電子探針/X射線微區(qū)分析儀 電子探針/X射線微區(qū)分析儀是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進行微區(qū)成分分析的儀器，可以用來分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。電子探針/X射線微區(qū)分析儀可以對試樣中微小區(qū)域的化學(xué)組成進行定性或定量分析?？梢赃M行點、線掃描、面掃描分析。還能全自動進行批量定量分析。 精品推薦
品牌： 日立 型號： EA-Hybrid 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：日立儀器（上海）有限公司

【EA-Hybrid的主要特征】1. 可在幾分鐘內(nèi)對250×200mm大小的樣品檢測出20μm大小的金屬異物例如要檢測250×200mm（約B5尺寸）大小的電池電極板中20μm大小的金屬異物，以往的X射線透視檢查儀需要十小時左右的攝像時間。SIINT通過新型X射線透視方法的開發(fā)，成功縮短了時間。檢測速度成功達到了以往的100倍以上，可在3～10分鐘內(nèi)完成。2.電極板的微小金屬異物也可進行元素分析 對樣品中檢測出的金屬異物可自動使用X射線熒光法進行元素分析。以往，對于電極板中可能存在的20μm左右的微小金屬異物，只能分析存在于樣品表面的異物。這是由于存在于內(nèi)部時，異物產(chǎn)生的X射線熒光被基材所吸收，信號強度非常微弱。「EA-Hybrid」采用獨自研發(fā)的高能量X射線光學(xué)系統(tǒng)，可對電極?有機薄膜內(nèi)部所含的20μm大小的微小金屬異物進行元素分析。3. 一體化的操作，提高作業(yè)效率與以往的技術(shù)相比，金屬異物的檢測速度、元素分析速度大幅提高，并且把顯微鏡等都組合在一臺儀器內(nèi)，各個系統(tǒng)聯(lián)動可全自動輸出測量結(jié)果。因此，操作人員只需放置好樣品，即可獲得測量結(jié)果，大大提升了作業(yè)效率?！綞A-Hybrid的主要規(guī)格】被測樣品尺寸寬250×深200mm異物檢測時間3～10分鐘左右（250×200mm全面攝像、20μm大小異物的檢測時間）異物元素分析時間1～4分鐘左右 每檢測出1個（根據(jù)異物尺寸及元素的不同，有時會發(fā)生變化）裝置X射線發(fā)生系統(tǒng)冷卻用水儀器自身尺寸1340（寬）×1000（深）×1550（高）mm

品牌： 日本電子 型號： JXA-8230 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海禹重實業(yè)有限公司

可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。EPMA快速啟動點擊任何一點，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。用戶菜單（User recipes）能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。EDS 的性能數(shù)字化脈沖處理器全譜面分布(WD/ED, 樣品臺和電子束掃描)無風(fēng)扇SDD (選配)產(chǎn)品規(guī)格檢測元素范圍 WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射線檢測范圍 WDS檢測的波長范圍: 0.087～9.3nm,EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV分光譜儀數(shù)量 WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺最大樣品尺寸 100mm × 100mm × 50mm（H）加速電壓 0.2～30kV（以0.1 kV為步長）束流電流范圍 10-12 ～ 10-5 A束流電流穩(wěn)定度 5%/h, ±0.3%/12h（W）二次電子分辨率 6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）掃描倍率 ×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）掃描圖像分辨率 最大 5,120× 3,840彩色顯示器 EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024*1: 需安裝用于Be分析的選配分光晶體。*2: LaB6 為選配。

品牌： 日本電子 型號： JXA-8230 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司

可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

品牌： 日本電子 型號： JXA-8530F Plus 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司

2003年日本電子推出了世界首臺商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個領(lǐng)域，并獲得了極高的贊譽。最新研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大的改進，新的軟件能提供更高的通量，并保持著極高的穩(wěn)定性，能實現(xiàn)更廣泛的EPMA應(yīng)用。

品牌： 日本理學(xué) 型號： XtaLABmini 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：北京嘉德利達科技有限公司

技術(shù)參數(shù)： 1. X射線發(fā)生器：Mo靶，高頻技術(shù)，600W 2. 光學(xué)系統(tǒng)：SHINE 3. χ：固定在54 4. Φ ：-360，沿樣品中心軸自由旋轉(zhuǎn) 5. ω ：2θ±90 (-60~120 ) 6. 2θ：固定30 7. 70倍CCD攝像頭觀察樣品 8. 照相距離：50mm 9. 探測器：CCD 10. 探測面積：Φ75mm 11. 像素尺寸：73.2μm/146.4μm 12. 像素點數(shù)：1024x1024/512x512 13. 讀取時間：2.24sec/0.56sec 14. 暗電流：0.1electorns/pixel/sec 15. 選件，可以提供低溫裝置主要特點： XtaLABmini是專門為晶體學(xué)家、課題組開發(fā)的儀器。實現(xiàn)小型化，充分發(fā)輝理學(xué)的技術(shù)優(yōu)勢，是世界上最小的單晶衍射裝置。自動測試、自動分析。即使沒有相關(guān)經(jīng)驗，也可以使用本儀器實現(xiàn)自動快速收集數(shù)據(jù)及分析工作。數(shù)據(jù)符合Acta投稿要求。使用新型CCD探測器，讀取數(shù)據(jù)時間大幅度降低，通常2～3小時可以完成晶體的數(shù)據(jù)采集。有極高的性能價格比，保養(yǎng)簡便，使用成本低。

