近日來,世界第一強國向一家企業(yè)宣戰(zhàn),這事或許可擔當一句“前無古人后無來者”;華為、中國的半導體產(chǎn)業(yè)也就此成為世界矚目的焦點。通常,這是一場勝負毫無懸念的戰(zhàn)斗。任正非認為,雖然有一定影響,但是華為有能力繼續(xù)為客戶服務;同時,會刺激中國系統(tǒng)性地、踏踏實實地發(fā)展電子工業(yè)??梢钥吹?,德國芯片廠商英飛凌等類似企業(yè)堅持為華為供貨;可以看到,A股華為海思概念股全線大漲;可以看到,2019世界半導體大會期間發(fā)布的《2019年中國第三代半導體材料產(chǎn)業(yè)演進及投資價值研究》白皮書指出,預計未來三年中國第三代半導體材料市場規(guī)模仍將保持20%以上的平均增長速度。過去,在全世界的封鎖下,中國的兩彈一星取得了巨大成功;今天,面對的僅僅是一個美國,看好華為、看好中國半導體產(chǎn)業(yè),成為了更多人最終的選擇,中國的半導體產(chǎn)業(yè)也將迎來新的發(fā)展機遇。
半導體產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)可以簡單地分為電路設計、半導體制造、封裝測試環(huán)節(jié)。中信建投武超則團隊梳理出華為上游160家核心供應商;國盛電子梳理出了華為國產(chǎn)供應鏈“備胎”名單及基本情況。5月20日上午,A股華為海思概念股全線大漲,誠邁科技、興森科技、華天科技、宏達電子、泰晶科技、三川智慧等個股集體一字漲停,通富微電、長電科技等大漲。華為供應鏈成為券商關注的重點,多家券商發(fā)布研報;國盛電子團隊發(fā)布報告表示:嚴酷的環(huán)境將造就出更強大的華為和國產(chǎn)鏈。
華為國產(chǎn)供應鏈“備胎”名單
1、CPU\GPU\ADDA\存儲\射頻器件
CPU\GPU\ADDA海思已經(jīng)進行多年研發(fā)、產(chǎn)品逐步落地自強;GPU:景嘉微;
2、存儲
用量最大,百億美金采購級別、預計三年后翻倍,目前主流存儲DRAM扶持合肥長鑫(兆易創(chuàng)新)、NAND扶持長江存儲,利基型存儲兆易創(chuàng)新、ISSI(北京君正擬收購)已經(jīng)切入預計馬上放量;
3、FPGA
紫光同創(chuàng)(紫光國微)、安路信息(士蘭微入股);
4、模擬芯片及傳感器
韋爾股份+豪威科技、圣邦股份、矽立杰;
5、功率半導體
聞泰科技(安世半導體)、士蘭微、揚杰科技;
6、射頻芯片
三安集成(三安光電)、山東天岳;
7、阻容感
順絡電子
8、代工及封測
中芯國際、長電科技、華天科技、通富微電;
9、連接器及天線
立訊精密、意華股份、碩貝德、電連技術;
10、IC載板以及測試板
興森科技
各類儀器設備是半導體產(chǎn)業(yè)的必備工具,半導體制造和封裝測試環(huán)節(jié)需要上百種儀器設備。以一座投資規(guī)模為15億元美金的晶圓廠為例,晶圓廠70%的投資用于購買設備(約10億元美金),設備中的70%是晶圓制造設備,封裝設備和測試設備占比約為15%和10%。91儀器信息網(wǎng)編輯對電子測量儀器之外的儀器類型進行了簡單的梳理(見表1,2)?,F(xiàn)在,華為被美國列入管制“實體名單”;華為現(xiàn)在使用的相關美國產(chǎn)儀器設備是否被涉及?未來,中國的半導體產(chǎn)業(yè)所需的儀器設備,是否也會和美國儀器“脫鉤”?為保障半導體產(chǎn)業(yè)順利運行,試問非美國的儀器企業(yè)能做到嗎?從91儀器信息網(wǎng)2013年開始的“國產(chǎn)科學儀器騰飛行動”可以看出,光譜、色譜、天平、硬度計等不少儀器,在國內(nèi)擁有優(yōu)秀的供應商;在電子顯微鏡、熱分析儀器等方面,除了美國之外,也有豐富的儀器供應商??隙ǖ拇鸢钢档闷诖?。
