產(chǎn)品說明:
適合非接觸光學(xué)壓型可選Michelson 和 Mirau 鏡頭200mm鏡筒遠場校正設(shè)計干涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上,通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度,測量精度非常高,在一個波長之內(nèi)。一束光通過分光鏡,可將光直接射向樣品表面和內(nèi)置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結(jié)合,就產(chǎn)生了干涉圖案。與Mirau鏡頭比起來,Michelson鏡頭擁有更長的工作距離,更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數(shù)值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒(#58-520)的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機上。
品名型號
50xNikon,CF, IC EPI Plan TI相干測量物鏡
產(chǎn)品號
59-314
放大率
50X
數(shù)字孔徑(NA)
0.55
焦深( m)
0.9
視場, 1/2" 傳感器
(FOV, 1/2" Sensor)
0.13 x 0.10mm
視場, 2/3" 傳感器
(FOV, 2/3" Sensor)
0.18 x 0.13mm
視場,20直徑視場目鏡 (mm)
0.22
視場,25直徑視場目鏡 (mm)
0.5
焦距
FL (mm)
4.0
生產(chǎn)商
Nikon
安裝螺紋
RMS
分辨能力 ( m)
0.5
類型
Mirau
重量 (g)
150.00
工作距離WD (mm)
3.4
相關(guān)產(chǎn)品:
11 X11 ,13.8 焦距,菲涅耳透鏡
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633nm Paraline 準直測試儀
中號,1包(720個),防靜電指套
用于三維表面形貌儀,表面輪廓儀,白光干涉顯微鏡等測量設(shè)備的鏡頭。
適用型號:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型號,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等幾乎所有的白光干涉原理非接觸式表面三維形貌測量儀。
如果您購買設(shè)備后,發(fā)現(xiàn)市場不夠大,或者發(fā)現(xiàn)放大倍數(shù)不夠用,都可以聯(lián)系我們,以遠低于廠商售價的優(yōu)惠價格拿到此類鏡頭產(chǎn)品。
根據(jù)不完全統(tǒng)計,市場上在售的白光干涉型非接觸形貌/輪廓測量設(shè)備,90%使用的是nikon原裝干涉物鏡。全球市場的幾大重要廠家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon鏡頭。
包含多型號:
2.5xNikon,CF, IC EPI Plan TI相干測量物鏡
5xNikon,CF, IC EPI Plan TI相干測量物鏡
10xNikon,CF, IC EPI Plan TI相干測量物鏡
20xNikon,CF, IC EPI Plan TI相干測量物鏡
50xNikon,CF, IC EPI Plan TI相干測量物鏡
100x尼康 CF IC Epi Plan 干涉測量物鏡
價格隨時有波動,歡迎咨詢。
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