在LED燈具檢測設(shè)備中，光譜量測首重溫飄穩(wěn)定性。因為環(huán)境溫溼度變動所造成的波長偏移，將影響從光譜計算而來的CIE色度與亮度(Y值)之穩(wěn)定性和精度，進而大大降低LED燈具檢測參考價值。 OtO 光譜儀擁有非常優(yōu)異的熱穩(wěn)定性，其中溫飄穩(wěn)定度足以媲美歐美大廠，僅有0.027nm/℃，Y值的變動僅±0.5%。我們獨有的動態(tài)熱平衡技術(shù)(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)，是在優(yōu)化光學(xué)與機構(gòu)系統(tǒng)設(shè)計下實現(xiàn)， 提供無溫控環(huán)境下之精確量測，取代過去龐大且昂貴的LED檢測設(shè)備，使得客戶得以在產(chǎn)線上廣佈檢測設(shè)備，全面確保產(chǎn)品品質(zhì)。

對於LED晶粒(封裝前)檢測設(shè)備，OtO成功開發(fā)的「消雜散光演算法」，可在建立LED強度校正係數(shù)前先行扣除雜散光。雜散光經(jīng)過該軟體校準(zhǔn)後，與德國IS標(biāo)準(zhǔn)機比對晶粒亮度誤差僅R2=0.999以上，雜散光比例可從0.15%降至0.01%！ 優(yōu)異一致性與大幅提升量測準(zhǔn)確度，更獲LED全球晶粒生產(chǎn)前三大廠採用。OtO致力於以卓越的技術(shù)，將光譜儀應(yīng)用到高階LED檢測系統(tǒng)中。

根據(jù)不同應(yīng)用及情境，OtO光譜儀擷取光譜的方式大致可分為：1.連續(xù)/不連續(xù) ；2. 軟件/硬件觸發(fā);3. 相同/不同積分時間，因而可組合出8種曝光模式，最大彈性滿足使用者的量測需求。 在LED工業(yè)線上檢測，使用者需先設(shè)定「不連續(xù) - 硬件觸發(fā) - 相同或不同積分時間 曝光模式」，以每一個LED燈作為硬件觸發(fā)信號，並事先在軟件上設(shè)定1000組曝光時間列表，便可依序得到這1000個LED燈的光譜數(shù)據(jù)，實現(xiàn)LED自動化線上檢測。

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2017 光譜儀、光纖光譜儀、拉曼光譜儀、紅外光譜儀、微型光譜儀生產(chǎn)領(lǐng)導(dǎo)者 - 臺灣超微光學(xué) OtO Photonics Inc.