表1 半導體材料分析測試儀器
硅片
原子力顯微鏡、X射線衍射儀、電子衍射法ED(反射高能電子衍射RHEED、低能電子衍射LEED)、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、X射線能量色散譜EDS、顯微激光拉曼光譜儀、角分辨光電子能譜ARPES、電學性能表征、光致發(fā)光PL、電化學工作站、傅里葉變換紅外光譜儀、拉曼光譜儀、離子色譜儀、電子探針分析儀、熱重分析儀、X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、臺階儀、透射光譜(紫外-可見光-近紅外分光光度計、雙光束紫外可見分光光度計)、熒光光譜、掃描探針顯微鏡、特斯拉儀
光刻膠
原子力顯微鏡、紫外光譜儀、紅外光譜儀、核磁共振儀、掃描電鏡、差示掃描量熱儀、熱重分析儀、元素分析儀、液質(zhì)聯(lián)用LC-MS、納米壓痕儀、臺階儀
電子氣體
氣體轉(zhuǎn)子流量計、馬弗爐、氣相色譜、微水測定儀;天平、烘箱、pH計、水浴鍋
超凈高純試劑
氣相色譜、等離子質(zhì)譜ICP-MS、離子交換色譜法;顯微鏡法、庫爾特法、光阻擋法、激光光散射法;發(fā)射光譜法、原子吸收分光光度法、火焰發(fā)射光譜法、石墨爐原子吸收光譜法、等離子發(fā)射光譜法、電感耦合等離子質(zhì)譜法ICP-MS
濺射靶材
金相分析、掃描電鏡、X射線衍射儀、顯微硬度計、ICP-MS、輝光放電質(zhì)譜法GDMS、四探針電阻儀、熱重分析儀、激光粒度儀、數(shù)字源表、臺階測試儀
拋光材料
掃描電鏡、透射電鏡、原子力顯微鏡、俄歇電子能譜儀、納米力學測試儀、X射線光電子能譜儀、摩擦力顯微鏡、掃描探針顯微鏡、粒度分析儀;掃描探針、X射線形貌儀、離子質(zhì)譜儀、衍射分析技術、激光拉曼光譜儀、臺階儀、表面測試儀;三維表面輪廓儀(白光干涉儀)、粗糙度儀、精密測厚儀、金相顯微鏡
引線框架
數(shù)字式微歐計、顯微硬度計、電子拉伸機、金相顯微鏡、透射電鏡、掃描電鏡、能譜分析儀、萬能試驗機
封裝基板
流變儀、熱重分析儀、差示掃描量熱儀、熱機械分析儀、動態(tài)熱機械分析儀、萬能試驗機;X射線衍射儀、掃描電鏡、四探針測試儀、自制膜層結(jié)合強度測試儀
鍵合絲
掃描電鏡、X射線能譜儀EDS、X射線衍射儀、直流雙臂電阻電橋、萬能試驗機、顯微硬度計、金相顯微鏡、鍵合點拉力試驗所用檢測設備
包封材料
同步熱分析儀、X射線衍射儀、紅外光譜儀、透射電鏡、紫外-可見分光光度計、試驗機、元素分析儀、掃描電鏡、能量散射光譜儀SEM-EDS、高溫熱機械分析儀、熒光光度計
芯片粘接材料
原子力顯微鏡、X射線光電子能譜、萬能試驗機、顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、動態(tài)熱機械分析儀、X射線衍射儀、熱重分析儀
表2 半導體前后道量檢測儀器
前道量檢測儀器
薄膜厚度量測(四探針、橢偏儀)、膜應力量測(掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡)、摻雜濃度量測(熱波系統(tǒng)法)、關鍵尺寸(掃描電子顯微鏡)、套準精度(相干探測顯微鏡)、表面缺陷檢測(光學顯微鏡、明暗場檢測、掃描電子顯微鏡)
后道檢測設備
CP(Circuit Probing,電路測試)測試設備:測試臺、探針臺;FT(Final Test,終測)測試設備:測試臺、分選機