共焦激光掃描顯微鏡降低球面像差

 
經(jīng)由極化光子對(duì)共焦激光掃描顯微鏡降低由樣本引入的球面像差

經(jīng)由共焦激光掃描顯微鏡系統(tǒng)掃描一個(gè)樣本的斷層影像時(shí)，

入射光經(jīng)由物鏡聚焦后進(jìn)入樣本，
當(dāng)樣本本身或樣本與周圍液體之間有折射率不一致（refractive-index mismatch）的情況，
不同入射角度的入射光的光程徑（optical path length）均不相同，因此入射光無法完美地會(huì)聚至物鏡的焦點(diǎn)

 光致電流顯微術(shù)應(yīng)用于發(fā)光二極體靜電放電破壞缺陷的檢測(cè)

光致電流顯微術(shù)已經(jīng)廣泛的應(yīng)用在半導(dǎo)體元件及積體電路上。

使用雙光子鈦藍(lán)寶石激光搭配共焦掃描顯微鏡對(duì)InGaN發(fā)光二極體研究。

從直流光致電流影像中可以清楚的辨認(rèn)出受到靜電放電破壞的缺陷