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能量色散X熒光光譜分析儀體積小、穩(wěn)定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產(chǎn)品質量的理想選擇?？蓽y定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器，通過智能激發(fā)和檢測設計實現(xiàn)高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法，適用于不同的應用場合。
EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀應用于石化產(chǎn)品，塑料和聚合物，食品和化妝品，環(huán)境，礦石，醫(yī)藥，建筑材料，中心實驗室成品檢驗，金屬材料等。
采用的是X射線熒光分析原理，受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

融合經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測試數(shù)據(jù)的準確性能得到全面保證。 經(jīng)驗系數(shù)法：儀器依據(jù)對標準樣品的測定，確定影響系數(shù)。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。 基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數(shù)。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。
EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀應用于石化產(chǎn)品，塑料和聚合物，食品和化妝品，環(huán)境，礦石，醫(yī)藥，建筑材料，中心實驗室成品檢驗，金屬材料等。