X射線能譜儀 X射線能譜儀進行成分分析時，一般有三種基本的工作方式，分別為：定點分析、線掃、面掃。根據(jù)不同的測試目的，可以選擇相應的分析模式。當測試樣品為非均質樣品時，可以使用線掃、面掃得到非常直觀的結果。X射線能譜儀主要用途：1.表面定性與定量分析。2.維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態(tài)的深度分析。3.成像功能。4.可進行樣品的原位處理。 精品推薦
品牌： 美國EDAX 型號： Octane Pro, Plus, Super,Ultra 產地：美國 供應商：EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司

TEAMTM 掃描電鏡能譜儀集強大的元素分析例程及直觀易用的用戶界面于一體，確保不同層次用戶都能夠獲得最佳的數(shù)據(jù)采集、分析及報告。TEAMTM 軟件中的智能功能（Smart Features）使工作流程更加簡單和方便，同時優(yōu)化了數(shù)據(jù)質量，幫助用戶快速高效地解決他們的表征問題。主要特點● 直觀易用的TEAMTM 軟件● 無論用戶經(jīng)驗如何，智能功能均可保證一致的數(shù)據(jù)采集、分析及報告● 提高工作效率，減少分析時間● 靈活的動態(tài)報告和自定義的報告模板產品規(guī)格TEAMTM 能譜軟件包● 智能診斷● 智能采集● 專家峰識別（ExpertID）● 智能面分布● 智能數(shù)據(jù)管理● 智能脈沖堆積校正能譜探測器● Octane Pro, Plus, Super,Ultra● 分辨率可達121eV● 分辨率穩(wěn)定性直到200kcps 90%● 高達1.6Mcps的輸入計數(shù)率及850kcps的輸出計數(shù)率● SDD模塊面積可大到100mm2更多信息請訪問www.edax.com.cn

品牌： 德國布魯克 型號： Bruker EDS QUANTAX 產地：德國 供應商：布魯克（北京）科技有限公司

QUANTAX EDS 系統(tǒng)擁有最佳能量分辨率、最大數(shù)據(jù)處理能力及最佳幾何結構。最佳能量分辨率可確保輕元素和低能量的高效分析新一代 Slim-line 探測器技術能在低束流下實現(xiàn)更高的計數(shù)率超高數(shù)據(jù)處理能力實現(xiàn)最快速測量可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一軟件中敢為人先！ X射線顯微分析是一種在電子顯微鏡中經(jīng)常用到的測量固體樣品、薄膜、微?；瘜W成分的分析技術。該技術應用一種能量色散X射線光譜儀(EDS)能同時探測和分析低至Be的所有元素。該技術從一個微米級的樣品區(qū)域獲得元素信息，提供低至0.1%質量百分數(shù)的檢出限，這些特性使得X射線顯微分析成為最靈敏的分析方法之一。 布魯克電制冷能譜儀獨一無二的X-Flash硅漂移探測器(SDD)與頂級的Hybrid脈沖處理技術相結合能獲得最佳的能量分辨率和比常規(guī)Si(Li)探測器快十倍的測量速度。 布魯克電制冷能譜儀配有界面友好、功能強大的ESPRIT軟件。該軟件標配中、英文界面。應用該軟件可進行無標樣定量分析，和有標準定量分析，或二種方法結合使用。另外，還可進行點、線、面分析，線掃描，面分布，超級面分布，相分析，顆粒分析，鋼鐵分析，槍擊殘留物分析等等。QUANTAXESPRIT軟件包 直觀的圖形用戶界面顯示了所有對分析者而言重要的信息，分析人員一目了然，并可以立即進入最常用的功能。簡單的操作理念和直觀的向導，集成的"助手"功能，完整的在線幫助，使初學者能很快熟悉分析系統(tǒng)。 該軟件交互式、循序漸進式的譜圖評價程序對分析者而言尤其重要，尤其是對于非常復雜的分析任務來說。而且，該軟件包集成了全球最新修訂擴展的原子數(shù)據(jù)庫，一些重要的基本參數(shù)有助于提高定性和定量分析的精度。該分析軟件的高效性、靈活性和透明性使用戶能很快信服并對之滿意。

品牌： 賽默飛世爾 型號： RadEye NL 產地：美國 供應商：賽默飛化學分析儀器

RadEye NL便攜式中子測量儀，采用He-3計數(shù)管，對于低于10 mSv/h的γ輻射不敏感，可在γ/中子混合場中測量中子輻射。靈敏度高，可快速響應，可用作區(qū)域監(jiān)測，符合國際標準ISO 22188，快速測量中子輻射，誤報警率低?？蛇x中子劑量慢化配件。 探測器：He-3計數(shù)管（2.5bar）靈敏度：-0.15cps/(μSv/h)（對Cf-252）本底：在海拔300米-0.0025cpsγ響應： 0.2cps,(對于10mSv/h的Cs-137輻射)測量單位：Cps

