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顯微鏡影像測量-微小工件測量影響測量儀

截距法

在顯微鏡影像或照片上用已知長度之線尺完全截過晶粒，并計數(shù)之。
以其截距長度平均值(mm)表示晶粒尺度。
視需要可沿與加工方向平行及垂直3軸向測定。
截距法所測定之值，有時較面積法之測定值小

面積法

面積法是將已知面積的圓或長方形描在相片或毛玻璃上，其面積內(nèi)完全包含之晶粒數(shù)，
與圓或長方形周邊被截過的晶粒數(shù)之一半加總為全晶粒數(shù)。
假設(shè)晶粒為正方形，其晶粒尺度依下列公式表示