實(shí)驗室用的材料檢測光學(xué)顯微鏡都配有顯微成像裝置

采用光學(xué)放大是檢驗半導(dǎo)體材料和器件的主要方法之一。
它包括科研金相顯微鏡、低倍立體多功能顯微鏡以及低倍和高倍
三目非立體偏光顯微鏡.

此外，多功能顯微鏡中各種附屬裝置如干涉儀、相襯和干涉襯度也是

很有用的.鑒于大多數(shù)半導(dǎo)體對可見光不透明，

偏振光研究(在礦物研究中廣泛使用)通常只有采用紅外轉(zhuǎn)換器
代替常規(guī)的目鏡時才能進(jìn)行.

為了儲存各種光學(xué)檢驗的結(jié)果，常規(guī)地使用低倍和高倍
拍攝技術(shù).大多數(shù)實(shí)驗室用的金相顯微鏡都配有顯微成像裝置.

若需要更高的放大倍數(shù)，尤其是要同時增加景深時，可使用掃描電子顯微鏡.

由于它們的價格、復(fù)雜性和規(guī)模，妨礙了它們象光學(xué)顯微鏡那樣廣泛地應(yīng)用.

但是，它們被引進(jìn)半導(dǎo)體工業(yè)后，對微電路相互連接系統(tǒng)的了解
已經(jīng)產(chǎn)生了非常大的影響.