品牌： 美國EDAX 型號： Apollo XLT SDD 產地：美國 供應商：聚擘國際貿易（上海）有限公司

TEAM 透射電鏡能譜儀配備了Apollo XLT SDD系列探測器，為透射電鏡(TEM)提供終極的分析方案。Apollo XLT SDD系列探測器包括超薄窗口（SUTW）和無窗口（XLTW）兩種型號。由于可以完整地傳輸?shù)湍躕射線，Apollo XLTW可以為用戶提供最佳的輕元素性能。與SUTW探頭相比，其輕元素的測量靈敏度提高了500%，重元素的計數(shù)率增加了30%，從而大大提高了元素面分布的采集速度，增強了低含量輕元素的檢測。特點和好處所有電子部件均集成在探測器內，方便安裝、服務、校準和遠程訪問自動校準程序實現(xiàn)快速、可重復、準確設置，校準數(shù)據(jù)駐留于探測器上，遠程訪問時無需重新校準緊湊型的探測器提供了安裝的靈活性，適合于各種TEM30 mm2SDD芯片技術，優(yōu)化了立體角超薄窗口型和無窗口型探測器均有優(yōu)秀的輕元素測試性能，C分辨率均優(yōu)于59 eVMn 的分辨率優(yōu)于129 eV直到100 kcps，分辨率穩(wěn)定性都小于1 eV峰位偏移直至250 kcps 都小于1 eV放大器時間常數(shù)從120 ns 到7.65 s 可選，便于獲得最佳采集效果高速以太網(wǎng)通信當背散射電子過量時由馬達控制自動縮回針對TEM薄樣品的定量算法Apollo XLT SDD 系列探頭將數(shù)據(jù)采集、電子信號處理集成在探頭內，取消了單獨的數(shù)據(jù)采集機箱，簡化了設備安裝。集成的探測器有簡潔的外觀設計，提高了性能，方便了遠程訪問，用戶可以通過以太網(wǎng)線接入，消除了由傳統(tǒng)電纜長度所導致的信號失真和損失。計算機可設置于探測器之外遠達100米之處而不影響儀器的性能。智能化是TEAM TEM 能譜儀的核心。智能化已經(jīng)植入探測器，為探測器提供最好的保護，防止探測器在有害的條件下工作。當發(fā)現(xiàn)高能電子時，探頭能夠自動縮回至一個安全的位置，而無需用戶人工干預，從而確保了探測器的安全運行。當需要進行維護的時候，通過遠程登錄的能力可實現(xiàn)優(yōu)越的遠程支持。記錄在探測器中的工作歷史記錄也可以遠程訪問，以便進行快速、準確的評估。TEAM 能譜儀具有許多智能功能和現(xiàn)代化的用戶界面，可自動簡化分析并快速獲得結果。不管操作者的技能如何，每次測試均可高效獲得一致且準確的測量結果。TEAM 能譜儀也可以自動確定樣品所含的元素，監(jiān)視計數(shù)率、放大倍率、采集時間以及許多其它用于優(yōu)化系統(tǒng)性能的工作參數(shù)。而交互式審查允許用戶在完成分析之前以獨特的方式預覽結果。結論Apollo XLT SDD 系列探測器完全集成了數(shù)據(jù)采集和電子信號處理設備，采用了TEAM 智能軟件，是 TEM 上最直觀、最易用的分析工具。該系列的無窗口型產品，進一步提升了采集效率和輕元素分析性能。TEAM 智能軟件自動化的工作流程，革命性地改變了能譜儀的分析方式。無論使用者的技能水平如何，TEAM 每次都能提供卓越的測試結果。Apollo XLT SDD 系列探測器結合TEAM 智能軟件，為用戶提供了最先進的TEM能譜儀系統(tǒng)。

品牌： 美國EDAX 型號： Pegasus 產地：美國 供應商：EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司

集成了EDAX技術領先的EDS系統(tǒng)和EBSD系統(tǒng)，可同時表征材料的化學成分和晶體結構，可同步收集EDS數(shù)據(jù)和EBSD數(shù)據(jù)，進行準確的單相和多相分析，解決了單個技術不能研究的問題。更多信息請訪問www.edax.com.cn

品牌： 美國EDAX 型號： Apollo XLT 產地：美國 供應商：EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司

配Apollo XLT硅漂移(SDD)探測器系列的TEAMTM 能譜(EDS)分析系統(tǒng)為透射電鏡(TEM)應用提供了終極的分析方案。該系列探測器包括超薄窗口(SUTW) Apollo XLT及無窗口Apollo XLTW兩種型號。 Apollo XLT SDD系列探測器融合了最新的SDD技術及EDAX下一代高效電子系統(tǒng)，提供了卓越的性能。系統(tǒng)的電子部件內置于探測器，取消了單獨的電子盒，減小了系統(tǒng)占用空間，提高了靈活性和方便性。所有通訊均通過以太網(wǎng)，高速方便，并增強了故障排查能力。主要特點● 超薄窗口(SUTW)和無窗口兩個版本為用戶提供超群的輕元素性能。● 信號處理卡內置于探測器，方便遠程訪問、安裝、維護和校準?！?直觀易用的TEAM軟件● 無論用戶經(jīng)驗如何，智能功能(Smart Features)可確保一致的數(shù)據(jù)采集、分析及報告● 探測器完全自動伸縮，確保操作安全產品規(guī)格● 優(yōu)化固體角的30mm2 SDD芯片技術● SUTW和無窗口探測器，超群的輕元素性能，對C的典型分辨率優(yōu)于59eV● MnKa分辨率優(yōu)于129ev，依據(jù)ISO15632:201標準● 分辨率穩(wěn)定度 1eV，在計數(shù)率高達100kCPS條件下● 峰偏移 1eV，在計數(shù)率高達250kcps下● 可選的時間常數(shù)從120nS到7.68uS，以優(yōu)化數(shù)據(jù)采集更多信息請訪問www.edax.com.cn

品牌： 美國EDAX 型號： LEXS, TEXS 產地：美國 供應商：EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司

