偏光顯微鏡應(yīng)用于粒度分布和礦物顆粒計(jì)量分析

偏光顯微鏡有助于研究織構(gòu)、粒度分布和礦物顆粒問的接觸特性，這對(duì)于了解礦物原
料的呵選性以及礦物的性質(zhì)、分布和成因都是很重要的。用圖象分析法在薄片或光片中對(duì)
礦物進(jìn)行定量測(cè)定的繁重勞動(dòng)，已被自動(dòng)分析儀大大減輕。自動(dòng)分析儀是基于用直徑0．0005
mm的圓點(diǎn)發(fā)射的光進(jìn)行光度掃描的原理構(gòu)制的。透明礦物的反差可用染色的辦法增強(qiáng)。
折光率是鑒定礦物的一個(gè)重要特征，可用變溫的方法極其容易地在熱臺(tái)上測(cè)定，要盡可能
用棱鏡同步加熱的折光儀。

此外，雙變法是利用費(fèi)氏臺(tái)測(cè)定折光率隨可見光譜波長(zhǎng)改變而
發(fā)生的變化。高溫顯微鏡(達(dá)1700℃)或至少熱臺(tái)(達(dá)1350℃)使我們有可能觀察礦物和
巖石(如長(zhǎng)石、致密硅巖、石英巖)加熱時(shí)其光性的變化，觀察其相變、燒結(jié)、熔融、重結(jié)
晶、在固相中的反應(yīng)、變形、收縮和膨脹。電子顯微鏡可以測(cè)定聚集在復(fù)制品上被金屬鍍
層遮蔽的礦物的結(jié)構(gòu)布置；如果應(yīng)用掃描電子顯微鏡(放大30至150000倍)，也可提供該集
合體表面結(jié)構(gòu)或破裂面的三維成象；在螢光屏上還可以拍攝和研究微細(xì)質(zhì)點(diǎn)(如粘土礦物)
的色散、形狀和厚度(在金屬鍍層后的)。與勞厄衍射圖上的X射線相比，電子衍射可以
表現(xiàn)礦物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，不同的是電子輻射的波長(zhǎng)小得多(放大500至500000倍)。在離子顯
微鏡中，從熒光屏上有可能觀察到由于離子轟擊而自礦物表面射出的次級(jí)電子。

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