量測(cè)設(shè)備包括卡尺、投影儀、工具顯微鏡等等

檢驗(yàn)時(shí)，若發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品有任何淬火裂痕或在頭底承面表面上或下方有內(nèi)凹處褶痕時(shí)，則可據(jù)此
將本批退貨拒收。若發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品有其他的表面缺陷，則必需依據(jù)第 3、4 段之允許限度使用適
當(dāng)之量測(cè)設(shè)備(包括卡尺、投影儀、工具顯微鏡等等)量測(cè)之，若超出界限則可據(jù)此將本批退
貨拒收。

破壞性檢驗(yàn):
 如果實(shí)施非破壞性檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有任何缺點(diǎn)，則應(yīng)再自缺點(diǎn)樣品中依下表之規(guī)定
進(jìn)行取樣(一般取缺點(diǎn)樣品中最嚴(yán)重之樣品)來進(jìn)行檢驗(yàn)以便找出表面缺陷之最大深度。

縫和摺疊（Lab）的檢查：
如果樣品已接受過目視檢查，需進(jìn)一步使用酸來浸蝕以檢查螺紋的摺疊和縫