSPS) X,Y和Z掃描器定位的20-bit DACs最大數(shù)據(jù)大小: 4096 x 4096 像素集成功能3個通道數(shù)字鎖相放大器 熱噪聲法標定彈性系數(shù) 數(shù)碼Q控制外部信號介入20個嵌入式信號輸入/輸出端口5個TTL輸出: EOF, EOL, EOP, Modulation和AC bias

品牌： 韓國Park Systems 型號： XE7 產(chǎn)地：韓國 供應商：Park System Crop.

Park XE7創(chuàng)新研究的經(jīng)濟之選無與倫比的高性能在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來最高納米級分辨率的測量效果。得益于獨特的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠實現(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所獨有的True Non-Contact模式還能為您帶來前所未有的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。滿足當前和未來需求在Park XE7的幫助下，現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內最全面的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上最為開放性的設計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。易于使用和高生產(chǎn)率Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究效率的提高。。經(jīng)濟實惠超越了系統(tǒng)成本Park XE7不僅僅是最高性價比的研究級原子力顯微鏡，也是使用成本最低的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖端，并且它配有業(yè)內最多的掃描模式，兼容性極佳，讓您可隨時升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。Park XE7配有Park Systems的所有頂尖技術，而且價格十分親民。XE7在細節(jié)的設計上也相當用心，是幫助您準確且不超預算地完成研究的理想之選。* 技術參數(shù)XY掃描器 閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器。掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選 100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )Z掃描器柔性引導高力度掃描器掃描范圍: 12 μm (可選25 μm) 樣品臺 XY臺工作范圍: 13 × 13 mm Z臺工作范圍: 29.5 mm 聚焦臺工作范圍: 70 mm光學系統(tǒng)可觀察樣品和探針的直視同軸光學系統(tǒng)10X 物鏡 (可選20X）視場: 480 × 360 μmCCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm） 電路系統(tǒng)高性能DSP : 600 MHz with 4800 MIPS最大圖像尺寸: 4096 x 4096像素, 16個數(shù)據(jù)圖像信號輸入： 在500kHz取樣時, 16位ADC的20個通道信號輸出： 在500kHz取樣時, 16位ADC的21個通道同步信號 ：圖像結束, 線結束及像素結束TTL信號主動Q控制(選配)懸臂梁彈性常數(shù)校準(選配)CE Compliant電源 : 120 W信號處理模塊 (選配)

[公開招標]南方科技大學研究級倒置顯微鏡采購項目公開招標

南方科技大學公開招標研究級倒置顯微鏡，項目編號：SUSTech-2019-246

[公開招標]魯東大學高效液相色譜質譜聯(lián)用儀等儀器設備采購項目招標

魯東大學公開招標高效液相色譜-高分辨質譜聯(lián)用儀,原子力顯微鏡 ,超級凈化手套箱,旋轉圓盤圓環(huán)電極裝置,電子天平、恒溫水浴鍋,智能光照培養(yǎng)箱，項目編號：SDGP370000201902004399

[公開招標]復旦大學掃描探針顯微鏡采購項目公開招標

復旦大學公開招標掃描探針顯微鏡，項目編號：0705-1940 182008HY

掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡 儀器網(wǎng)掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡產(chǎn)品導購專場為您提供掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡功能原理、規(guī)格型號、性能參數(shù)、產(chǎn)品價格、詳細產(chǎn)品圖片以及廠商聯(lián)系方式等實用信息，您可以通過設置不同查詢條件，選擇滿足您實際需求的掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡產(chǎn)品，同時掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡產(chǎn)品導購專場還為您提供精品優(yōu)選掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡產(chǎn)品和掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡相關技術資料、解決方案、招標采購等綜合信息。