微量塵埃檢查立體顯微鏡-搭配顯微圖像分析

特性：
本儀器是利用偏光鏡的原理觀察到肉眼無法看到的塵?；虿?br>明異物，例如可觀察到安瓶及小玻璃藥瓶內(nèi)的不明物體
，此儀器亦可接立體顯微鏡，以便更清晰觀察。

光 源
鹵素?zé)?00-300W

6.5kg-8kg
立 體 顯 微 鏡—5X及20X

倍率7~45X，200M;鏡筒:雙目式觀察鏡筒，30度傾斜、可360度迴轉(zhuǎn)，
雙目可調(diào)整眼幅與屈光補(bǔ)償;目鏡:廣角目鏡WF10X/21mm；

另有WF15X、WF20X、WF25X供選擇;物鏡:變焦式物鏡0.7-4.5 Zoom，

可作7X-45X無段式觀察;光源:12V /20W 上下鹵素?zé)?，可打穿透光或落射光?/p>

可調(diào)整明暗度;操作平臺:180mm×220mm 操作平臺

線上納米粉體粒徑檢測技術(shù)
納米粉體粒徑的 測模式可分為濕式 測與乾式 測 種。其中，濕式 測主
要是根據(jù)粉體因?yàn)槌叽绲?同，在 測系統(tǒng)中會呈現(xiàn)出 同的特性來加以分析，
以求得粉體粒徑大小，動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)與 心沉 分析法
(Centrifugal Sedimentation Analyzer)等即屬此 ；而乾式 測通常則是以穿透式電子
顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)或原子 顯微鏡
(Atomic Force Microscope, AFM)等直接觀察粉體，將其幾何形貌呈現(xiàn)出來，進(jìn)而推算出其粒徑大
小，現(xiàn)階段中各種電子顯微鏡的 測優(yōu)點(diǎn)可以提供局部區(qū)域納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)尺寸，