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借助偏光顯微鏡觀察礦物極細(xì)小的顆粒結(jié)構(gòu)
使用偏光顯微鏡可以清楚的將不同的礦物相分辨出來(lái)。
在顯微鏡下存在于角閃石上之極細(xì)粒之微小礦物顆粒，偏光顯微鏡只能看到角閃石中間有個(gè)帶狀受過(guò)蝕變的現(xiàn)象，
SEM電子顯微鏡底下可以清楚看到這個(gè)蝕變的區(qū)塊是由許多極細(xì)小的顆粒所組成
幫助我們分析礦物內(nèi)部不同區(qū)塊的化學(xué)成分，
分析角閃石以及石榴子石的成分，藉以分辨角閃石即石榴子石的成分環(huán)帶以及相變的關(guān)系。
