iCEM 2017邀請報告:

掃描電鏡在巖石礦物分析中的應(yīng)用

原園 博士

中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所

　　報告摘要:

　　掃描電鏡中的高能入射電子束轟擊樣品表面，從樣品中激發(fā)出各種有用的信息，包括二次電子、背散射電子、X 射線等不同的信號，這些信號分別攜帶樣品的形貌和成分等信息。

　　利用掃描電鏡對新鮮斷面樣品或是氬離子拋光樣品進(jìn)行二維掃描，可以得到樣品中不同礦物的結(jié)構(gòu)形貌和元素成分等信息，進(jìn)而確定礦物類型；結(jié)合分析軟件可以對礦物的二維分布、含量、顆粒形態(tài)等信息進(jìn)行提取。掃描電鏡和聚焦離子束結(jié)合，對樣品進(jìn)行切割及三維重構(gòu)，可以分析礦物的三維空間分布特征。

　　報告人簡介:

　　原園，博士，畢業(yè)于中國石油大學(xué)（北京）非常規(guī)天然氣研究院，現(xiàn)任職于中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所微納結(jié)構(gòu)成像實驗室。

　　報告時間：2017年6月22日下午

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