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光學(xué)顯微鏡在粒度定量測(cè)定中的應(yīng)用-顆粒圖像分析儀

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圖2

  通過(guò)光學(xué)顯微鏡、透射電子微鏡、掃描電子顯微鏡可以
直接觀察顆粒的像，并且可以拍成照片。根據(jù)像或照片測(cè)量顆
粒的粒度。

用透射電子顯微鏡時(shí)，若對(duì)顆粒樣品采用復(fù)型技術(shù)或金屬投影技術(shù)，
則它類似光學(xué)顯微鏡與掃描電子顯微鏡，也可以觀察研究顆粒的外貌

  光學(xué)顯微鏡是通用設(shè)備，只要測(cè)量的顆粒數(shù)足夠多，
它是測(cè)量粒度的最基本的方法。而且經(jīng)常用顯微鏡法來(lái)標(biāo)定其它方
法，或幫助分析其它幾種方法測(cè)量結(jié)果的差異。