金相學(xué)研究顯微鏡-金屬構(gòu)造及熔點(diǎn)測(cè)量?jī)x
索比的金相技術(shù),長(zhǎng)久以來(lái),對(duì)于決定晶粒的形狀和大小,
辨明外來(lái)質(zhì)點(diǎn)和沿著晶粒邊界的雜質(zhì)膜,以及觀察合金的微觀結(jié)構(gòu)等,
頗有價(jià)值。然而,光性金相學(xué)(Optical metallography;即是以光學(xué)顯微鏡來(lái)觀察,
研究金屬構(gòu)造的一門(mén)學(xué)問(wèn))卻無(wú)法決定晶粒邊界的結(jié)構(gòu)──一般相信,
金屬在熔點(diǎn)之下冷卻時(shí),相鄰的晶粒會(huì)逐漸使存在于其間的原子結(jié)晶化,
最后使得邊界僅剩下一道界面,約一兩個(gè)原子的寬度;
而在此界面的兩側(cè),晶軸的走向截然不一。
最近,晶粒邊界的結(jié)構(gòu)圖樣,已由場(chǎng)離子顯微鏡(Field ionmicroscope)測(cè)出。
以這種由賓州州立大學(xué)米勒(Erwin W. Muller)教授所發(fā)明的儀器探測(cè)時(shí),
先將針形金屬試品,軸地夾在真空管中
(僅露出尖端,并通以極高的正電壓(如此,則電力線(xiàn)由此尖端輻射而至熒光幕上),再放進(jìn)微量的氣體,
如氦。當(dāng)一個(gè)氦原子接觸到針尖上的一個(gè)金屬原子時(shí),它變成正離子,
并且立刻被排斥而沿著一定的電力線(xiàn)射到熒光幕上,形成一個(gè)可見(jiàn)的點(diǎn)像。
大約針尖上一個(gè)原子的寬度,能夠在熒光幕上發(fā)射成一平方毫米的區(qū)域,
因此我們可以從熒光幕上“看見(jiàn)”針尖的原子結(jié)構(gòu)
滑脫與金屬的塑性