品牌： 法國Cameca 型號： SXFiveFE 產(chǎn)地：法國 供應(yīng)商：法國cameca公司

Cameca EPMA歷史悠久 電子探針微區(qū)分析(EPMA)的歷史和CAMECA緊緊相連。作為在1950年代開創(chuàng)此技術(shù)的先驅(qū)，CAMECA公司研發(fā)、推廣并支持了若干代EPMA儀器。今天，全世界有超過700臺CAMECA的電子探針在運行，在地球化學(xué)、礦物學(xué)、地質(zhì)年代學(xué)、物理及核冶金、材料科學(xué)（包括水泥、玻璃、陶瓷、超導(dǎo)體）、生物化學(xué)、微電子學(xué)等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)高精度的定性與定量化學(xué)微區(qū)分析。 超級的分析性能 通過提供更高、更穩(wěn)定的束電流，以及比其他現(xiàn)有儀器（如SEM-EDS）更好的信號峰背景比，基于WDS的CAMECA電子探針是唯一實現(xiàn)主量和痕量元素精確定量分析的儀器。 現(xiàn)在，場發(fā)射源的引入，優(yōu)化了低電壓和高電流，在微區(qū)定量分析中，可實現(xiàn)最小的激活體積和盡可能高的空間分辨率。 擁有場發(fā)射源的超級分析平臺 SXFive和SXFiveFE的新特色 場發(fā)射源或W/LaB6源 新電子光學(xué)系統(tǒng)提供了更高的分辨率 優(yōu)化的真空系統(tǒng)提供更優(yōu)的檢出能力，對于輕元素有重要意義 環(huán)形的法拉第杯帶來增強的可靠性 自動化程度更高，更大產(chǎn)率 從W/LaB6源升級為場發(fā)射源可在現(xiàn)場完成 SXFive和SXFiveFE帶來了CAMECA早期的電子探針顯微分析儀所有優(yōu)勢，同時提供了獨一無二的場發(fā)射電子束和CAMECA業(yè)界領(lǐng)先的高靈敏度和高分辨率的譜儀的結(jié)合。這種獨一無二的組合代表了在微區(qū)分析上的重大突破。 這些特色，以及可靠性的改善，和重新設(shè)計的電子束，集大成于一個多功能顯微分析儀，可提供無與倫比的顯微定量和超高空間分辨率的X射線成像能力。 滿足您需求的兩種儀器配置： SXFive 配置多功能W/LaB6源 SXFive配置有多功能電子槍，可使用高功率（最高30KV）的鎢燈絲或一個LaB6陰極可得到更好的橫向分辨率。歸功于電子槍中高達10-6Pa的真空度，這款儀器可以在W和LaB6燈絲之間在數(shù)小時內(nèi)方便快捷地進行切換。 在10kv，100nA的實驗條件下，使用SXFive的LaB6陰極，可得到0.5um的分析分辨率，使在微小的區(qū)域內(nèi)測量含量小于0.01%的痕量元素成為可能，并能得到良好的統(tǒng)計精度。 SXFive可升級為SXFive FE SXFive FE 配置場發(fā)射源 對于要求超高分辨率的應(yīng)用，CAMECA開發(fā)了場發(fā)射源：
歸功于其場發(fā)射源，SXFive FE在中等加速電壓下允許使用小尺寸探頭，從而保證高橫向分辨率。在10KV，100nA條件下，可獲得150nm直徑的電子束，確保高質(zhì)量的微量和痕量元素分析。和常規(guī)EPMA一樣，高能量和高束電流也可被選擇，用于進行定量分析。 最好的WDS 波長色散光譜被認為是高精度定量分析的方法，基于CAMECA的獨特設(shè)計，SXFive和SXFiveFE的譜儀具有業(yè)內(nèi)最高的分辨率，因此具有高信號峰背景比，從而提供了高靈敏度。絕對的譜峰位置由依附于系統(tǒng)的光學(xué)編碼器提供，只需要單峰便可對整個譜儀范圍進行校準。 根據(jù)應(yīng)用的不同，最多可裝5個WDS譜儀（另加一個EDS譜儀）可配置在儀器上。所有的譜儀有一個160mm的羅蘭圓，電子束分離窗和差分抽氣保證了譜儀和衍射晶體不受試樣艙樣品帶來的任何污染。 由于CAMECA波譜儀的獨特設(shè)計，15秒內(nèi)即可掃描完整個譜儀。 安裝在一個400的角度，WDS譜儀是線性的和全聚焦的。譜儀的機件優(yōu)化為最少的移動部件（非輪帶驅(qū)動機械），從而保證了首屈一指的重復(fù)性和可靠性。 經(jīng)過在工廠的預(yù)校準，CAMECA波譜不需要日常的維護和重新調(diào)諧。 高強度的晶體 CAMECA提供各種類型的晶體，覆蓋元素周期表上從Be開始的元素。 大晶體、寬的波譜儀范圍、高信號峰背景比實現(xiàn)快速的WDS分析 現(xiàn)在，為實現(xiàn)超高靈敏度的B和N分析的特殊的大晶體已由CAMECA開發(fā)出來，并可配置在SXFive和SXFiveFE上；對于輕元素（Be到F），可選用多層晶體。 CAMECA的譜儀可垂直，也可傾斜安裝在儀器上。 傾斜安裝（CAMECA的獨有設(shè)計）特別適用于表面粗糙的標本分析或映射；也非常適合于峰移研究。 WDS和EDS同時數(shù)據(jù)采集 SXFive可以配置一個能譜用于快速礦產(chǎn)/相鑒別，或配置波譜儀用于定量和成像模式。 如果配置EDS/WDS可實現(xiàn)高通量產(chǎn)率，如用EDS測得主量元素，用WDS測得痕量元素。