TEAMTM WDS分析系統(tǒng)具有TEAMTM軟件的直觀易用和波譜儀（WDS）的分析能力，為不同層次的用戶提供了終極的分辨率和痕跡元素分析。TEAMTM WDS的智能功能優(yōu)化探測器設置，自動采集數(shù)據(jù)，并與TEAMTM EDS高度集成，為用戶提供高效準確的結果。易于操作● 3點擊工作流程：從開始、分析到分開重疊峰● 用戶配置可定制參數(shù)和設置● 高級用戶設置的完全訪問和控制智能功能● 智能診斷監(jiān)視顯示探測器參數(shù)，確保最佳的數(shù)據(jù)和最準確的結果● 自動WDS利用TEAMTM EDS的Expert ID創(chuàng)建WDS分析掃描列表，對樣品中元素自動進行峰掃描● 智能聚焦自動程序準確地將SEM載物臺定位于光學焦平面，保證最高射線強度● 智能數(shù)據(jù)管理直觀靈活的數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)使工作有條不紊主要特點● 智能聚焦(Smart Focus)完全自動設置，確保最佳WDS分析條件● 智能功能確保數(shù)據(jù)采集、分析和報告的一致性，不依賴操作者的經(jīng)驗水平● TEAMTM分析系統(tǒng)提供EDS到WDS分析的無縫切換● EDS和WDS數(shù)據(jù)同步采集，提供最大的工作效率和高效的工作流程● 3點擊工作流程，從開始分析到最終報告產品規(guī)格TEAMTM WDS 軟件包● 自動WDS● 智能聚焦● 智能診斷● 智能數(shù)據(jù)管理● 智能定量分析WDS探測器● 兼容LEXS和TEXS譜儀● 緊湊型設計便于安裝在標準EDS端口● 操作范圍: 80eV至2.4KeV（LEXS）和150eV至10keV（TEXS）● 標配5塊分光晶體，適合任何應用更多信息請訪問www.edax.com.cn

品牌： 美國EDAX 型號： Neptune 產地：美國 供應商：EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司

結合了EDS的強大功能及靈活性和WDS的高分辨率、高精確度及檢測極限，提供了更全面的化學分析，拓展了X射線顯微分析能力。更多信息請訪問www.edax.com.cn

品牌： 賽默飛世爾 型號： NS7 產地：美國 供應商：北京儀美信科技有限公司廣州辦事處

儀器簡介：X射線微區(qū)能譜儀利用電鏡電子束和樣品相互作用，激發(fā)出的樣品內元素原子的特征X射線，探測器接收后，通過測量特征X射線的能量，進行樣品化學成分的定性，通過統(tǒng)計信號強度，與標準樣品獲得的曲線擬合，或者與數(shù)據(jù)庫中的虛擬標準樣品曲線進行擬合，從而進行樣品化學成分精確定量。 NS7型x射線微區(qū)分析能譜儀能夠在電鏡圖像中每個像素點都獲得元素的精確成分信息，從而獲得定量面分布信息。 ThermoFisher 能譜儀的制造，可追述到上個世紀60年代，從能譜儀的商品化以來，其軟硬件技術一直處于世界領導地位。 ThermoFisher追求性能卓越和穩(wěn)定可靠，使得NS系列能譜儀，在不同的時代均處于市場的核心地位，為真正的材料科學家們所信賴。技術參數(shù)：一、探測器有兩種晶體類型可選 1、SDD硅漂移晶體 半導體電制冷探測器 晶體面積 10mm2,30mm2, 40mm2,50mm2, 可選擇 分析元素范圍：Be4 - U92 能量分辨率優(yōu)于 Mn Ka: 132eV for SEM （安裝現(xiàn)場實測值最好可達125ev）， 134eV 138eV for TEM 20000：1 峰背比 輕元素探測靈敏度高 探測器可長期保持優(yōu)秀的分辨率，體現(xiàn)Thermofisher作為能譜制造領導者的長期可靠性。 隨時可以開關，開機10分鐘內即可使用，具有探測器安全保護程序。 適配各種型號的掃描電鏡和透射電鏡 2、Si（Li）晶體（鋰漂移）液氮制冷探測器。 晶體面積：10mm2,30mm2, 40mm2,50mm2, 可選擇 分析元素范圍：Be4 - Fm100 能量分辨率優(yōu)于Mn Ka: 132eV for SEM （安裝現(xiàn)場實測值最好可達125ev）， 134eV 138eV for TEM 20000：1 峰背比 良好的輕元素探測靈敏度，對高能量X射線探測效率優(yōu)于SDD晶體探測器。避免譜峰過分重疊造成的靈敏度下降。 探測器可長期保持優(yōu)秀的分辨率，體現(xiàn)Thermofisher作為能譜制造領導者的長期可靠性。 隨時可以開關，開機10分鐘內即可使用，具有探測器安全保護程序。 適配各種型號的掃描電鏡和透射電鏡 二、軟硬件系統(tǒng) 高集成度，高穩(wěn)定性的系統(tǒng) 全新的高速數(shù)字脈沖處理器，每秒可處理超過1000,000個計數(shù) 能譜儀功能自動化 便捷、靈活的分析軟件，易于掌握 高速的全譜圖像技術，一次收集，無需二次采集 獨具專利的化合物成分提取軟件 Windows XP 操作系統(tǒng)平臺 100% Thermo 硬件和軟件 項目文件夾管理模式，便于數(shù)據(jù)管理主要特點：Thermo Scientific NORAN系統(tǒng)7能譜分析系統(tǒng)為現(xiàn)代電子顯微學實驗室提供了終極的微區(qū)分析手段：高靈敏度的X-射線探測器，高通量的全數(shù)字脈沖處理器和數(shù)字圖像，豐富、強大的軟件功能。這使得NORAN系統(tǒng)7能在分秒之間即提供準確的結果，將使你樂于你的試驗工作。 應用基準數(shù)據(jù)庫識別和譜峰去卷積技術，可以快速、準確地將譜峰自動識別 全譜圖像徹底改變了X-射線面分布。對圖像的每個像素點都要采集一個譜圖，然后進行X-射線面分布，線掃描以及高級的自動分析。輕輕一點，NORAN系統(tǒng)7就可以對全譜圖像的數(shù)據(jù)進行任意數(shù)量的元素面分布，和定量的元素面分布，任意路徑的線掃描，任意區(qū)域的能譜分析，而不需要重復采集或改變采集參數(shù)。一旦采集了全譜圖像數(shù)據(jù)，可以選擇在能譜儀上或者其他的計算機上離線分析數(shù)據(jù)，得出所需要的分析報告。

