鐵譜分析儀-固體顆粒尺寸的測(cè)量光學(xué)顯微鏡

  利用電子掃描顯微鏡和x 射線能譜儀?？梢詫?duì)大多數(shù)磨損顆粒的
成分作出準(zhǔn)確的判別斷，但由于這種方法操作繁瑣，設(shè)備昂貴。因此，
通常采用較為廉價(jià)的光學(xué)顯微鏡作為磨損顆粒的識(shí)別工具。后者還具
有直觀、快速和方便等優(yōu)點(diǎn)。

  固體顆粒尺寸的測(cè)量

  一、測(cè)量時(shí)所用的光源用偏振光測(cè)量，將顯微鏡上的反射光偏振
器旋轉(zhuǎn)一角度，直至譜片上未浸潤(rùn)過(guò)油液的干凈部分呈最暗色為止，
此時(shí)譜片上其它黑暗區(qū)域上的穎粒因其消偏作用而顯得明亮。

  二、長(zhǎng)與寬尺寸的測(cè)量轉(zhuǎn)動(dòng)顯微鏡載物臺(tái)，使所測(cè)顆粒的長(zhǎng)度位
于視域標(biāo)線的縱向。操縱載物臺(tái)使標(biāo)線切于顆粒的一端邊緣，記下座
標(biāo)位x 讀數(shù)。再縱向地操縱載物臺(tái)，使同一標(biāo)線切于顆?？v向的另一
邊緣。記下座標(biāo)位置讀數(shù)。此二次座標(biāo)位置讀數(shù)之差。即為被測(cè)顆粒
的長(zhǎng)度。

  同理沿橫向進(jìn)行類(lèi)似操作。便可測(cè)量出該顆粒的寬度。

  三、厚度的測(cè)量作顯微鏡對(duì)焦的精調(diào)旋鈕上，有兩只微米級(jí)的刻
度盤(pán)?？捎脕?lái)確定順拉的厚度。方法是：

  1 ）先把焦點(diǎn)聚在譜片的上表面。實(shí)際上近似地以一極小顆粒作
為參考點(diǎn)，對(duì)它聚焦。效果相同而更為方便，此時(shí)記下精調(diào)旋鈕的讀
數(shù)（位于載物臺(tái)升降機(jī)構(gòu)上）；

  2 ）把焦點(diǎn)聚在待測(cè)顆粒的頂端，再記下在精調(diào)旋鈕的讀數(shù)。

  這兩次讀數(shù)之差，便是待測(cè)顆粒的厚度。

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