一般光學(xué)顯微鏡配合對(duì)焦尋形原理測(cè)量三維表面輪廓

利用一般光學(xué)顯微鏡配合對(duì)焦尋形（Shape from Focus，SFF）原理，并結(jié)合最小相鄰反捲積
（nearestneighbor deconvolution，NND）技術(shù)即可重建出待測(cè)物的三維表面輪廓。
但在量測(cè)待測(cè)物過程中，若因待測(cè)物的表面資訊不足，

則會(huì)導(dǎo)致反射光訊號(hào)弱，造成訊噪比（Signal-to-Noise Ratio）差，則待測(cè)物的三維表面重建雜訊較多，
因此在擷取影像時(shí)，CCD 會(huì)重複擷取影像再取其平均值以改善訊噪比，由于這個(gè)重複擷取影像過程，
會(huì)使整體量測(cè)的時(shí)間增長(zhǎng)，為了使量測(cè)時(shí)間縮短，

可選用較高訊噪比的 CCD攝影機(jī)，如此一來，就可兼顧訊噪比與整體系統(tǒng)量測(cè)的時(shí)間