氧化層的多孔性

  氧化層的形成和生長(zhǎng)一直是在金屬抽氧化物轉(zhuǎn)變的情
況下進(jìn)行的，當(dāng)電解液和金屬的接觸能夠保持時(shí)，
則氧化物的形成才能連續(xù)不斷，而且產(chǎn)生的氧化層也不
是完全致密的。最近的研究指出，這種情況的出現(xiàn)，是
由于鍍層上布滿了超顯微的細(xì)孔或通道，新形成的氧化
層或氧化層的增長(zhǎng)，一直是發(fā)生在微孔的根部面晃是在
氧化層的外表面。

  假定微孔為圓形截面，則微孔的直徑約為0.1微米

  鍍層顯微結(jié)構(gòu)的研究。包括了以下內(nèi)容：
  1）微觀形貌觀察
  2）微區(qū)化學(xué)成分分析
  3）微區(qū)相組成分析
  4）鍍層的晶體結(jié)構(gòu)、擇優(yōu)取向和界面取向關(guān)系
  5）鍍層的表面、晶界和相界狀態(tài)
  6）鍍層的缺陷
  7）鍍層的微觀電子結(jié)構(gòu)
  在現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)中，用電子束，離子束和電磁波作用
于物質(zhì)、分析得到的信號(hào)，從而取得關(guān)于物質(zhì)狀態(tài)的資
料，這是我們進(jìn)行薄膜顯微結(jié)構(gòu)研究的主要方法。
由表可以看出，一種方法常常可以得到多種信息。例如
，用X射線衍射，可以分析鍍層的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、擇優(yōu)
取向（織構(gòu)）和內(nèi)應(yīng)力。因此，在實(shí)驗(yàn)中要充分結(jié)果更
可靠，或者使分析能夠更加全面，

常常將多種方法組合到一臺(tái)儀器上，例如，在分析電鏡
上，配備了能譜、能量損失譜和微束衍射裝置。在多功
能表面分析儀上則能使了俄歇能譜、光電子能譜、低能
電子衍射和二次離子質(zhì)譜。這種多方法的組合運(yùn)用，使
我們能夠得到單一方法無(wú)法取得的效果。

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