手機(jī)：18923899313
TEL ：18923899035
電話：0755-88866589
Q  Q : 145691763
Q  Q : 434413525
地址：深圳市寶安區(qū)福海街道新和社區(qū)福園一路35號(hào)天瑞工業(yè)園B7棟803

賽默飛ICP-MS

很多朋友在糾結(jié)ICP-MS、ICP-AES和AAS這三種儀器該怎么選擇，先輕輕的告訴大家，根據(jù)實(shí)際需求和市場(chǎng)規(guī)格來選擇這是大方向，具體為什么請(qǐng)往下看。

在之前隨著ICP-AES的流行，而使得大部分的檢測(cè)分析家咨詢買一臺(tái)ICP-AES是否值得？還是繼續(xù)使用原來信賴的AAS。但是現(xiàn)在一個(gè)新技術(shù)lCP-MS橫空出世，雖然價(jià)格較高，但是ICP-MS具有ICP-AES的優(yōu)點(diǎn)及比石墨爐原子吸收(GFAAS)更低的檢出限。

相對(duì)于有ICP-AES技術(shù)背景的人來說，ICP-MS是以質(zhì)譜儀作為檢測(cè)器的等離子體(ICP)，而質(zhì)譜學(xué)家則認(rèn)為ICP-MS是以ICP為源的質(zhì)譜儀。事實(shí)上，ICP-AES和ICP-MS的進(jìn)樣部分及等離子體是極其相似的。ICP-AES測(cè)量的是光學(xué)光譜(165～800nm)，ICP-MS 測(cè)量的是離子質(zhì)譜，提供在3～250amu范圍內(nèi)每一個(gè)原子質(zhì)量單位(amu)的信息，因此，ICP-MS除了元素含量測(cè)定外，還可測(cè)量同位素。

一、檢出限

ICP-MS的檢出限，其溶液的檢出限大部份為ppt級(jí)(必需記牢，實(shí)際的檢出限不可能優(yōu)于你實(shí)驗(yàn)室的清潔條件)；

石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級(jí)；

ICP-AES大部份元素的檢出限為1～10ppb；

一些元素在潔凈的試樣中也可得到令人注目的亞ppb級(jí)的檢出限。必須指出，ICP- MS的ppt級(jí)檢出限是針對(duì)溶液中溶解物質(zhì)很少的單純?nèi)芤憾缘?，若涉及固體中濃度的檢出限，由于ICP-MS的耐鹽量較差，ICP-MS檢出限的優(yōu)點(diǎn)會(huì)變差多達(dá)50倍，一些普通的輕元素(如：S、Ca、Fe、K、Se)在ICP-MS中有嚴(yán)重的干擾，也將惡化其檢出限。

賽默飛ICP-AES

二、干擾

1、ICP-MS的干擾

（1）基體效應(yīng)

試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液粘度的差別將改變各個(gè)溶液產(chǎn)生氣溶膠的效率，采用基體匹配法或內(nèi)標(biāo)法可有效地消除。

（2）電離干擾

電離干擾是由于試樣中含有高濃度的第1族和第1I族元素而產(chǎn)生的，采用基體匹配、稀釋試樣、標(biāo)準(zhǔn)加入法、同位素稀釋法、萃取或用色譜分離等措施來解決是有效的。

（3）雙電荷離子干擾

雙電荷離子產(chǎn)生的質(zhì)譜干擾是單電荷離子M／Z的一半，例如138Ba2+對(duì)69Ga+，或208pb2+對(duì)104Ru+。這類干擾是比較少的，而且可以在進(jìn)行分析前將系統(tǒng)至佳化而有效地消除。

（4）空間電荷效應(yīng)

空間電荷效應(yīng)主要發(fā)生在截取錐的后面，在此處的凈電荷密度明顯的偏離了零。高的離子密度導(dǎo)致離子束中的離子之間的相互作用，形成重離子存在時(shí)首先損失掉輕離子，例如，Pb+對(duì)Li3+?；w匹配或仔細(xì)在被測(cè)物質(zhì)的質(zhì)量范圍內(nèi)選用內(nèi)標(biāo)有助于補(bǔ)嘗這個(gè)影響，但這在實(shí)際應(yīng)用是有困難的。同位素稀釋法雖有效．但費(fèi)用高，簡(jiǎn)單而至有效的方法是稀釋樣品。  

