無(wú)損零件加工的缺陷質(zhì)量及晶粒大小計(jì)量光學(xué)儀器

零件的缺陷可以應(yīng)用物理原理進(jìn)行探測(cè)而不損害零件的有用
性。這一技術(shù)通常稱為。無(wú)破壞性試驗(yàn)”或。無(wú)損探傷”，它不但
應(yīng)用于裂縫的探測(cè)和定位，也應(yīng)用于預(yù)測(cè)那些在用零件的特性尚
能允許的不均勻性或變化。

  用靜態(tài)或無(wú)破壞性試驗(yàn)的方法可以鑒別的三組缺陷是：
  (1)先天性缺陷，它是由于基體材料或者原材料在最初生
產(chǎn)中有毛病所產(chǎn)生的，
  (2)加工的缺陷，它是在基體材料向制成零件轉(zhuǎn)化的過(guò)程
中產(chǎn)生的，
  (3)使用中的缺陷，它是工作條件施加予零件的。
  能夠應(yīng)用這些試驗(yàn)方法來(lái)確定的缺陷或結(jié)構(gòu)上的變化的種類
一般包括：氣孔、化學(xué)成分的變化、裂紋(表面上的和表面里的)、
浮渣縮孔、銹蝕鱗片、晶粒大小不均、熱處理偏差、夾渣、夾層．
疊層、加工缺陷、凹痕、鍍層缺陷、疏松、滾軋缺骼、折縫、偏
析、撕裂、焊接缺陷(焊穿)等。

微粒大小的確定
  對(duì)于刷在玻璃片上的干碎片，可以用光學(xué)顯微鏡來(lái)確定其大
小，對(duì)于用光學(xué)不能解決的細(xì)小尺寸的碎片，可以用電子顯微鏡
來(lái)檢查。干的碎片可以刷到支承在顯微鏡柵格上的準(zhǔn)備
好的碳質(zhì)透明塑料片或類似的膠片上。對(duì)于一些重金屬，屏蔽在
真空中可以改善其清晰度，并可以獲得對(duì)微粒的大小、形狀和凝
聚作用等的更好的解釋。為了得到良好的彌散作用，可把微粒與
乙醚混合并滴在顯微鏡的支承膠片上，這樣，在乙醚蒸發(fā)時(shí)，碎
片就能很好地彌散在膠片上

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