高分辨率圖像金相顯微鏡制造廠商-顯微物鏡型號

  由于成像的高分辨率性能，原子力顯微鏡（AFM ）研究中總取樣
面積本來就很小。因此，在所產(chǎn)生的圖像中確定樣品的代表性特別重
要。如上所述。低電壓（場致發(fā)射）掃描電子顯微鏡（SEM ）

可以被認為是原子力顯微鏡技術的補充，由于其適用于少量制取的
生物樣品并可提供未包被的樣品的高分辨率圖像。該技術可適用于
許多相對大面積樣品的成像，

  并且通?？商峁┓直媛首銐蚋叩膱D像，用于確認原子力顯微鏡圖
像。此外，該技術提供了高分辨率的樣品的先驗知識，從而確保正確
解讀以后的原子力顯微鏡（AFM ）圖像。在鮑德退（Baldwin ）等人
的研究中，兩種淀粉類型團粒表面的學結構的原子力顯微鏡和低
壓掃描電子顯微鏡（LVSEM ）成像有很高的相關性。從而得出以后的
原子力顯微鏡成像有代表性的結論。

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