品牌： 深圳華唯計量 型號： Ux-210 產地：深圳 供應商：深圳市華唯計量技術開發(fā)有限公司

Ux-210是一款非真空條件下，采用高精度、高分辨率的探測器，根據(jù)測試材料自動選擇濾光片，采用適合激發(fā)全元素的Mo靶材，搭載華唯FlexFP無標樣定量計算方法，利用X射線熒光原理，測試樣品無損，快速檢測合金額材料中元素成分的光譜儀。 Ux-210采用通用的一條工作曲線，就可以滿足測試常規(guī)金屬材料（鐵材、銅材、鋁合金、鋅合金）元素材料分析，判定材料性質特性，是質量部門和品質部材料檢驗的最佳選擇。

品牌： 深圳華唯計量 型號： UX-2500MA 產地：深圳 供應商：深圳市華唯計量技術開發(fā)有限公司

全天候PM2.5大氣重金屬在線分析儀是華唯公司經(jīng)過多年研發(fā)，采用國內華唯獨有的二次靶技術，利用X射線熒光原理和過濾溥膜收集PM2.5顆粒技術，搭載華唯獨創(chuàng)的VisualFP基本參數(shù)法分析軟件，快速準確檢測大氣PM2.5顆粒中微量重金屬含量。

品牌： 日立 型號： X-Strata920 產地：日本 供應商：深圳市譜賽斯科技有限公司

1、市場占有率百分之八十 2、售后服務與技術支持更加完善全面 3、穩(wěn)定性好，精準度高 4、操作簡單，輻射低安全系數(shù)高。

品牌： 北京馳奔 型號： Ns7 產地：美國 供應商：北京馳奔儀器有限公司

Thermo Scientific asterisk; NORAN System 7 第七代 X 射線能譜儀能夠使分析人員在最短時間內獲得可靠的分析結果。僅需按下按鈕，打印報告。所有過程自動完成。Thermo Scientific NORAN System 7 為現(xiàn)代電子顯微鏡實驗室提供最高的微區(qū)分析能力：可提供最高靈敏度的 X 射線探測器、最高通量的脈沖處理器和數(shù)字成像技術以及最先進的軟件包。擁用這些功能的NORAN System 7 能譜儀在短短數(shù)秒內即可產生準確的分析結果。能譜分析利用基于規(guī)則的識別和峰形去卷積方法，快速準確識別元素峰SpectraCheck 技術可利用譜圖模擬和比較規(guī)則提供重疊譜峰和表示擬和優(yōu)度的卡方值，通過目測和統(tǒng)計方式確認元素的存在元素峰參考提供通過典型 EDS 系統(tǒng)采集得到的完整能譜峰形集這些峰形的強度會自動校正以匹配顯微鏡檢測器無需定期根據(jù)標準來校正系統(tǒng)采用 PROZA Phi-Rho-Z 基體校正算法“一鍵式”模式集成電子成像和 X 射線分析只需單擊鼠標即可對所選感興趣區(qū)域進行元素識別和定量分析利用點、矩形、圓、多邊形或使用魔術棒工具確定樣品區(qū)域利用魔術棒工具可輕松選取復雜區(qū)域，無需手動繪制邊框只需點擊一次即可基于灰度值自動作出選擇瞬時分析所選區(qū)域或選擇多區(qū)域進行同時分析根據(jù)所選設置進行處理能夠提供所需能譜結果--具有完整標準的定性分析到定量分析全譜元素圖像采集每一點處的能譜圖--對成像、X 射線面分布、線掃描和高級自動化分析非常有用NORAN System 7 能夠采集可進行重復分析的數(shù)據(jù)，無需重新采集或更改采集參數(shù)--只需點擊一次即可在顯微鏡本地分析采集數(shù)據(jù)，或將數(shù)據(jù)離線復制至另一臺計算機制作報告自動提取分析軟件允許實驗室中的所有人員執(zhí)行相同的分析并獲得一致的結果采用功能強大的多變量統(tǒng)計算法，由 Paul Kotula 等人創(chuàng)建并由 Sandia國家實驗室授權采用高級算法，在數(shù)據(jù)仍被采集時Direct-to-Phase軟件能夠提取并顯示已知相允許 EDS 系統(tǒng)決定合適采集到足夠的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，或可視化正在建立的數(shù)據(jù)Direct-to-Phase軟件同時進行數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)采集 - 實時相分析速度不僅在分布圖和譜圖中顯示元素數(shù)據(jù)，還能生成信息豐富的樣品組成圖--生成完整數(shù)據(jù)的速度比當前X 射線微區(qū)分析技術快10倍

