偏光顯微鏡可用于測定礦物和陶瓷樣品顆粒光學(xué)特征

  可將偏振光用于礦物和陶瓷透明樣品的測定。先把樣品粘到玻
璃載片上，然后再研磨至50微米左右的厚度。由于樣品很薄，樣品中
有個別顆?？赡軙紦?jù)這些樣品的整個厚度。

  如果材料是各向異性的話，那么當(dāng)光通過這些顆粒時就會改變偏
振光的方向。

  因為從起偏器出來的入射光具有已知的偏振方向，因此就能用檢
偏器測定由于顆粒所引起的方向改變。

  這樣，偏光顯微鏡既能測定顆粒的方位又能測定顆粒的光學(xué)性質(zhì)。

  相襯顯微鏡所利用的本來不是反射光強度差，而是位相差。這是
由樣品表面的不均勻性所產(chǎn)生的。但是用特殊的環(huán)形光欄可以把光學(xué)
系統(tǒng)上的恤相差轉(zhuǎn)化成強度差。

  通常，反射光的相襯顯微鏡僅適用于研究不太平滑的表面

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