手工金相制樣鑲嵌便攜儀器-金相制樣分析顯微鏡

  如果用手工拋光，則鑲嵌的厚度十分重要，因為高度大于19mm
時難以持平。

  有時采用方形或矩形鑲樣，特別在需要較大的試樣表面（通常
為19*38mm ）的X 射線衍射分析時，許多鑲嵌材料同X 射線束反應(yīng)，
產(chǎn)生附加的X 射線峰。所以，一種丙烯酸，是理想的材料。

  韌性結(jié)晶物質(zhì)的機械特性因控制各種內(nèi)部過程的條件不同而
變化極大。在溫度低、應(yīng)變速率相當(dāng)快時，晶內(nèi)滑移起主要作用，
當(dāng)位錯相互纏結(jié)和局割時，就出現(xiàn)工作硬化。在光學(xué)上，顆粒通
?？雌饋砗孟癖粔罕饬?，并表現(xiàn)出如變形紋，變形帶和雙晶這樣
一些形貌，形狀的和結(jié)晶的優(yōu)選方位主要歸之于粒內(nèi)滑移以及伴
隨發(fā)生的穎拉旋轉(zhuǎn)。

  在溫度較高、應(yīng)變速率較低時，橫向滑移和位錯攀移使恢復(fù)
速率跟上工作硬化速率，這樣，物質(zhì)就變?nèi)趿恕Ｔ诠鈱W(xué)上變形紋
和變形雙晶較為少見，被次顆粒，變形帶，鋸齒狀(移動)界面
  (顆粒界面和扭折界面)和重結(jié)晶等類的現(xiàn)象所代替。所有這些
都反映了增長了的原子活動性。透射電子顯微鏡觀測表明位錯密
度的總體降低，而伴隨出現(xiàn)位錯沿次顆粒界面排布的強烈傾向。

  在冷加工晶體物質(zhì)中，優(yōu)選方位可由粒內(nèi)變形產(chǎn)生，伴隨出
現(xiàn)的還有每個顆粒在空間上作與粒內(nèi)滑動方向相反的旋轉(zhuǎn)，往往
產(chǎn)生顆粒的穩(wěn)態(tài)方位(steady一tate orientation)，在應(yīng)變增強時
基本保持不變。

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