（5）質(zhì)譜干擾

ICP-MS中質(zhì)譜的干擾（同量異位素干擾）是預(yù)知的，而且其數(shù)量少于300個(gè)，分辨率為0．8amu的質(zhì)譜儀不能將它們分辨開，例如，58Ni對(duì)58Fe、 40Ar對(duì)40Ca、40Arl60對(duì)56Fe或40Ar-Ar對(duì)80Se的干擾（質(zhì)譜疊加）。元素校正方程式（與ICP-AES中干擾譜線校正相同的原理）可用來進(jìn)行校正，選擇性地選用一些低自然豐度的同位素、采用“冷等離子體炬焰屏蔽技術(shù)”或“碰撞池技術(shù)”可有效地降低干擾影響。

（6）基體酸干擾

必須指出，HCI、HCIO4、H3PO4和H2S04將引起相當(dāng)大的質(zhì)譜干擾。Cl+、P+、S+離子將與其他基體元素Ar+、O+、H+結(jié)合生成多原子，例如，35Cl 40Ar對(duì)75As、35Cl160對(duì)51V的疊加干擾。因此，在ICP-MS的許多分析中避免使用HCl、HClO4、H3PO4和H2SO4是至關(guān)重要的，但這是不可能的?？朔@個(gè)問題的方法有“碰撞池技術(shù)”、在試樣導(dǎo)入ICP之前使用色譜(微栓)分離、電熱蒸發(fā)(ETV)技術(shù)等，另外一個(gè)比較昂貴的選擇是使用高分辯率的扇形磁場(chǎng)的ICP-MS，它具有分辯小于0．01amu的能力，可以清除許多質(zhì)譜的干擾。ICP-MS分析用的試液通常用硝酸來配制。

2、lCP-AES干擾

（1）電離干擾

仔細(xì)選用每個(gè)元素的分析條件或加入電離緩衡劑(如，過量的I族元素)可以減少易電離元素的影響。

（2）基體效應(yīng)

與ICP-MS一樣，ICP-AES可以應(yīng)用內(nèi)標(biāo)來解決例如霧化室效應(yīng)、試樣與標(biāo)準(zhǔn)溶液之間粘度差異所帶來的基體效應(yīng)。

（3）光譜干擾

ICP-AES的光譜干擾其數(shù)量很大而較難解決，有記錄的ICP-AES的光譜譜線有50000多條，而且基體能引起相當(dāng)多的問題。因此，對(duì)某些樣品，例如，鋼鐵、化工產(chǎn)品及巖石的分析必須使用高分辯率的光譜儀。廣泛應(yīng)用于固定通道ICP-AES中的干擾元素校正能得到有限度的成功。ICP-AES中的背景較高，需離線背景校正，應(yīng)用動(dòng)態(tài)背景校正對(duì)增進(jìn)準(zhǔn)確度是很有效的。各種分子粒子(如，OH)的譜峰或譜帶對(duì)某些低含量的被測(cè)元素會(huì)引起一些分析問題，影響其在實(shí)際樣品中檢出限。

在ICP-MS中的背景是相當(dāng)?shù)偷?，典型的是小? C／S(計(jì)數(shù)／秒)，這是ICP-MS具有極好的檢出限的一個(gè)主要理由。

賽默飛AAS

3、GFAAS干擾

（1）光譜干擾

使用氘燈背景校正的GFAAS有少許光譜干擾，但使用Zeeman背景校正的GFAAS能去除這些干擾。

（2）基體效應(yīng)

基體效應(yīng)是被測(cè)物質(zhì)在石墨管上不同的殘留而生成的，它取決于樣品的種類，應(yīng)用基體改性劑和熱注射能十分有效地減少這些影響。

（3）氣相干擾

這是由于被測(cè)物質(zhì)的原子蒸汽進(jìn)入一個(gè)較冷的氣體環(huán)境而形成的?，F(xiàn)在采用等溫石墨管設(shè)計(jì)和平臺(tái)技術(shù)，試樣被原子化后進(jìn)入一個(gè)熱的惰性氣體環(huán)境，可有效減少這種干擾。

（4）背景干擾

在原子化過程中，針對(duì)不同的基體，應(yīng)仔細(xì)設(shè)定灰化步聚的條件以減少背景信號(hào)。采用基體改進(jìn)劑有助于增加可以容許的灰化溫度。在很多GFAAS應(yīng)用中，與氘燈扣背景相比，Zeeman扣背景可得到更好的準(zhǔn)確度。

在了解了這些之后，相信大家在選擇儀器這方面不會(huì)那么的糾結(jié)了。

上一篇：儀器維修保養(yǎng)服務(wù)外包-深圳市瑞盛科技 下一篇：