品牌： 美國EDAX 型號： Trident 產地：美國 供應商：EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司

融合了最新的EDS、EBSD和WDS技術，是終極的材料表征工具，可以解決以前不能解決的問題。這種優(yōu)化配置不僅可以提供各自表征技術的最佳性能，而且提供了綜合表征能力，提供了全面的材料洞察力。更多信息請訪問www.edax.com.cn

品牌： 北京泰坤 型號： TK-360型 產地： 供應商：北京泰坤工業(yè)設備有限公司

X射線應力測定儀一、儀器用途: 本儀器依據(jù)中華人民共和國標準 GB7704--2008《X射線應力測定方法》，能夠在短時間內無損地測定材料表面指定點、指定方向的殘余應力（用“ + ”、“ － ”號分別表示拉、壓應力）, 并具備測定主應力大小和方向的功能。在構件承載的情況下測得的是殘余應力與載荷應力之代數(shù)和,即實際存在的應力。適用于各種金屬材料經(jīng)過各種工藝過程（如鑄造、鍛壓、焊接、磨削、車削、噴丸、熱處理及各種表面熱處理）制成的構件。本系統(tǒng)因功能齊全而適于實驗室的試驗研究工作，又因輕便靈活而適于現(xiàn)場測量。 各種機械構件在制造時往往會產生殘余應力。在制造過程中,適當?shù)臍堄鄳赡艹蔀榱慵娀囊蛩?不適當?shù)臍堄鄳t可能導致變形和開裂等工藝缺陷; 在加工以后,殘余應力將影響構件的靜載強度、疲勞強度、抗應力腐蝕能力及形狀尺寸的穩(wěn)定性。 一個構件殘余應力狀態(tài)如何，是設計者、制造者和使用者共同關心的問題。無損地測定殘余應力是改進強度設計，提高工藝效果，檢驗產品質量和進行設備安全分析的必要手段。 為了說明殘余應力測試技術的應用場合，于此列舉如下事例： 在現(xiàn)代機械工程中，由于焊接技術的進展，使許多巨大金屬機構的制造成為可能，但隨之而來的問題就包括如何測定并進而控制其殘余應力的大小和分布。這是一個絕對不可掉以輕心的問題，它關系到工程的質量、壽命和安全。實際上，對于諸如球罐、塔器、軋輥、鐵路、橋梁船舶、海上石油平臺、水利水電工程中的大閘門和壓力鋼管等等大型構船舶、海上石油平臺、水利水電工程中的大閘門和壓力鋼管等等大型構件，以及航空、航天、核工業(yè)的有關設備，各有關部門都已把測定和控制殘余應力的問題提到重要議事日程上來。 為了消除對構件帶來不良影響的殘余應力，傳統(tǒng)的熱時效方法還在普遍采用，而后來興起的振動時效技術也正逐步形成推廣應用的熱潮。顯然，檢測構件時效前后，特別是振動時效前后各部位殘余應力的變化，對于確定和正確掌握時效工藝是十分必要的。 為了提高某些零件的疲癆強度，材料強度專家們提出采用噴丸、滾壓、表面熱處理以及表面化學熱處理等辦法。就其強化機理而言，這里就包括 一個至關重要的因素──殘余壓應力的作用。因此，無損地測定零件表面殘余應力對于確定和正確掌握強化工藝也是十分必要的。 近年來在軸承、軋輥、齒輪、彈簧等等行業(yè)已經(jīng)把殘余應力和殘余奧氏體含量測定當作必檢項目，用以控制產品質量。 機械設備的失效分析表明，應力腐蝕是導致零部件損傷和斷裂事故的主要原因之一。其中，因焊接或其它工藝產生的殘余拉應力所引起的事故占大多數(shù)。因此對于在腐蝕介質中工作的構件，殘余應力是正或是負，以及絕對值的大小肯定是不容忽視的參數(shù)。 許多零件經(jīng)過淬火、回火、磨削之后發(fā)現(xiàn)了裂紋。為了判定裂紋產生的主要原因，就必須分別研究熱處理應力和磨削應力。 為了保證零部件形狀尺寸的準確性和穩(wěn)定性，也必須重視它的殘余應力現(xiàn)狀和變化趨勢。凡要求精密之處，測定關鍵零部件的殘余應力顯然是非常重要的。 在各種無損測定殘余應力的方法之中，X射線衍射法被公認為最可靠和最實用的。它原理成熟，方法完善，經(jīng)歷了七十余年的進程，在國內外廣泛應用于機械工程和材料科學，取得了卓著成果。 X-射線應力測定儀是一種簡化和實用化的X射線衍射裝置，因而它還有一項重要的功能──測定鋼中殘余奧氏體含量。由于它適用于各種實體工件，而且能夠針對同一點以不同的φ角、Ψ角進行測試,以探測織構的影響，這項功能便具備了重要而獨特的用途。 采用TK-360-A型測角儀可以測定各種實體工件的織構。二、測量原理: X射線應力測定儀測量原理基于X射線衍射理論。 當一束具有一定波長λ的X射線照射到多晶體上時，會在一定的角度2θ上接收到反射的X射線強度極大值（即所謂衍射峰），這便是X射線衍射現(xiàn)象（如左圖所示）。