??? 儀器信息網(wǎng)、中國電子顯微鏡學(xué)會、中國電鏡網(wǎng)聯(lián)合報導(dǎo)：2016年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會于10月13-15日在天津東麗湖恒大酒店隆重召開。本次會議共設(shè)有八個分會場，分別是：顯微學(xué)理論、技術(shù)與儀器發(fā)展分會場；能源、環(huán)境、信息等功能材料的微結(jié)構(gòu)表征分會場；機(jī)構(gòu)材料及缺陷、界面、表面，相變與擴(kuò)散分會場；掃描譜學(xué)分會場（STM/AFM）；掃描電子顯微學(xué)（EBSD）分會場；原位電子顯微學(xué)表征分會場；生命科學(xué)研究分會場；生物電鏡技術(shù)分會場等。本網(wǎng)編輯將有選擇性地對部分分會場的部分報告進(jìn)行報道。

??? 在10月13日下午的顯微學(xué)理論、技術(shù)與儀器發(fā)展分會場，共安排有8個報告，報告者及報告內(nèi)容分別是：

??? 北京工業(yè)大學(xué)隋曼齡教授利用電子輻照技術(shù)激發(fā)VO2納米線中的金屬相和絕緣相之間的轉(zhuǎn)變，研究中發(fā)現(xiàn)，通過電子輻照過程，絕緣相轉(zhuǎn)變?yōu)榻饘傧嗟霓D(zhuǎn)變溫度可以低至室溫，而這一現(xiàn)象與在輻照過程中氧空位的形成（通過EELS技術(shù)觀察獲得）有關(guān)。

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北京工業(yè)大學(xué) 隋曼齡教授

??? 中科院物理所葛炳輝研究員對高分辨率透射電子顯微鏡成像中“圖像的信息是如何隨著厚度變化而變化”從理論上進(jìn)行了研究，即通過將贗弱相位物體近似理論和TCC理論相結(jié)合，研究高分辨像像襯隨樣品厚度的變化規(guī)律。在考慮低階像差的條件下推導(dǎo)出高分辨像線性部分和非線性部分的解析表達(dá)式，從而定量給出兩個部分隨樣品厚度變化的規(guī)律。發(fā)現(xiàn)當(dāng)樣品比較薄時，非線性部分可忽略，但當(dāng)樣品變厚時，非線性部分對成像的貢獻(xiàn)變得越來越明顯。

中科院物理所 葛炳輝研究員

??? FEI公司的Erwan Sourty博士用流利的中文進(jìn)行了報告。他向與會者著重介紹了兩項(xiàng)FEI公司在STEM方面的新技術(shù)進(jìn)展。單色器技術(shù)的出現(xiàn)為相關(guān)研究人員帶來了極大的好處，譬如可以使得顯微圖像的對比度得到顯著改善。但它的使用對于操作人員來講則要求較高。FEI開發(fā)的OptiMONO——單色器調(diào)諧技術(shù)使得用戶在使用配有單色器的電子顯微鏡時更加方便。Sourty博士重點(diǎn)介紹的另一項(xiàng)技術(shù)稱之為iDPC（Integrated Differential Phase Contrast）技術(shù)，該技術(shù)的具體細(xì)節(jié)可參考今年發(fā)表在“Ultramicroscopy”雜志上的文章“Phasecontrast STEM for thin samples: Integrated differential phase contrast”。據(jù)了解，該技術(shù)的突出特點(diǎn)之一是能夠使輕元素（C,O,N...）和重元素（Sr,Ti,Ga...）同時成像在一張圖中，而一張標(biāo)準(zhǔn)的（HA）ADF-STEM圖像只能顯示較重的元素。

FEI公司 Erwan Sourty博士

??? 中南大學(xué)李凱副教授的報告題目是“結(jié)合傳統(tǒng)電子顯微術(shù)及先進(jìn)表征技術(shù)對Al-Mg-Si-Cu合金進(jìn)行微結(jié)構(gòu)定量”。李凱在報告中指出，精準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)鑒定對合金設(shè)計(jì)非常重要。HAADF-STEM、3DAP及HR-EDX等先進(jìn)表征技術(shù)日益發(fā)揮出它們的優(yōu)勢，在研究納米析出相單胞中的原子占位、添加元素空間分布、精準(zhǔn)成分測定方面提供了巨大幫助。盡管如此，傳統(tǒng)電子顯微術(shù)仍然具有其不可替代的優(yōu)勢，且值得繼續(xù)開發(fā)。通過傳統(tǒng)電子顯微術(shù)及先進(jìn)表征技術(shù)的結(jié)合，優(yōu)勢互補(bǔ)，以實(shí)現(xiàn)材料微結(jié)構(gòu)的定量表征，可有力地推動材料基因工程的進(jìn)步。

中南大學(xué) 李凱副教授

??? 日本北陸先端科學(xué)技術(shù)大學(xué)的Yoshifumi Oshima教授在其報告中提到了一個稱之為“操作透射電鏡（operand TEM）”的技術(shù)。Oshima教授將這項(xiàng)技術(shù)應(yīng)用于鋰離子納米電池的開發(fā)以及研究電池在操作使用過程中其陰電極（LiMn2O4）的結(jié)構(gòu)變化。通過使用operand TEM進(jìn)行觀察，該課題組發(fā)現(xiàn)納米線陰極改善了電池的性能。

日本北陸先端科學(xué)技術(shù)大學(xué) Yoshifumi Oshima教授

??? DELMIC B.V.公司（蘇州德爾微儀器有限公司為其國內(nèi)獨(dú)家代理）的van Oosten Slingeland Daan博士則在報告中介紹了該公司的兩個主要技術(shù)——集成相關(guān)顯微鏡（SECOM）和高性能陰極熒光檢測技術(shù)（SPARC）。據(jù)了解，SECOM可以集成目前市場上的所有主流品牌的掃描電鏡。而SPARC技術(shù)具有獨(dú)特的角分辨能力，其在諸如納米光子學(xué)等領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景。

DELMIC B.V.公司 van Oosten Slingeland Daan博士

??? 浙江大學(xué)余倩教授利用原位電鏡技術(shù)對低溫下高熵合金的變形機(jī)理進(jìn)行了研究。高熵合金在低溫下，其強(qiáng)度、塑性等物理性質(zhì)均會得到改善，其原因可能來自于位錯運(yùn)動、孿晶變形以及位錯和孿晶之間的相互作用。

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浙江大學(xué) 余倩教授

??? 北京科技大學(xué)易曉鷗講師利用離子輻照和原位透射電鏡技術(shù)對鎢（基）材料中的離位損傷，包括損傷的起源，損傷組織的演變規(guī)律，損傷缺陷、組織的熱回復(fù)等進(jìn)行了系統(tǒng)的研究。在研究過程中，研究者發(fā)現(xiàn)顯微缺陷研究手段與多尺度建模相結(jié)合，可對材料性質(zhì)進(jìn)行可靠的預(yù)測。

北京科技大學(xué) 易曉鷗講師