測(cè)試準(zhǔn)確需要選擇合適的樣品-金相分析儀器

  為確保取樣的代表性，單獨(dú)使用低壓掃描電子顯微鏡儀器以提供
未包被樣品的高分辨率圖像，也存在多種其他的方法。比如，現(xiàn)在有
屬于掃描電子顯微鏡的掃描探針顯微鏡和屬于倒置光學(xué)顯微鏡的原子
力顯微鏡儀器。這些系統(tǒng)使掃描電子顯微鏡能夠?qū)^大面積（如lcm
平方）進(jìn)行成像，然后通過(guò)掃描探針顯微鏡（（SPM ）對(duì)分析的區(qū)域
進(jìn)行聚焦。

  因此，利用這兩種技術(shù)對(duì)同種樣品成像不僅能準(zhǔn)確地提供全面的
分辨率，而且掃描探針顯微鏡針尖的狀態(tài)可以用掃描電子顯微鏡（SEM
）定期檢測(cè)。但及這些儀器的掃描探針顯微鏡（SPM）

  成像需要在真空下完成，并且使用傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡時(shí)生物樣
品需要被金屬覆蓋。因此聯(lián)合使用低壓掃描電子顯微鏡（LVSEM ）/
原子力顯微鏡（AFM ）儀器對(duì)生物樣品非常適用。

  有一種設(shè)備是將原子力顯微鏡探頭連接到反向光學(xué)顯微鏡上，這
種設(shè)備能夠在一系列環(huán)境條件下對(duì)同一個(gè)生物樣品進(jìn)行光學(xué)成像和掃
描探針顯微鏡成像，并且當(dāng)其和高分辨率的光學(xué)顯微鏡如激光掃描共
聚焦顯微鏡（CLSM）配合使用時(shí)。功能會(huì)更加強(qiáng)大。

  在一系列分辨率條件下對(duì)樣品進(jìn)行互補(bǔ)成像，可以確保其代表性
（以及準(zhǔn)確的原子力顯微鏡定位）。由于可以獲得熒光光學(xué)成像以及
樣品內(nèi)部一些結(jié)構(gòu)的詳細(xì)情況，同時(shí)CLSM具有光學(xué)切割的能力，獲得
的圖像中包含一些化學(xué)信息。

(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載須注明網(wǎng)址http://www.sgaaa.com)