應用廣泛的測量粒度的顯微鏡-測量顆粒的粒徑

  一種應用廣泛的測量粒度的技術是使用肉眼通過顯微鏡快速
地測量分散的顆粒粒徑。盡管該技術的準確度較高，但測量統(tǒng)計
分析要求有大量顆粒，這導致了自動圖像分析儀的使用，即通過
光、掃描或透射電子顯微鏡產生分析所用的圖像。選擇何種儀器
取決于粒徑。顯微計數(shù)法所得的粒度分布記錄了顆粒粒徑的相對
頻度。

  篩分析是一種常用的快速分析粗顆粒的技術。由平行排列的
細線構成一篩網，網格是正方形的，網孔尺寸與網的目數(shù)成相反
的變化:目數(shù)越大則網孔越小。遺憾的是，篩網很貴并且對細顆
粒粒徑的測量不夠精確，因此篩分析通常只應用于粒度大于38
微米的粉末。使用電加工篩網可使測最粒徑降至5微米，但粉末的
團聚和顆粒在篩網上的粘附一般會使電加工篩網兒乎無法得到實
際應用。

  用沉降法分析粒度適用于注射成形中典型的細顆粒。顆粒在
流體(液體或氣體)中以一定速度下降，下降速度取決于粒徑大
小和流體粘度。沉降技術最適用于0.02 - 60 微米范圍內的顆粒。
它能否應用于更細的顆粒要取決于是否利用離心力的作用。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制,轉載須注明網址http://www.sgaaa.com)