Orbis 微束X射線熒光能譜儀靈活易用，為所有的微束熒光能譜應(yīng)用提供卓越的性能。Orbis采用視頻與X射線同軸的設(shè)計(jì)，提供2mm至30μm的光斑尺寸，可方便地分析各種樣品，不僅可以分析顆粒和碎片等小樣品，而且可以分析表面粗糙的大塊樣品，具有XRF分析的所有優(yōu)點(diǎn)和便利性。

Orbis配有專利的自動(dòng)塔輪，通過(guò)塔輪將視頻和X射線光學(xué)器件集成在一起，允許同軸的樣品觀察和XRF分析。這種幾何設(shè)計(jì)提高了樣品定位精度，消除了光束遮擋和陰影。光學(xué)塔輪上還可以增加兩個(gè)X-射線準(zhǔn)直器以分析較大的樣品區(qū)域。另外，Orbis提供多種可選的X射線光學(xué)器件，可以在入射束上使用濾波片，提供了真正的微區(qū)XRF分析能力。Orbis增加了工作距離，可以分析粗糙的樣品，并且不損失信號(hào)強(qiáng)度。

應(yīng)用
● 刑事司法 碎片、槍擊殘留物（GSR）、墨水、染料和痕量物證
● 工業(yè)質(zhì)量控制和失效分析 金屬磨損碎屑、污染物鑒定、腐蝕分析、材料鑒定、藥品和包裝物
● 無(wú)損檢測(cè) 博物館文物、紙質(zhì)文件、鈔票和寶石鑒定
● 材料 金屬、玻璃、陶瓷、水泥、混凝土和催化劑
● 電子設(shè)備 RoSH、涂層厚度與成分和焊點(diǎn)
● 地質(zhì)樣品

主要特點(diǎn)
● 大氣或真空條件下，針對(duì)無(wú)機(jī)元素的無(wú)損檢測(cè)
● 無(wú)需樣品制備 樣品無(wú)需鍍膜
● 相比SEM/EDS，對(duì)重元素有更高的靈敏度
● 多個(gè)光斑尺寸可選，最小可到30微米
● 視頻與X射線同軸設(shè)計(jì)，消除了光束遮擋和陰影
● 大面積SDD探測(cè)器，進(jìn)一步提高靈敏度（選項(xiàng)）
● 樣品觀察窗快速觀察樣品位置（選項(xiàng)）

產(chǎn)品規(guī)格
Orbis
● 300或100微米單級(jí)毛細(xì)管X射線光學(xué)器件
● 兩種CCD視頻圖像：10×和100×
● 精確的XYZ三軸自動(dòng)樣品臺(tái)

Orbis PC
● 30微米多級(jí)毛細(xì)管X射線光學(xué)器件
● 兩種CCD視頻圖像：10×和75x，并帶有三倍數(shù)字放大功能
● 高精確XYZ三軸自動(dòng)樣品臺(tái)

標(biāo)配軟件
● 定性和定量分析，包括FP建模和半經(jīng)驗(yàn)定量
● 自動(dòng)多點(diǎn)分析 多達(dá)20,000點(diǎn)的無(wú)人值守采樣分析

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