光線覓跡是光學(xué)設(shè)計程式的精髓，雖然像差理論提供許多光學(xué)系統(tǒng)行為之理解，

但正確的光線覓跡數(shù)據(jù)可以讓透鏡設(shè)計者對于其設(shè)計是否可以如預(yù)期的情況提供進一步之確定。

事實上，有時候這個說法并不對，因為光線覓跡數(shù)據(jù)只描述所追蹤的光束，而不是所有的光束，所以結(jié)果可能有誤。

不過，在實用上，光學(xué)設(shè)計幾乎永遠使用光線覓跡來進行，至少最后在最后階段一定有光束覓跡的分析與驗證
。
光線覓跡的複雜性是二重的。一部份包括演算法的發(fā)展，以精確地計算經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)的光束軌跡，

另一部份則包括被追蹤的光束如何去指明(亦即定出其規(guī)格)及如何對結(jié)果數(shù)據(jù)的解釋