X射線的波長λ、衍射晶面間距d和衍射角2θ之間遵從著名的布拉格定律： 2d Sinθ＝n λ （n＝1，2，3……） 在已知X射線波長λ的條件下，布拉格定律把宏觀上可以測量的衍射角2θ與微觀的晶面間距d建立起確定的關系。當材料中有應力σ存在時，其晶面間距d必然隨晶面與應力相對取向的不同而有所變化，按照布拉格定律，衍射角2θ也 會相應改變。因此我們有可能通過測量衍射角2θ隨晶面取向不同而發(fā)生的變化來求得應力σ。 關于X射線應力測量原理還可以作如下進一步的解釋： 眾所周知，對于晶粒不粗大、無織構的多晶材料來說，在一束X光照射范圍內便有許許多多個晶粒， 其中必有許多晶粒，其指定的（h k l）晶面平行于試樣表面，晶面法線與表面法線夾角ψ為0；也必有許多晶粒，其（h k l）晶面法線與表面法線成任意的ψ。首先，如圖A所示，以試樣表面某點(o點)法線為軸，將一束適當波長的X光和探測器（計數(shù)管）對稱地指向該點O，并同步地相向掃描改變入射角和反射角。根據(jù)布拉格定律，可以找到平行于試樣表面的（h k l）晶面的衍射峰和對應的衍射角2θ 。這個由X光束和計數(shù)管軸線組成的平面稱作掃描平面，衍射晶面的法線必在掃描平面內，并居于X光束和計數(shù)管軸線二者角平分線的位置上。讓我們記住，此時掃描平面與試樣表面垂直，衍射晶面與試樣表面平行，ψ＝0（如圖B）。然后，掃描平面以圖A中直線OY為軸轉過一個ψ角（如圖C），同樣也可以得到（h k l）晶面的衍射峰和對應的衍射角2θ ，這時，衍射晶面法線與試樣表面法線夾角為ψ（如圖D)。 圖A 圖 B 圖 C 圖 D 在無應力狀態(tài)下，對于同一族晶面（h k l）來說，無論它居何方位，即無論ψ角等于何值，晶面間距d均相等；根據(jù)布拉格定律，相應的衍射角2θ也應相等。當有應力存在時，譬如沿圖中OX方向存在拉應力，則平行于表面（即ψ＝0）的（h k l）晶面，其間距d會因泊松比的關系而縮小（見圖B）；隨著ψ角的增大，晶面間距d會因拉應力的作用而增大（見圖D）。于是相應的衍射角2θ也將隨之改變──按照布拉格定律，d 變小，則2θ變大；d 變大，則2θ變小。顯然2θ隨ψ角變化的急緩程度與應力σ大小密切相關。對于各向同性的多晶材料，在平面應力狀況下，依據(jù)布拉格定律和彈性理論可以導出，應力值σ正比于2θ隨Sin ψ變化的斜率M，即σ＝KM ????2θ M＝ ??Sin2 ψ式中K為應力常數(shù)， E π K = Ctgθ0 ? 2（1+μ） 180式中E為楊氏模量，μ為泊松比，θ0為無應力狀態(tài)的布拉格角。對于指定材料，K值可以從資料中查出或通過實驗求出。這樣，測定應力的實質問題就變成了選定若干ψ角測定對應的衍射角2θ。 X-350A X射線應力測定儀可以自動完成測量并給出最終結果和某些有價值的物理參數(shù)。X射線應力測定儀三、儀器結構： 本儀器主機由以下五部分組成：PC微機、主控箱、高壓電源箱、測角儀及臺式支架、PC 微機的最低配置應能支持Windows7/xp。 主控箱內有高壓電源控制系統(tǒng)、接口線路和單片機系統(tǒng)、步進電機驅動器、計數(shù)放大器，以及1500V、24V、5V電源。 高壓電源箱輸出15kV～30kV電壓，通過高壓電攬供給測角儀上的 X 射線管。測角儀是測量執(zhí)行機構。儀器的核心部件 X 射線管和 X 射線探測器就裝在測角儀上。本儀器的測角儀為θ-θ掃描Ψ測角儀。這是本研究所的專利技術。 X 射線管和 X 射線探測器同步等量相背掃描，二者各前進一個 θ，則衍射角改變 2θ，故名θ-θ掃描。在整個掃描過程中，衍射晶面法線保持不動，準確體現(xiàn)固定Ψ法的幾何要求。 將上述θ-θ掃描平面設置在與Ψ平面相垂直的位置上，衍射晶面法線含于θ-θ掃描平面之中，且處在與試樣表面垂直的平面里。這樣，可以直觀地看出，當θ-θ掃描平面沿著Ψ導軌轉動時，該平面與試樣表面之夾角就是Ψ角衍射晶面與試樣表面法線之夾角。這正是側傾法的幾何布置。所謂Ψ 測角儀，其實質即在于此。 測角儀上采用了圓弧滾動導軌、諧波齒輪等先進機械元件，運動精密而流暢。 臺式支架用于支承測角儀。它包含 X、Y、Z 三個平移機構，均采用直線滾動導軌。底座和加長腳上裝有螺栓支腳。調整螺栓支腳可以保證測角儀的主軸線與測試點法線重合。調整 Z 向平移機構可以校準測角儀至測試點的距離。調整 X、Y 平移機構則是為了對準選定的測試點，便于連續(xù)測定應力在工件表面各點的分布。螺栓支腳下端的球頭用于連接電控永磁吸盤。立柱可以旋轉360°，在采用了吸盤之后，旋轉立柱可以擴大測試范圍。