7XB大平臺集成電路檢測金相顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發(fā)制造的，配有大移動范圍的載物臺、圖像清晰，襯度好。是針對半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級工業(yè)顯微鏡使用。
性能特點：
超大型載物臺，樣品可以大范圍的快慢速移動，擴大檢測領域的使用范圍；
技術參數(shù)：
1、目鏡筒：雙目鏡
2、目鏡:10X（18）；
3、金相物鏡：
a、放大倍數(shù)：4X、10X、20X、40X；
b、數(shù)值孔徑(N.A):0.10、0.25、0.40、0.65；
c、有效工作距離(mm):17.912、6.544、1.05、0.736；
4、介 質:干；
5、物鏡轉換器：四孔式；
6、總放大倍率:40X-400X；
7、載物臺面積:350mm*255mm，移動范圍200*200mm；
8、粗微動調焦范圍25mm,微調轉動一圈樣品升降0.2mm,格值2um；
9、光源：鹵素燈6V20W，內藏式連續(xù)調光電源；
標準配置：
1、主機：1臺；
2、觀察鏡筒：1只；
3、10目鏡：1對；
4、物鏡：4、10、20、40X各一只；
5、鹵素燈泡：1只；
6、合格證、保修卡、說明書：1套；
選購件：
長距物鏡：50、80、100X；
數(shù)碼適配鏡、數(shù)碼相機；
目鏡：12.5X、10X分劃；