顆粒投影測(cè)量光學(xué)顯微鏡-球形顆粒的樣品
有些樣品如泥質(zhì)膠結(jié)的砂巖,不易松解。要側(cè)量其中砂粒的粒度,
可將砂巖直接磨成片狀樣品,用反射顯微鏡(金相顯微鏡)測(cè)量。此外,
對(duì)較粗的粉末,也可在務(wù)使分散的條件下,將顆粒包埋在樹脂類物質(zhì)中
成為塊狀樣品,磨光后對(duì)磨光面進(jìn)行觀察測(cè)量。此時(shí)應(yīng)注意所謂截面效
應(yīng)的問題。透射顯微鏡測(cè)的是顆粒的投影像,而反射顯微鏡測(cè)量的是塊
樣的磨光表面(即光反射面)對(duì)于顆粒所截的輪廓像。對(duì)于包埋著許多
球形顆粒的樣品,磨光表面所截的國(guó)的直徑會(huì)普遍小于球粒直徑。
制備樣品時(shí)的揉研非常重要。若不適當(dāng),則顆粒不但達(dá)不到分散,
反而會(huì)團(tuán)聚。并且要注意不要使較大顆粒被推移到載片的邊緣,以免影
響被觀測(cè)顆粒的代表性。此外,若顆粒較脆而且較大時(shí),揉研不當(dāng)會(huì)導(dǎo)
致顆粒粉碎。這時(shí)應(yīng)采用其它方法。
例如先制成分散良好的懸浮液,然后噴到載片上。
制備顯微鏡樣品還可用其它各種不同的方法,
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