品牌： 日本島津-GL 型號： MDGC/GCMS系列 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：島津企業(yè)管理（中國）有限公司

MDGC/GCMS-2010采用全新設(shè)計的Multi-Deans Switching切割技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)常規(guī)單柱分析難以達到的高分析性能，同時具有優(yōu)異的重現(xiàn)性。適用于復(fù)雜基質(zhì)中特定成分的分析，如石油產(chǎn)品、香味分析和光學(xué)異構(gòu)體的分析等。具有操作直觀、維護簡便的特點。

品牌： 瑞士Dectris 型號： SANTIS 0804 產(chǎn)地：瑞士 供應(yīng)商：北京泰坤工業(yè)設(shè)備有限公司

SANTIS 0804是由DECTRIS設(shè)計和制造的混合光子計數(shù)（HPC）探測器。無暗電流、無噪聲，單光子計數(shù)技術(shù)和解析X射線能量的能力觸發(fā)了無與倫比的成像性能。相比傳統(tǒng)的探測器，SANTS 0804在低能量和高幀速率的雙重模式下提供更優(yōu)秀的圖像質(zhì)量，同時，雙能量和多能量成像可以在一次拍攝中完成。一次X射線獲取，可記錄兩種-四種不同能量的X射線吸收劑量，利用不同材料、或組織及骨骼的吸收劑量的不同的特點，可以從圖像中把它們區(qū)分出來。
SANTIS 0804有兩種配置：高分辨率（HR）和多能量（ME）模式，兩種模式均能夠提供高幀速率運行。
[公開招標]西北師范大學(xué)紫外可見近紅外分光光度計等儀器設(shè)備采購項目招標

西北師范大學(xué)公開招標紫外可見-近紅外分光光度計 ,手套箱、殘留氣體分析儀,朗繆爾探針,直流高壓電源,LIBS元素分析儀，項目編號：GSJY-ZC2019310

[公開招標]河南大學(xué)研究級光學(xué)顯微鏡等儀器設(shè)備采購項目招標

河南大學(xué)公開招標研究級光學(xué)顯微鏡,電子萬能材料試驗機,流變儀、探針臺,纖維光學(xué)接觸角張力測量儀,半導(dǎo)體多功能電學(xué)性能分析儀,綜合型電化學(xué)測試系統(tǒng)，項目編號：豫財招標采購-2019-1569

電子探針/X射線微區(qū)分析儀 儀器網(wǎng)電子探針/X射線微區(qū)分析儀產(chǎn)品導(dǎo)購專場為您提供電子探針/X射線微區(qū)分析儀功能原理、規(guī)格型號、性能參數(shù)、產(chǎn)品價格、詳細產(chǎn)品圖片以及廠商聯(lián)系方式等實用信息，您可以通過設(shè)置不同查詢條件，選擇滿足您實際需求的電子探針/X射線微區(qū)分析儀產(chǎn)品，同時電子探針/X射線微區(qū)分析儀產(chǎn)品導(dǎo)購專場還為您提供精品優(yōu)選電子探針/X射線微區(qū)分析儀產(chǎn)品和電子探針/X射線微區(qū)分析儀相關(guān)技術(shù)資料、解決方案、招標采購等綜合信息。