布魯克Dimension Icon原子力顯微鏡

Bruker Dimension Icon 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的AFM應(yīng)用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應(yīng)用最廣泛的AFM大樣品平臺為基礎(chǔ)，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計，實現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。

技術(shù)參數(shù)：

X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，最小85um
Z方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；最小9.5um
垂直方向噪音基底： 30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬（達到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.15nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.10nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）
Z傳感器噪音水平（閉環(huán)）：35pm RMS, 典型成像帶寬（達到625Hz）
整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值

樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤樣品臺，直徑≤210mm, 厚度≤15mm
電動定位樣品臺（X-Y軸）：180mm*180mm可視區(qū)域；單向2um重復(fù)性；雙向3um重復(fù)性。
顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)：五百萬像素數(shù)字照相機
180um至1465um可視范圍
數(shù)字縮放及自動對焦功能

控制器：NanoScope V型控制器
工作臺：整合所有控制器、結(jié)合人體工學(xué)設(shè)計，提供直接的物理或可視借口
震動隔絕：整體式氣動減震臺
聲音隔絕：可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音

產(chǎn)品特點：

終極體驗

獨特的傳感器設(shè)計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率

高效率

XYZ閉環(huán)掃描器的完美設(shè)計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率

全功能

針尖和樣品之間開放式的空間設(shè)計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設(shè)計實驗方案，滿足不同研究工作的需求

硬件和軟件技術(shù)的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質(zhì)