美國TSI公司將于2016年10月17-19日，參加在上海富悅大酒店舉辦的“第22屆中國大氣環(huán)境科學(xué)與技術(shù)大會”。本次會議邀請了約1000人參加會議, 專門設(shè)立了大氣儀器與設(shè)備展覽，是近年來大氣環(huán)境保護事業(yè)蓬勃發(fā)展的一次盛會。

美國TSI公司為滿足日益增加的大氣科學(xué)研究、大氣污染控制、大氣環(huán)境管理等用戶的購買大氣儀器、設(shè)備的需求，將于會上展出以下多種氣溶膠檢測技術(shù)和設(shè)備。

TSI最新推出的SMPS? 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。

3321 空氣動力學(xué)粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學(xué)檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量?；赥SI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計的經(jīng)驗，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測部門進行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。

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TSI公司研究、確定和解決各種測量問題，為全球市場服務(wù)。作為精密儀器設(shè)計和生產(chǎn)的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者，TSI與世界各地的科研機構(gòu)和客戶合作，確立與氣溶膠科學(xué)、氣流、健康和安全、室內(nèi)空氣質(zhì)量、流體力學(xué)及生物危害檢測有關(guān)的測量標準。TSI總部位于美國，在歐洲和亞洲設(shè)有代表處，在其服務(wù)的全球各個市場建立了機構(gòu)。每天，我們專業(yè)的員工都在把科研成果轉(zhuǎn)化成現(xiàn)實。