四、功能特點： X射線應力測定方法分為同傾法和側傾法, 側傾法比同傾法具有無可比擬的優(yōu)越性；從另一角度分類又分為固定ψ0法和固定ψ法，后者又因原理準確實用效果好而優(yōu)于前者。更具魅力的是將此二優(yōu)結合起來，即在側傾的條件下實施固定ψ法便會產生喜人的新特點──吸收因子恒等于1。這就是說，不論衍射峰是否漫散，它的背底都不會傾斜，峰形基本對稱，而且在無織構的情況下峰形及強度不隨ψ角的改變而變化（如圖所示）。顯然這個特點對提高測量精度是十分有利的。所以行家們的共識：側傾固定ψ法是最理想的測量方法 。然而，除了國產X-350A型以外，迄今國內外尚無以側傾固定ψ法為主的應力測定儀。在X射線應力測定領域里普遍采用的都是同傾固定ψ 0法。對于使用多功能儀器者來說，雖然在必要時可以實現(xiàn)固定ψ法和側傾法，但是由于儀器機構和功能的限制，總會伴隨諸多困難和麻煩，更難應用于現(xiàn)場測量。新型 X-350A X射線應力測定儀當年便是在這種情況下應運而生的。本儀器以其獨創(chuàng)性和先進性獲得國家專利(ZL 專利號：98244375.7)。我公司具有θ-θ掃描Ψ測角儀的完全獨立的知識產權。其功能特點如下： １、本儀器的測角儀以其獨特的構思和巧妙的設計，使得在2θ平面上的X光管和探測器同時等速相對而行,嚴格滿足固定ψ法的幾何要素；另外，又使2θ平面與ψ平面相互獨立。這樣便保證了本系統(tǒng)以側傾固定ψ法為主，實現(xiàn)理想的測量方法；同時保持結構簡潔靈活輕便的特點。2θ掃描范圍：120°～170°，在側傾法的條件下，測定應力既可利用高衍射角又可利用較低衍射角.這樣,除適用于鐵素體型鋼和鑄鐵材料之外，還為奧氏體不銹鋼、鋁合金、鈦合金、銅合金以及高溫合金、硬質合金等材料的應力測定帶來方便并可提高測量精度。側傾固定Ψ法另一特點是對于各種形狀的零部件有更好的適應性，特別是對于齒輪的齒根部位。 ２、本儀器θ-θ掃描Ψ測角儀的衍射幾何 為聚焦法。如圖所示。在 X 射線管和 X 射線探測器以θ-θ方式沿測角儀圓掃描過程中，X 光源點、試樣上被照射點和探測器接受點，三者隨時同處在一個聚焦圓上，當然，隨著掃描過程，聚焦圓的大小是逐步變化的。 ３、測定殘余奧氏體含量更為便當。本儀器2θ掃描范圍120°～170°， 一次掃描可以得到αFe(211) 、γFe(220)兩個完整的衍射峰，無需另外安裝延長掃描范圍的附件，測試更加方便、快捷、準確。而且可以針對同一測試點取不同的Φ角、角進行測定，以便探測織構的影響。必要時，可以做到殘奧含量和殘余應力同時測定，亦即一次測量得到殘奧含量和殘余應力兩項數(shù)據(jù)。這些都是本儀器獨有的功能，對于各種實體工件具有極其可貴的實用價值。 ４、支架與測角儀之間可以裝備針對同一測試點轉Φ角的連接機構，這樣即可測定主應力的大小及其方向，測定剪切應力。 ５、應用PC微電腦，Windows 環(huán)境操作，界面友好，使用方便。提供側傾、同傾固定ψ法、擺動法應力測定以主應力計算、殘奧測定等專用軟件，豐富而實用。自動生成專業(yè)而翔實的實驗報告；根據(jù)用戶要求，還可以生成英文版實驗報告。 ６、引入交相關法進行數(shù)據(jù)處理,顯著提高定峰和應力測量精度。 ７、為X光管配置高壓開關電源，最大功率30KV×10mA，穩(wěn)定度優(yōu)于0.1% 。 ８、采用微型激光器校準測試點的位置與方向。應力測定儀五、主要技術參數(shù):★測量方法：側傾固定ψ法，擺動法，殘奧測定，織構測定。 定峰方法：交相關法，半高寬法，拋物線法，重心法。 儀器精度：采用還原鐵粉作為標準試樣。 使用Cr靶Kα輻射，鐵粉（211）晶面，衍射角2θ測定誤差在±0.015°以內；鐵粉應力測量值應穩(wěn)定達到在±10MPa以內?！餃y角儀型式：θ-θ掃描ψ測角儀★２θ掃描范圍：120°～170°； ２θ掃描最小步距：0.01°２θ掃描每步計數(shù)時間：0.1S～20Sψ角范圍：0°～ 65°ψ角擺動角度：0°～±6° X射線管電壓：15～30kV,連續(xù)可調X射線管電流：3～10mA,連續(xù)可調X射線管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶為常備，其余供選購。 衍射幾何：聚焦法 準直管直徑：提供產生直徑分別為?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的準直管。 測角儀重量：10 kg最簡裝置總重量：45 kg供電要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

