用光學(xué)工具顯微鏡或者渦流直接測(cè)量包鋁層的厚度

  運(yùn)用光學(xué)工具進(jìn)行操作時(shí)，要用到許多光學(xué)儀器和附件。對(duì)
于這些儀器，我們不僅要懂得操作，還要懂得它們的光學(xué)原理，
以便充分發(fā)揮儀器的性能。

  在生產(chǎn)過(guò)程中直接進(jìn)行表而質(zhì)量的檢驗(yàn)，以符合技術(shù)條件所
要求的幾何參數(shù)。此外，還檢驗(yàn)化學(xué)成分、機(jī)械性能、組織、是
否存在內(nèi)部缺陷和不密實(shí)性(用金相、超聲波和其他方法)。在
某些個(gè)別情況下，用顯微鏡或者渦流法直接測(cè)量包鋁層的厚度，
測(cè)量陽(yáng)極氧化膜的厚度等等。用于電工技術(shù)方面用的制品(母
線、導(dǎo)線等)需要補(bǔ)充檢驗(yàn)導(dǎo)電率。自然時(shí)效型鋁合金半成品要
檢驗(yàn)晶間腐蝕傾向，其方法是在1N的NaCl+l%HCI溶液中浸蝕
試樣，然后在顯微鏡下觀查磨片。取樣制度、尺寸和試驗(yàn)方法依
相應(yīng)的技術(shù)條件而定。

化學(xué)成分檢驗(yàn)
不論快速分析結(jié)果如何，每熔次都要檢驗(yàn)化學(xué)成分。
允許重復(fù)分析，當(dāng)重復(fù)分析結(jié)果仍不合格時(shí)，則該熔次報(bào)
廢。

  分析的重現(xiàn)性，按以不少于50次測(cè)定結(jié)果計(jì)算的均方誤差來(lái)
表示，應(yīng)該與下列值大致相符:元素濃度從0.001%到0.1%時(shí)為
士10%;從0.1%到0.5%時(shí)為士5%;從0.5%到3.0%時(shí)為±3-
4 %;從3.0%到10.0%時(shí)為±4%

  當(dāng)元素濃度不大于5%進(jìn)行大呈分析時(shí)，兩個(gè)乎行測(cè)定的試
樣結(jié)果之間的允許偏差不應(yīng)超過(guò)試樣中元素含且的 ± 8%。如果
偏差超過(guò)士8%時(shí)，該試樣要進(jìn)行重復(fù)分析。當(dāng)分析較高濃度的
元素時(shí)，允許偏差范圍為士5%

  銅含量5-8%和鋅含量6-9%時(shí)，用光電光譜儀分析是有某
些困難的，其主要原因是難以制造出均勻的標(biāo)樣。如硼、鉻等微
量雜質(zhì)可用示波照相極譜分析和矢量極譜分析方法測(cè)定。

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