金相學(xué)研究顯微鏡-金屬構(gòu)造及熔點(diǎn)測(cè)量?jī)x

索比的金相技術(shù)，長(zhǎng)久以來(lái)，對(duì)于決定晶粒的形狀和大小，
辨明外來(lái)質(zhì)點(diǎn)和沿著晶粒邊界的雜質(zhì)膜，以及觀察合金的微觀結(jié)構(gòu)等，
頗有價(jià)值。然而，光性金相學(xué)（Optical metallography；即是以光學(xué)顯微鏡來(lái)觀察，
研究金屬構(gòu)造的一門(mén)學(xué)問(wèn)）卻無(wú)法決定晶粒邊界的結(jié)構(gòu)──一般相信，

金屬在熔點(diǎn)之下冷卻時(shí)，相鄰的晶粒會(huì)逐漸使存在于其間的原子結(jié)晶化，
最后使得邊界僅剩下一道界面，約一兩個(gè)原子的寬度；
而在此界面的兩側(cè)，晶軸的走向截然不一。

最近，晶粒邊界的結(jié)構(gòu)圖樣，已由場(chǎng)離子顯微鏡（Field ionmicroscope）測(cè)出。
以這種由賓州州立大學(xué)米勒（Erwin W. Muller）教授所發(fā)明的儀器探測(cè)時(shí)，
先將針形金屬試品，軸地夾在真空管中

（僅露出尖端，并通以極高的正電壓（如此，則電力線(xiàn)由此尖端輻射而至熒光幕上），再放進(jìn)微量的氣體，

如氦。當(dāng)一個(gè)氦原子接觸到針尖上的一個(gè)金屬原子時(shí)，它變成正離子，
并且立刻被排斥而沿著一定的電力線(xiàn)射到熒光幕上，形成一個(gè)可見(jiàn)的點(diǎn)像。
大約針尖上一個(gè)原子的寬度，能夠在熒光幕上發(fā)射成一平方毫米的區(qū)域，
因此我們可以從熒光幕上“看見(jiàn)”針尖的原子結(jié)構(gòu)
滑脫與金屬的塑性