品牌： 牛津儀器 型號： INCA X-MAX 產地：英國 供應商：怡星有限公司STARJOY LIMITED

牛津儀器獨特的外部PentaFET技術和圓型SDD晶體的結合，第一款適合定量分析的分析型電制冷能譜.分辨率高，體積小巧,性能穩(wěn)定,分析速度是液氮制冷能譜的10倍。且無需風扇及循環(huán)水制冷，無需添加液氮。 超大面積能譜探頭有效面積為20mm2，同等條件下，信號的強度為傳統(tǒng)的10mm2的2倍，進一步顯示了SDD的速度優(yōu)勢。同等的計數(shù)率時，需要的電鏡束流為10mm2的1/2,大大提高了能譜的空間分辨率，對于微區(qū)的分析非常有利 技術參數(shù) 窗口，20mm2大面積活區(qū)； 在MnKα處的分辨率:優(yōu)于129eV (計數(shù)率1,000-100,000cps)； 穩(wěn)定性: 1,000cps100,000cps 譜峰漂移 1eV，分辨率變化 1eV，48小時內譜峰漂移 1eV (Mn Ka) 峰背比20,000: 1 (Fe 55, Mn Ka) 分析元素范圍：Be4-Pu94 圓形SDD晶體 高性能，低噪聲，獨立封裝FET場效應管 兩級電子制冷 不用時無需通電，即熱循環(huán)設計 專利的探測器自動優(yōu)化功能，確保輕元素性能長期優(yōu)良； 專利的X-sight電荷復位技術；

品牌： 德國布魯克 型號： 布魯克XSense WDS 波譜儀 產地：德國 供應商：布魯克（北京）科技有限公司

配備 XSense 光譜儀的全新 QUANTAX WDS系統(tǒng)可實現(xiàn)高分辨率 X 射線顯微分析。在低能量范圍內提供最高靈敏度自對準光學器件保證最佳測量條件通過壓控正比計數(shù)器實現(xiàn)可靠采集設置簡單且測量啟動快速可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一軟件中敢為人先！QUANTAX WDS具有結構緊湊的譜儀設計。采用最新探測器技術的高精度儀器，擁有難以匹敵的優(yōu)勢：精密的自動光學中心定位系統(tǒng)正比計數(shù)器配備獨特的氣體流量和壓強控制系統(tǒng)無畸變非磁性光學裝置完全馬達驅動的高級運動機構與EDS無縫集成的軟件系統(tǒng) 本系統(tǒng)具有許多基于人性化設計的自動化特征使得XSense易于操作從而將用戶從單調且耗時的儀器調節(jié)工作中解放出來：無需人工干預自動實現(xiàn)完美的光學中心對準自動選擇合適的分析晶體正比計數(shù)器氣體流量和探測器設置

品牌： 賽默飛世爾 型號： MagnaRay 產地：美國 供應商：北京儀美信科技有限公司廣州辦事處

儀器簡介：MagnaRay卓越性能： 智能型專家分析、采集自動控制，無需用戶為分析參數(shù)費神！ 實現(xiàn)5KV, 束斑 10nm的納米材料痕量元素應用分析！ 低電壓、低束流條件分析，有效降低樣品損傷！ 獨有的輕元素窗口密封的氙氣計數(shù)器，提高低能量的探測率！ 獨特的混合光學設計，高、低能段具有相同的靈敏度！ 與能譜軟件無縫整合，波譜/能譜一體化分析！技術參數(shù)：MagnaRay卓越性能： 智能型專家分析、采集自動控制，無需用戶為分析參數(shù)費神！ 實現(xiàn)5KV, 束斑 10nm的納米材料痕量元素應用分析！ 低電壓、低束流條件分析，有效降低樣品損傷！ 獨有的輕元素窗口密封的氙氣計數(shù)器，提高低能量的探測率！ 獨特的混合光學設計，高、低能段具有相同的靈敏度！ 與能譜軟件無縫整合，波譜/能譜一體化分析！主要特點：MAXray 的掃描范圍為 90 eV 至 10 keV 可以在場發(fā)射掃描電鏡上使用 為了達到最佳聚焦，所有的衍射晶體都是平面的，不會因像差而降低信號強度 由于 MAXray使X射線轉變?yōu)槠叫泄馐? 它和樣品與衍射晶體之間的距離無關，因為沒有距離L1，所以也不會降低強度 MAXray對輕元素的靈敏度又比傳統(tǒng)的 WDS高數(shù)十倍以上

品牌： 江蘇天瑞 型號： EDX1800B 產地：蘇州 供應商：江蘇天瑞儀器股份有限公司

國內第一家研發(fā)生產rohs檢測儀的廠家，也是國內唯一一家上市的rohs檢測儀生產廠家，專業(yè)檢測環(huán)保rohs指令，rohs六項鹵素分析一體機，同時可以拓展檢測鍍層厚度，合金成分等全元素分析儀器

品牌： 江蘇天瑞 型號： EDX1800B 產地：蘇州 供應商：江蘇天瑞儀器股份有限公司

采用世界上最好的SDD硅漂移探測器，分辨率為最低可達到139ev，能更好的檢測鹵素（氯、溴）等非金屬元素。

品牌： 江蘇天瑞 型號： EDX1800E 產地：蘇州 供應商：江蘇天瑞儀器股份有限公司

江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)生產的新一代環(huán)保rohs鹵素分析儀，應用世界最先進的SDD探測器，配備大功率X光管，測試精度更高，穩(wěn)定性更好，一鍵操作，無損檢測，測試速度快是企業(yè)工廠應對環(huán)保rohs指令管控，對產品和原材料進行管控的最佳選擇。

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