使用偏光顯微鏡下觀察砂巖的成巖-石英顆粒分析

  在偏光顯微鏡中觀察砂巖的成巖作用，發(fā)現(xiàn)石英顆粒都緊密接觸時(shí)，
對(duì)確定顆粒鑲嵌的原因是由于次生加大引起的還是由于壓實(shí)作用引起的
是有一定的困難的，

通過(guò)陰極發(fā)光顯微鏡來(lái)研究可以發(fā)現(xiàn)部分顆粒仍是緊密接觸.而部分石英
顆粒周圍出現(xiàn)了次生加大的現(xiàn)象.這說(shuō)明原來(lái)顆粒是分散的.是由于次生加大
的原因使顆粒相接觸緊密。這種次生加大的不均勻和顆粒接觸的不均勻情況
在偏光顯微鏡下觀察是較困難的.而在陰極發(fā)光顯微鏡下則可一目了然。

這顯然是壓溶作用的結(jié)果，溶解出來(lái)的硅質(zhì)到有孔隙的地方就可以產(chǎn)生石英
的次生加大所以說(shuō)壓溶作用與石英的次生加大實(shí)際上是二氧化硅質(zhì)的再分配。

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