為了滿(mǎn)足91儀器信息網(wǎng)用戶(hù)對(duì)掃描電子顯微技術(shù)的知識(shí)需求，解決學(xué)習(xí)及工作中的問(wèn)題，本文特整理了91儀器信息網(wǎng)的絡(luò)講堂欄目中掃描電子顯微技術(shù)相關(guān)會(huì)議報(bào)告，專(zhuān)家們講解精準(zhǔn)專(zhuān)業(yè)，歡迎感興趣的用戶(hù)保存下載觀(guān)看學(xué)習(xí)。

安徽大學(xué)現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)技術(shù)中心高級(jí)工程師林中清

報(bào)告題目：《冷場(chǎng)掃描電鏡在磁性材料中應(yīng)用實(shí)例》

林中清在安徽大學(xué)現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)技術(shù)中心從事掃描電鏡管理及測(cè)試工作超過(guò)30年，他認(rèn)為，“冷場(chǎng)掃描電鏡無(wú)法進(jìn)行磁性材料測(cè)量”是一個(gè)片面的說(shuō)法，在報(bào)告中，林老師從磁性材料以及冷場(chǎng)掃描電鏡的認(rèn)識(shí)出發(fā)，以大量事例來(lái)探討冷場(chǎng)電鏡對(duì)磁性材料的檢測(cè)方法及注意事項(xiàng)。以修正這種觀(guān)點(diǎn)，開(kāi)拓冷場(chǎng)掃描的應(yīng)用領(lǐng)域。（報(bào)告視頻鏈接）

中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所研究員曾毅

報(bào)告題目：《EBSD標(biāo)定方法研究》

借助電子背散射衍射(EBSD)獲得的菊池花樣，掃描電鏡可以進(jìn)行相鑒定、晶粒取向以及織構(gòu)研究。與TEM的選取電子衍射不同的是，幾乎沒(méi)有人僅僅通過(guò)菊池花樣，而不借助商業(yè)軟件自己進(jìn)行相鑒定獲得晶體學(xué)信息。之所以如此的主要原因在于標(biāo)定算法是儀器公司的核心技術(shù)，外界無(wú)從獲得。曾老師從自身的研究結(jié)果出發(fā)，詳細(xì)解讀菊池帶中可以給出什么晶體學(xué)信息？如何來(lái)進(jìn)行晶面標(biāo)定和計(jì)算取向？通常說(shuō)的投票法是什么方法？為什么要進(jìn)行Hough變換？到底Hough變換是什么？通過(guò)這些解讀讓大家對(duì)EBSD有更深入的了解。（報(bào)告視頻鏈接）

北京工業(yè)大學(xué)固體微結(jié)構(gòu)與性能研究所研究員張躍飛

報(bào)告題目：《原位高溫掃描電子顯微學(xué)及應(yīng)用》

材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)是材料性能表現(xiàn)的決定性因素，掃描電子顯微鏡（SEM）是揭示材料微觀(guān)多級(jí)組織結(jié)構(gòu)（如晶粒尺寸、相分布、界面特征、晶體取向、成分和雜質(zhì)分布等）的重要手段。SEM具有較大的樣品腔室，完全可以將材料熱力學(xué)性能試驗(yàn)機(jī)微型化，植入SEM中進(jìn)行材料在接近服役條件下性能與顯微結(jié)構(gòu)一體化原位表征。高溫合金、耐熱鋼等廣泛使用于熱端服役的關(guān)鍵部件，在接近服役條件下，研究這些材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)演變機(jī)制對(duì)這些材料的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用具有重要的意義。張老師在報(bào)告中講述了原位高溫掃描電子顯微學(xué)技術(shù)的最新發(fā)展與應(yīng)用。（報(bào)告視頻鏈接） 

中科院物理所副研究員王玉梅

報(bào)告題目：《掃描透射電鏡技術(shù)在熱電材料研究中的應(yīng)用》

掃描透射電子顯微術(shù)為目前最為流行和廣泛使用的一種材料評(píng)價(jià)手段。在熱電材料中，缺陷至關(guān)重要。不同類(lèi)型的缺陷可以作為聲子散射中心散射不同頻段的聲子，有效降低晶格熱導(dǎo)率。王老師在報(bào)告中主要介紹了利用掃描透射電子顯微術(shù)在原子尺度研究Zintl相化合物Ca9-yEuyZn4.7Sb9不同摻雜條件下的結(jié)構(gòu)演變以及缺陷種類(lèi)及結(jié)構(gòu)變化，從而調(diào)控材料電、熱輸運(yùn)性質(zhì)，優(yōu)化熱電性能。（報(bào)告視頻鏈接）

浙江大學(xué)冷凍電鏡中心工程師郭建勝

報(bào)告題目：《基于FIB-SEM大尺度三維重構(gòu)技術(shù)在生物超微結(jié)構(gòu)研究中的應(yīng)用》

基于FIB-SEM的大尺度三維重構(gòu)技術(shù)主要是利用聚焦離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行切割（厚度~ 2nm），然后利用背散射電子信號(hào)進(jìn)行成像，重復(fù)以上切割和成像兩個(gè)動(dòng)作，可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品三維結(jié)構(gòu)的連續(xù)成像，通過(guò)后期的計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)獲取樣品在三維空間中的結(jié)構(gòu)信息。（報(bào)告視頻鏈接）